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Capítulo 3 – Técnicas de Deposição: Pt1 - CVD

Chemical Vapor Deposition. Capítulo 3 – Técnicas de Deposição: Pt1 - CVD. IE726 – Processos de Filmes Finos. Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP. Diversos filmes de variados materiais são depositados durante a fabricação de um CI . Chemical Vapor Deposition. 1. Introdução. Nitretos e si-poli.

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Capítulo 3 – Técnicas de Deposição: Pt1 - CVD

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  1. Chemical Vapor Deposition Capítulo 3 – Técnicas de Deposição: Pt1 - CVD IE726 – Processos de Filmes Finos Ioshiaki Doi FEEC/UNICAMP

  2. Diversos filmes de variados materiais são depositados durante a fabricação de um CI Chemical Vapor Deposition 1. Introdução Nitretos e si-poli Dielétrico para isolação de dispositivos • Alguns filmes são usados temporariamente como camada de máscara, enquanto que outros filmes tornam partes do circuito sendo fabricado.

  3. Tipos de Filmes Finos e Aplicações: Chemical Vapor Deposition Podem ser condutores, semicondutores ou isolantes • Conexão das regiões ativas dos dispositivos. • Comunicação entre os dispositivos. • Acesso externo aos circuitos. • Isolação entre as camadas condutoras. • como fonte de dopante e como barreira para dopagem. • para proteger as superfícies do ambiente externo.

  4. Chemical Vapor Deposition Métodos Principais de Deposição: • Chemical Vapor Deposition(CVD)formação de um filme sólido sobre um substrato pela reação de espécies químicas em fase vapor. • Physical Vapor Deposition(PVD)usa método físico (evaporação ou sputtering) para produzir átomos que passam pela fase gasosa e depois condensada sobre a superfície do substrato.

  5. Parâmetros de Qualidade dos Filmes: Chemical Vapor Deposition • a) – alta pureza e densidade; • b) – composição e estequiometria controladas; • c) – boa uniformidade em espessura e reprodutibilidade; • ao longo do wafer e de wafer-para-wafer • d) – alto nível de perfeição estrutural; • e) – boas propriedades elétricas; • f) – boas propriedades mecânicas; • stress e aderência • g) – boa cobertura de degraus (conforme);

  6. Chemical Vapor Deposition • Parâmetros de Qualidade dos Filmes: h) – baixa densidade de defeitos(imperfeições, pinholes, etc.); i) – baixa contaminação por partículas, e j) – bom preenchimento de espaços (sem buracos e com cobertura nos fundos dos poços).

  7. Chemical Vapor Deposition Requisitos Necessários para a Técnica de Deposição: • Além dos itens mencionados para os filmes requer processo econômico: • alta taxa de produção; • seguro, automatizável e barato. • A técnica CVD atende vários dos requisitos citados, com vantagens sobre outras técnicas.

  8. Chemical Vapor Deposition Exemplos de Problemas de Qualidade • Problemas de cobertura de degraus • Alta resistência elétrica • Aumento da probabilidade de falha mecânica.

  9. Chemical Vapor Deposition Exemplos de Problemas de Qualidade • Problemas de cobertura de degraus • Camadas TiW/Al/TiW sobre óxido • Formado por sputtering

  10. Chemical Vapor Deposition Exemplos de Problemas de Qualidade • Problemas de preenchimento

  11. Chemical Vapor Deposition Exemplos de Problemas de Qualidade • Voids • Alta resistência de contato ou de folha (metal) • Trincas ou rachaduras (dielétricos) • Confiabilidade (aprisionamento de contaminantes e humidade) • Cobertura de fundo do degrau • Necessário para contato ou camada de barreira • adesão

  12. Chemical Vapor Deposition Exemplos de Problemas de Qualidade • Problemas de Preenchimento Buracos em óxido CVD

  13. Chemical Vapor Deposition Razão de Aspecto: • A Razão de Aspecto (AR) da estrutura afeta o preenchimento e a cobertura de fundo do degrau. • A razão de aspecto é simplesmente a relação entre a altura (h) e largura (w) da estrutura. Razão de Aspecto = AR = h/R

  14. Chemical Vapor Deposition 2. Deposição Química a Partir de Fase Vapor (CVD) • Método mais comum de deposição de filmes finos, utilizados atualmente na fabricação de CIs. • Deposição de filmes finos isolantes (dielétricos), condutores e semicondutores.

