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Thema : Statistische Prozessregelung (SPC)

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Thema : Statistische Prozessregelung (SPC) - PowerPoint PPT Presentation


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Thema : Statistische Prozessregelung (SPC). von : Andy Burger. Inhalt :. Einführung. Vorbereitung. Anwendung. Ziele. Aufgrund von Stichproben während der Fertigung. Einführung :. SPC = Methode zur Prozesslenkung. Einführung. Vorbereitung.

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Presentation Transcript
slide1

Thema :

Statistische Prozessregelung (SPC)

von :

Andy Burger

slide2

Inhalt :

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

slide3

Aufgrund von Stichproben während der Fertigung

Einführung :

SPC = Methode zur Prozesslenkung

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

slide4

Untersuchung der Maschinenfähigkeit

bei gleichbleibenden Bedingungen

Einführung

  • Gleichbleibende Einstellungen

Vorbereitung

  • Kein Werkstoffwechsel
  • Keine Unterbrechungen

Anwendung

  • Gleiches Klima

Ziele

  • Kein Personalwechsel
slide5

T

Cm =

6 · σ

∆ krit

Cmk=

3 · σ

Maschinenfähigkeitsindex :

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

Cm und Cmk≥ 1,33

slide6

Untersuchung der Prozessfähigkeit

bei realen Bedingungen

Einführung

  • Werkzeuge

Vorbereitung

  • Hilfsstoffe
  • Unterbrechungen

Anwendung

  • Temperaturschwankungen

Ziele

  • Personalwechsel
slide7

T

Cp =

6 · σ

∆ krit

Cpk=

3 · σ

Prozessfähigkeitsindex :

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

Cp und Cpk≥ 1,33

slide8

m x s

13

11,980

0,008

1

11,991

0,013

14

11,976

0,010

2

11,985

0,011

15

11,985

0,011

11,977

3

11,960

0,010

16

0,014

11,975

4

11,965

0,009

17

0,015

O 12 -0,1

5

11,971

0,012

18

11,973

0,013

11,974

6

0,012

19

11,960

0,009

7

11,980

0,013

20

11,965

0,010

8

11,991

0,011

21

11,965

0,013

9

11,992

0,010

22

11,972

0,012

11,982

11,974

10

0,015

23

0,011

24

11,970

11,960

11

0,013

0,011

12

11,971

0,012

25

11,980

0,013

Beispiel :

Stiftschraube

25 Stichproben (n = 5) ; stündlich

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

slide9

m

1

1

·

xi

µ =

= 11,975 mm

m

m

i=1

m

·

si2

σ =

=

i=1

= 0,0115 mm

s 2

Schätzwerte :

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

slide10

für Mittelwerte x

OEG = µ + A E · σ

OWG = µ + A W· σ

M = µ

UWG = µ - A W · σ

UEG = µ - A E · σ

OEG = B OEG · σ

OWG = B OWG· σ

M = a n

UWG = B UWG· σ

UEG = B UEG· σ

Eingriffs- und Warngrenzen :

Einführung

Vorbereitung

für Standardabweichung s

Anwendung

Ziele

slide11

Mittelwert x

Standardabweichung s

n

AE

AW

n

an

BOEG

BOWG

BUWG

BUEG

1

2,576

1,960

2

0,798

2,807

2,241

0,031

0,006

4

1,288

0,980

4

0,921

2,069

1,765

0,268

0,155

5

1,152

0,877

5

0,940

1,927

1,669

0,348

0,227

6

1,052

0,800

6

0,952

1,830

1,602

0,408

0,287

50

0,364

0,277

50

0,995

1,264

1,197

0,802

0,746

Shewhart - Karte

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

slide12

OEG = 11,975mm + 1,152 · 0,0115mm =11,988mm

für x :

OEG = 11,988 mm

OWG = 11,985 mm

M = 11,975 mm

UWG = 11,965 mm

UEG = 11,962 mm

für s :

OEG = 0,022 mm

OWG = 0,019 mm

M = 0,011 mm

UWG = 0,004 mm

UEG = 0,003 mm

Auswertung :

OEG = µ + A E · σ

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

slide13

O 12 -0,1

Zweispurige Qualitätsregelkarte

Merkmal :

Einheit :

Auswerteblatt

Stichprobenumfang :

x-Karte

mm

n = 5

OEG

OWG

TREND

RUN

M

UWG

UEG

s-Karte

OWG

M

UWG

Zeit

UEG

Datum

Einführung

Vorbereitung

Anwendung

Ziele

slide14

Ziele :

Geeignete Prozessdokumentation

Einführung

Erkennung einer evtl. Änderung der Fertigungslage

Vorbereitung

Ständige Prozessoptimierung aufgrund aktueller Daten

Ausschuss u. Nacharbeitoptimierung => zero defect

Anwendung

Optimierung des Prüfumfangs => Prüfkostenreduktion

Ziele

Verkleinerung von Terminproblemen