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C. Cherbaucich CESI

Giornata di studio “La nuova normativa per la misura di Scariche Parziali” Torino, 5 Dicembre 2002 I calibratori per le prove di prestazione sui sistemi di misura: descrizione e verifica delle caratteristiche. C. Cherbaucich CESI. IEC 60270 (2000-12): le novità dal punto di vista metrologico.

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Presentation Transcript


  1. Giornata di studio “La nuova normativa per la misura di Scariche Parziali”Torino, 5 Dicembre 2002I calibratori per le prove di prestazione sui sistemi di misura: descrizione e verifica delle caratteristiche C. Cherbaucich CESI

  2. IEC 60270 (2000-12): le novità dal punto di vista metrologico • Nuove prescrizioni sulla taratura dei calibratori per scariche parziali • Introduzione della taratura degli strumenti di misura di scariche parziali • Responsabilità dell’utilizzatore nel garantire la riferibilità delle misure . Giornata di studio "La nuova normativa per la misura di SP"

  3. IEC 60270 (2000-12): le difficoltà applicative delle prescrizioni metrologiche • Incertezze di misura molto contenute: - 5% (o 1 pC) sulla carica del calibratore - 10 % (o 1 pC) sulla misura della carica per l’intero sistema di misura . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  4. IEC 60270 (2000-12): le difficoltà applicative delle prescrizioni metrologiche • Attuale indisponibilità di strumentazione commerciale pronta per l’uso da utilizzare per la taratura dei calibratori e degli strumenti di misura di SP. . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  5. La riferibilità nelle misure di SP • Necessità di assemblare strumenti e componenti di base e di sviluppare strumenti SW per effettuare le prescritte operazioni di taratura con i richiesti livelli d’incertezza • Calibratore di riferimento Calibratore programmabile . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  6. La riferibilità nelle misure di SP:il calibratore di riferimento • Sorgente di tensione continua (calibratore per DCV, 10 mV10 V) • Relè a mercurio (per applicazioni RF) • Condensatori di buona qualità e basso valore capacitivo (10, 50, 100 pF) . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  7. La riferibilità nelle misure di SP:il calibratore di riferimento . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  8. La riferibilità nelle misure di SP:il calibratore di riferimento Gradino di tensione ottenuto con generatore DCV e relè a mercurio Impulso di corrente associato con C = 10 pF e Qo = 10 pC . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  9. La riferibilità nelle misure di SP:taratura del calibratore di SP . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  10. La riferibilità nelle misure di SP:il calibratore programmabile . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  11. La riferibilità nelle misure di SP:taratura del sistema di misura SP Verifica di: • linearità • effetto della polarità • effetto della frequenza di ripetizione degli impulsi • tempo di risoluzione • errore di integrazione Da verificare a parte: • Andamento di Z(f) . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

  12. Riferimenti bibliografici • Cherbaucich C., Rizzi G, Gobbo R., Pesavento G.,: “Evaluation of the characteristics of calibrators and PD Measuring systems according to IEC 60270”, 12th ISH, Bangalore, 2001, Paper 6.71 • Lemke, E. et al.: "Experience in the calibration technique for PD calibrators", 3rd European Conference on "High Voltage Measurements and Calibration, Paper 6.1, Milan 1996. • Lukas, W. et al. : "Comparison of two techniques for calibrating PD calibrators", Proc. 10th ISH, Montreal, 1997, Paper 3106. • Cherbaucich, C. et al.: "Partial discharge calibrators: Practical experience in their calibration", 4thEuropean Conference on "High Voltage Measurements and Calibration, Paper 3.2, London 1998. • Drazba, K. et al.: "Performance tests of PD measuring instruments and calibrators", 4thEuropean Conference on "High Voltage Measurements and Calibration, Paper 3.3, London 1998. • Gobbo R., Rizzi G. et al.: "Influence quantities in the calibration of PD calibrators: contribution to the uncertainty estimate", 11th ISH, London 1999, Paper 5.272. • Andrews J. R. et al. "Reference waveform flat pulse generator", IEEE Trans. on IM, Vol. 32, N. 1, March 1988, pp. 27-32. . Giornata di studio sulla nuova normativa per le misure di SP

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