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PATRÓN NACIONAL DE LONGITUD CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO

C A L I B R A C I O N I N S T R U M E N T A L E X A C T A L A B O R A T O R I O D E C A L I B R A C I O N A C R E D I T A C I O N D – 6 3 CARTA DE TRAZABILIDAD DIMENSIONAL (INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN). PATRÓN NACIONAL DE LONGITUD CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA

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Presentation Transcript


  1. CALIBRACION INSTRUMENTAL EXACTA LABORATORIO DE CALIBRACION ACREDITACION D–63 CARTA DE TRAZABILIDADDIMENSIONAL (INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN) PATRÓN NACIONALDE LONGITUD CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO PATRÓN NACIONALDE TEMPERATURA CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO PATRÓN NACIONALDE TIEMPO Y FRECUENCIA CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO SEPRI LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-39 MITUTOYO LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-45 CIE LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-63 kglm METROLOGÍA LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: T–86 H-14 CIO LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-85 BLOQUES PATRÓN INF: 110107 VENCE: DIC-12 INC: ± 0,08; 0,15 µm REGLA DE CRISTAL INF: 112001 VENCE: OCT-13 INC:± 2,0 µm INF: 112216 VENCE: DIC-13 INC: ± 3,5 µm MAQUINA DE MEDICIÓN POR COORDENADAS INF: 100445 - 100446 VENCE: DIC-12 INC: ± 3,26 µm PARALELAS ÓPTICAS INF: CIO-IC-563/2009 VENCE: PERMANENTE INC: ± 0,02 µm ACCESORIOS BLOQUES PATRÓN INF: 110357 VENCE: JUN-13 INC: ± (0,08+0,0011L) µm INF: 110568 - 110569 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,08+0,0011L) µm ANILLOS PATRÓN LISOS INF: 101731 VENCE: JUL-12 INC: ±(0,2+0,0025L) µm INF: 112463 – 112488 VENCE: OCT-13 INC: ± (0,2+0,0025L) µm 122750 - 112758 VENCE: OCT-13 INC: ± (0,2+0,0025L) µm INF:111973 - 111975 VENCE: AGT-13 INC: ±(0,2+0,0025L) µm MAESTRO DE LONGITUD FIJA INF: 112819 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,3+0,005L)µm COMPARADOR ÓPTICO INF: 110953 - 110954 VENCE: ABR-12 INC: ± (0,9+0,016L)µm ± 2,78´ ± 0,054 % ESCUADRA INF: 100395 VENCE: OCT-12 INC: ± (3,0+0,008L) µm BLOQUES PATRÓN INF: 110956 - 110957 VENCE: ABR-13 INC: ± 0,15 µm INF: 112820 VENCE: NOV-13 INC: ± 0,05 µm INF: 112821 - 112822 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,05+0,0009L)µm INF: 112571 VENCE: OCT-13 INC: ±(0,05+0,0009)µm INF: 110600 VENCE: FEB-13 INC: ± 0,15 µm INF: 113527 VENCE: ENE-14 INC: ± (0,05+0,0009L) µm INF: 11946 - 11948 VENCE: AGT-13 INC: ± 0,04 µm INF: 120521 - 120523 VENCE: ABR-14 INC: ± 0,04 µm MESA DE SENOS INF: 112831 VENCE: NOV-13 INC: ± 0,26 µm INDICADOR DIGITAL INF: 112491 VENCE: OCT-13 INC: ± (0,4+0,01L) µm INDICADOR TIPO PALANCA INF: 112831 VENCE: NOV-13 INC: ± 0,26 µm MESA DE PLANITUD INF: 112823 - 112824 VENCE: NOV-13 INC: ± (3,4+0,001L)µm PALPADORES INDUCTIVO INF: 112825 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,14+0,012) µm INF: 112827 VENCE: NOV-13 INC: 0,22 µm PATRONES DE ESPESORES INF: 110579 VENCE: NOV-13 INC:±(0,08+0,0011L) µm PATRÓN DE PROFUNDIDADES INF: 112837 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,5+0,003L) µm TACÓMETRO INF: 110440 VENCE: AGT-13 INC: ± 0,13 µm MAQUINA UNIDIMENSIONAL INF: CNM-CC-740-465/2011 VENCE: OCT-13 INC: ± (0,09+0,003L) µm PATRÓN DE RUGOSIDAD INF: CNM-CC-740-096/2012 VENCE: MZO-14 INC: ± 0,013 µm PLANO ÓPTICO INF: CNM-CC-740-352/2005 VENCE: PERMANENTE INC: ± 0,000 9 µm BLOQUES PATRÓN ANGULARES INF: CNM-CC-740-263/2011 VENCE: JUN -14 INC: ± 2,0’ PLANTILLA DE AMPLIFICACIÓN INF: CNM-CC-740-095/2002 VENCE: PERMANENTE INC: ± 0,0008 mm DISPOSITIVO DE MEDICIÓN DE LONGITUD INF: CNM-CC-740-466/2011 VENCE: OCT-13 INC: ±(14+0,0021l) µm ESCALA DE CRISTAL INF: CNM-CC-740-257/2011 VENCE: JUN-13 INC: ± √(0,39+2,6*10-5*L2) µm ANILLOS PATRÓN LISOS INF: CNM-CC-740-(478-479)/2011 VENCE: OCT-13 INC: ± 0,2 µm INF: CNM-CC-740-(434-435)/2009 VENCE: OCT-12 INC: ± 0,3 µm RETÍCULA DE ÁNGULOS INF: CNM-CC-740-080/2012 VENCE: FEN-15 INC: ± 1’ (DE ARCO) TACÓMETRO INF: TF-289-2010 VENCE: ABR-12 INC: ± 0,058 r/min INF: 110440 VENCE: AGT-13 INC: ± 0,13 µm TERMO HIGRÓMETRO INF: K MT 100910 K MH 1010-10 VENCE: AGT - 12 INC: ± 0,49°C ±2,7 % HR Comparadores Ópticos Microscopios de Medición Medición con Máquina de Medición por Coordenadas Medición con Comparador Óptico Medición con Máquina Unidimensional Calibración Vertical de Longitudes Lainas de Espesores Micrómetros de Exteriores Medidores de Interiores 2 Superficies de Contacto Medidores de Interiores 3 Superficies de Contacto Micrómetros y Medidores de Profundidades Cabezas Micrométricas Calibradores Medidores de Alturas Rugosímetros Niveles de Burbuja y Electrónicos Indicadores de Vástago Recto Palpadores Inductivos Indicadores de Carátula Tipo Palanca Palpadores Inductivos Tipo Palanca Goniómetros y Medidores de Ángulos Medidores de Espesores de Recubrimiento Medidores de Espesores Magnéticos Medidores de Espesores con Indicador Reglas Graduadas Flexómetros y Cintas de Medición Cuenta metros (odómetros) Elaboró: José Luis Merlo Cazares Gerente de Laboratorio Fecha de Elaboración: Marzo 2012 Fecha de Vencimiento: Abril 2012

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