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EBCCD in T545 Beam Test

EBCCD in T545 Beam Test. 神戸大学　田村　勇樹. ・光の光電面への入射. ・光電子の HV による加速. ・入射した CCD での多数の電子 - 正孔対生成. ・発生した電荷　　　電圧への変換　　　読み出し. EBCCD の動作原理. Setup for Bare EBCCD. Clear Fiber. KSMX. WLS. HV module. Sampling trigger. Data Video. PC. Moving Stage. EBCCD. 恒温槽.

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EBCCD in T545 Beam Test

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Presentation Transcript

  1. EBCCD in T545 Beam Test 神戸大学　田村　勇樹

  2. ・光の光電面への入射 ・光電子のHVによる加速 ・入射したCCDでの多数の電子-正孔対生成 ・発生した電荷　　　電圧への変換　　　読み出し EBCCDの動作原理

  3. Setup for Bare EBCCD Clear Fiber KSMX WLS HV module Sampling trigger Data Video PC Moving Stage EBCCD 恒温槽

  4. Setup for EBCCD camera Control Unit PC KSMX WLS Clear Fiber Camera head HV module Moving Stage focal length Peltiert device

  5. Bare EBCCD ・-25℃に恒温槽を設定しEBCCDをいれ露光時間を様々に調節 ・露光時間をどんどん短くしていき、ファイバーエリアのピクセルデータを 　ヒスト化 1p.e毎にpeakが観測されるはず EBCCD Camera ・Bare EBCCDとほぼ同じSetupだが冷却は-22.4℃ DAQ Condition どちらの場合も最大定格電圧はかけなかった 　　　　（しみが目立って現れている為）

  6. Data Condition： Energy:4GeV Exp Time:200ms Camera Temp:-21.2℃ HV:-7kv Pre shower 有り 1 2 4 5 4 3 3 1 2 5 Pre Shower ありのとき

  7. 1 2 Condition： Energy:4GeV Exp Time:200ms Camera Temp:-21.2℃ HV:-7kv Pre shower 無し 4 3 4 5 3 1 5 2

  8. 1p.e possibility Exposure Time : 10ms HV:-7kV Temperature:-21.2℃ D4 magnet:100

  9. Back ground HV:-7kV Temperature:-21.2℃

  10. Problems σを出来るだけ小さく ・のってしまったノイズの除去(周期的にのっている) ・BaredCCD→ペデスタルのσが大きく1p.eを上回る Noise in Camera and Bared(X: pixel No Y:ADC count)

  11. 小さなピクセル　　　1mmもの太さのファイバーの光検出としての使用はどうか？小さなピクセル　　　1mmもの太さのファイバーの光検出としての使用はどうか？ 冷却の必要　　　今後の開発での小型化は必須 読み出しの遅さ　　　パラレル読み出しでの改善。 今後の展開 光の拡がり　　　　光電面のFOP Window化での改善 他研究分野での利用も考えてみては

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