Thema : Statistische Prozessregelung (SPC)

1. Thema : Statistische Prozessregelung (SPC) von : Andy Burger

2. Inhalt : Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

3. Aufgrund von Stichproben während der Fertigung Einführung : SPC = Methode zur Prozesslenkung Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

4. Untersuchung der Maschinenfähigkeit bei gleichbleibenden Bedingungen Einführung • Gleichbleibende Einstellungen Vorbereitung • Kein Werkstoffwechsel • Keine Unterbrechungen Anwendung • Gleiches Klima Ziele • Kein Personalwechsel

5. T Cm = 6 · σ ∆ krit Cmk= 3 · σ Maschinenfähigkeitsindex : Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele Cm und Cmk≥ 1,33

6. Untersuchung der Prozessfähigkeit bei realen Bedingungen Einführung • Werkzeuge Vorbereitung • Hilfsstoffe • Unterbrechungen Anwendung • Temperaturschwankungen Ziele • Personalwechsel

7. T Cp = 6 · σ ∆ krit Cpk= 3 · σ Prozessfähigkeitsindex : Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele Cp und Cpk≥ 1,33

8. m x s 13 11,980 0,008 1 11,991 0,013 14 11,976 0,010 2 11,985 0,011 15 11,985 0,011 11,977 3 11,960 0,010 16 0,014 11,975 4 11,965 0,009 17 0,015 O 12 -0,1 5 11,971 0,012 18 11,973 0,013 11,974 6 0,012 19 11,960 0,009 7 11,980 0,013 20 11,965 0,010 8 11,991 0,011 21 11,965 0,013 9 11,992 0,010 22 11,972 0,012 11,982 11,974 10 0,015 23 0,011 24 11,970 11,960 11 0,013 0,011 12 11,971 0,012 25 11,980 0,013 Beispiel : Stiftschraube 25 Stichproben (n = 5) ; stündlich Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

9. m 1 1 · xi µ = = 11,975 mm m m i=1 √ √ m · si2 σ = = i=1 = 0,0115 mm s 2 Schätzwerte : Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

10. für Mittelwerte x OEG = µ + A E · σ OWG = µ + A W· σ M = µ UWG = µ - A W · σ UEG = µ - A E · σ OEG = B OEG · σ OWG = B OWG· σ M = a n UWG = B UWG· σ UEG = B UEG· σ Eingriffs- und Warngrenzen : Einführung Vorbereitung für Standardabweichung s Anwendung Ziele

11. Mittelwert x Standardabweichung s n AE AW n an BOEG BOWG BUWG BUEG 1 2,576 1,960 2 0,798 2,807 2,241 0,031 0,006 4 1,288 0,980 4 0,921 2,069 1,765 0,268 0,155 5 1,152 0,877 5 0,940 1,927 1,669 0,348 0,227 6 1,052 0,800 6 0,952 1,830 1,602 0,408 0,287 50 0,364 0,277 50 0,995 1,264 1,197 0,802 0,746 Shewhart - Karte Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

12. OEG = 11,975mm + 1,152 · 0,0115mm =11,988mm für x : OEG = 11,988 mm OWG = 11,985 mm M = 11,975 mm UWG = 11,965 mm UEG = 11,962 mm für s : OEG = 0,022 mm OWG = 0,019 mm M = 0,011 mm UWG = 0,004 mm UEG = 0,003 mm Auswertung : OEG = µ + A E · σ Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

13. O 12 -0,1 Zweispurige Qualitätsregelkarte Merkmal : Einheit : Auswerteblatt Stichprobenumfang : x-Karte mm n = 5 OEG OWG TREND RUN M UWG UEG s-Karte OWG M UWG Zeit UEG Datum Einführung Vorbereitung Anwendung Ziele

14. Ziele : Geeignete Prozessdokumentation Einführung Erkennung einer evtl. Änderung der Fertigungslage Vorbereitung Ständige Prozessoptimierung aufgrund aktueller Daten Ausschuss u. Nacharbeitoptimierung => zero defect Anwendung Optimierung des Prüfumfangs => Prüfkostenreduktion Ziele Verkleinerung von Terminproblemen