1 / 5

Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony:

Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony: 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie. Wykształcenie: od 2006 r. – uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, promotor prof. dr inż. Romuald Zielonko

keefer
Download Presentation

Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony:

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony: 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie. Wykształcenie: od 2006 r. – uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, promotor prof. dr inż. Romuald Zielonko 1998 r. – 2004 r. – Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, specjalność Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne. Praca dyplomowa pt. „Wbudowany mikroserwer TCP/IP...” została wyróżniona Dariusz Załęski, KOSE 1

  2. Publikacje Liczba publikacji wydanych: 3 2 artykuły konferencyjne w tym 1 zagraniczny 1 praca w Zeszytach Naukowych Politechniki Gdańskiej Jedna publikacja przyjęta na konferencję Instrumentation AndMeasurement Technology Conference 2007 Publikacje związane z tematyką pracy doktorskiej: Czaja Z., Załęski D.: Implementation of input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems. Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics: 9–10 June, 2005, Budapest, Hungary Czaja Z., Załęski D.: Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego. Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej, 2006. Dariusz Załęski, KOSE 2

  3. Temat pracy: „Autodiagnostyka elektronicznych systemówwbudowanych mieszanych sygnałowo środkamizasobów sprzętowych i progra-mowychmikrokontrolera sterującego” Teza pracy: Środki sprzętowe i moc obliczeniowa mikrokontrolerów nowej generacji stosowanych w systemach wbudowanych są wystarczające do autodiagnostyki systemu,a zwłaszcza jego części analogowej. Zastosowanie mikrokontrolerów z logiką rozmytą upraszcza procedury autodiagnostyki uszkodzeń realnych układów z uwzględnieniem tolerancji ich elementów składowych. Cel pracy: Opracowanie, przebadanie symulacyjne i doświadczalne oraz implementacja nowych metod i procedur testowania umożli-wiających autodiagnostykę części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, przy wykorzystaniu zasobów sprzę-towych i programowych mikrokontrolerów sterujących. Dariusz Załęski, KOSE 3

  4. Plan pracy doktorskiej Wprowadzenie 1.1 Wprowadzenie i sformułowanie problemu 1.2 Cel i teza pracy Metody diagnostyczne bazujące na krzywych identyfikacyjnych w prze-strzeniach wielowymiarowych 2.1 Uwarunkowania metod pomiarowych wynikające z ograniczonychzasobów sprzętowych mikrokontrolera 2.2 Klasa transmitancyjnych metod amplitudowo-fazowych 2.3 Metody bazujące na próbkowaniu sygnału odpowiedzi układu 2.4 Implementacja i badania metod w systemie eksperymentalnym Diagnostyka układów z tolerancją przy wykorzystaniu mikrokontrolera z logiką rozmytą  Zastosowanie sygnałów komplementarnych do autodiagnostyki układów mieszanych sygnałowo.  Wnioski końcowe Bibliografia Dariusz Załęski, KOSE 4

  5. Dariusz Załęski, KOSE 5

More Related