90 likes | 281 Views
SnO 2 掺杂高介电常数温度稳定型 BZN 基介质材料的研究. 报告人:金雨馨 指导教师:李玲霞 教授 2014-04-29. 实验工作情况. 1. 下一步计划安排. 2. 阶段成果总结. 3. 主要内容. 实验工作(一). BZNS 体系补充实验 : 制备 ( Bi 1.8 Zn 0.2 )( Zn 0.5 Nb 1.5-x Sn x )O 7.15-x/2 陶瓷样品,对制备的陶瓷样品进行烧结,并对其 ɛ , tan δ , ε 进行测试 。 。 x=0.3, 0.4 。 烧结温度 : 950℃ , 975℃, 1000℃, 1025℃ 。
E N D
SnO2掺杂高介电常数温度稳定型BZN基介质材料的研究SnO2掺杂高介电常数温度稳定型BZN基介质材料的研究 报告人:金雨馨 指导教师:李玲霞 教授 2014-04-29
实验工作情况 1 下一步计划安排 2 阶段成果总结 3 主要内容
实验工作(一) • BZNS体系补充实验: 制备(Bi1.8Zn0.2)(Zn0.5Nb1.5-xSnx)O7.15-x/2陶瓷样品,对制备的陶瓷样品进行烧结,并对其 ɛ,tanδ,ε进行测试。。 x=0.3, 0.4。 • 烧结温度: 950℃, 975℃, 1000℃, 1025℃。 • x= -0.05, 0.05, 0.1, 0.2。 • 烧结温度:925℃,950℃, 975℃。 • 目前,已完成x = 0.3, 0.4陶瓷组分样品950 ℃,975℃, 1000℃, 1025℃的烧结与测试工作。 实验依据 保持原有的焦绿石结构中A位上的Bi3+ /Zn2+比例,继续调节四价Sn4+的含量,进一步补充BZNS体系高锡含量的实验数据,获得高介电常数,零温度系数的陶瓷样品,并系统地研究体系介电性能的变化。
Figure.2. Temperature coefficient of permittivity (ε) of samples sintered different temperatures with various compositions (x in (Bi1.8Zn0.2) (Zn0.5Nb1.5-xSnx)O7.15-x/2) Figure.1. Permittivity of samples sintered at different temperatures with various compositions (x in ((Bi1.8Zn0.2)(Zn0.5Nb1.5-xSnx)O7.15-x/2) 在该体系中,不同烧结温度下,随着x值的增加(Sn2+含量的增加),陶瓷样品的介电常数与介电常数温度系数均先增大后减小。随烧结温度的升高,体系的介电常数逐渐增大,介电常数温度系数向负向移动。在1000℃烧结温度下,x=0.10组分样品的ɛ~170,ε~ 0.3747,获得的高介电常数陶瓷样品可满足NP0特性要求。
BZNS体系物相结构分析 XRD测试结果:
BZNS体系物相结构分析 SEM测试结果: 在该BZNS体系中,在1000℃烧结温度下,所有组分样品(x = 0.0, 0.05, 0.1, 0.2)均烧结致密,晶粒紧密堆积,晶界明显。当x=0.1时,晶界处开始出现第二相,随Sn含量增加,第二相逐渐减少,与XRD测试结果一致。随Sn含量增加,晶粒尺寸呈现先增大后减小的变化趋势。 2.4-6.5 µm(x = 0.0) → 0.8-6.3 µm(x = 0.1) → 2.1-7.1 µm(x = 0.2)
阶段成果总结 论文成果 • Structures, Phase Transformations, and Dielectric Properties of Bi2(Zn1-xMgx)2/3Nb4/3O7 Pyrochlore Ceramics as Temperature Stable LTCC Material • 投稿期刊: Journal of Alloys and Compounds 投稿状态: Accept Completed • Effect of Sn4+ Substitution on the B site on the Dielectric Properties of Bi2O3-ZnO-Nb2O5 Pyrochlore Ceramic System Based on Structural Characteristics • 目前状态:准备中 专利成果 • 一种NP0型低温烧结微波介质陶瓷材料及其制备方法 • 一种NP0型低温烧结陶瓷电容器介质材料及其制备方法 • 高介电常数温度稳定型高频介质陶瓷及其制备方法 • 高介电常数NP0型介质陶瓷及其制备方法
实验一:对制备(Bi1.5Zn1-xMnx)(Zn0.5Nb1.5)O7陶瓷样品进行烧结,并对其ɛ,tanδ,k进行测试。x=0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.5。 烧结温度: 950℃ , 975℃, 1000℃, 1025℃。 实验二:制备(Bi1.8Zn0.2)(Zn0.6-2/3xNb1.4-1/3xSnx)O7陶瓷样品进行烧结,并对其ɛ,tanδ,k进行测试。烧结温度: 950℃, 975℃, 1000℃x=0.05, 0.1, 0.2, 0.3。 实验思路:保持原有的焦绿石结构中A位上的Bi3+ /Zn2+比例,重新调整四价Sn4+的取代位置,以期望获得高介电常数,低损耗,零温度系数的陶瓷样品。并与之前得到的实验数据形成对比,系统分析Sn4+取代对体系结构以及介电性能的影响。 实验思路:以Mn2+取代立方焦绿石BZN结构中位于A位上的Zn2+,调节体系的介电常数,改善其温度系数,研究二价A位Zn2+离子取代对材料结构与介电性能的影响。 预期结果:随Mn2+含量的增加,陶瓷样品的介电常数与介电常数温度系数有规律地增大或减小。 预期结果:随Sn4+含量的增加,陶瓷样品的介电常数逐渐减小,介电常数温度系数向正向移动。 下一步计划