  15. Chemical Vapor Deposition Filmes que podem ser depositados por CVD: • silício policristalino (Si-poli) • óxido de silício (SiO2) • nitreto de silício (Si3N4, SiN) • metais (Al, W, Ti, etc.) • silicetos (WSi2, TiSi2, MoSi2, TaSi2)

  16. CVD: reações químicas que transformam moléculas gasosas chamada precursor, em material sólido na forma de filmes, sobre o substrato . Chemical Vapor Deposition Conceitos Básicos de CVD • CVD:formação de um filme sólido sobre um substrato pela reação de espécies químicas em fase vapor.

  17. Chemical Vapor Deposition • Tipos de CVD mais comuns: • APCVD: Atmospheric pressure CVD • LPCVD: Low pressure CVD • PECVD: Plasma enhanced CVD • HDP-CVD: High Density Plasma CVD • Independente do tipo, todos os sistemas CVD usam gases que decompõem quando aquecidos e reagem sobre a superfície para produzir o filme. Ocasionalmente usa-se fonte líquida, borbulhando através de um gás portador, por exemplo, H2. • N2 ou H2 é usado com frequência como diluente ou gás portador. • É importante que a reação ocorra na superfície; reações na fase gasosa podem causar queda de particulados sobre o wafer ou causar deposição de filmes de baixa densidade.

  18. Chemical Vapor Deposition Etapas envolvidas no processo CVD: 1) – introdução na câmara de gases reagentes e diluentes a dada composição e fluxo; 2) – transporte de espécies reativas até o substrato; 3) – adsorção de espécies reativas na superfície do substrato; 4) – migração de espécies na superfície e reações químicas de formação do filme; 5) – dessorção de subprodutos da reação; 6) – transporte dos subprodutos da reação para a região de fluxo principal; e 7) – remoção dos subprodutos gasosos da reação e gases não consumidos no processo, da câmara de reação.

  19. Chemical Vapor Deposition Cinética do Processo CVD • Etapas 2-5 são mais importantes para a determinação geral da taxa de deposição. • F1 = fluxo de difusão de espécies reagentes para o wafer • Fluxo de transferência de massa (etapa 2). • F2 = fluxo de reagentes consumidos pela superfície • Fluxo de reação de superfície (etapas 3-5).

  20. Chemical Vapor Deposition F1 = hG(CG – CS) • Onde, hG é o coeficiente de transferência de massa em (cm/s). Depende do fluxo na câmara. • (CG – CS) é a diferença de concentração de espécies reagentes entre o fluxo de gás principal e superfície do wafer em (moléculas/cm3). F2 = kSCS • Onde kS é a taxa de reação de superfície em (cm/s).

  21. Chemical Vapor Deposition • Modelo mais simples para descrever o processo, assume que o fluxo de espécies reagentes que atravessam a camada de “boundary layer” são iguais ao fluxo de reagentes consumido pela superfície de crescimento. O fluxo de sub-produtos desorvidos é desprezado no modelo.  Na condição de deposição em estado estacionário  processo geral procede na taxa de processo mais lento. Logo,F = F1 = F2  CS = CG (1 + kS/hG)-1

  22. Chemical Vapor Deposition Logo, a taxadedeposiçãodofilmeédadopor: • v é a taxa de deposição em cm/s • N é o número de átomos por unidade de volume incorporados no filme em cm-3. (No caso do Si, densidade do Si, 5 x 1022 cm-3, dividido pelo número de átomos de silício incorporados no filme).  A taxa de deposição é proporcional a fração molar das espécies reativas na fase gasosa.

  23. Chemical Vapor Deposition Definindo Y como fração de moles de espécies em incorporação na fase gasosa: • CT é a concentração de todas as moléculas na fase gasosa. • Exemplo: deposição de Si • SiCl4(g) + 2H2(g) Si(s) + 4HCl(g) • Espécies em incorporação: Si • CG: no de moléculas de SiCl4 por cm3 • CT: no total de moléculas de SiCl4 e H2

  24. Chemical Vapor Deposition Y é também igual a relação entre a pressão parcial das espécies em incorporação e a pressão total no sistema: • PG : pressão parcial de SiCl4 • PG1: pressão parcial de H2 • Se usar gás portador (N2, Ar), também devem ser considerados.

  25. Chemical Vapor Deposition A equação para a velocidade de deposição fica assim: • A velocidade de deposição é determinado pelo menor de ks ou hG.

  26. Chemical Vapor Deposition • Temos portanto, 2 casos limites: • Se kS << hG  Cs = Cg  processo controlado por reação de superfície. •  • Se hg ks  Cs  0  processo controlado por transferência de massa ou difusão da fase gasosa. •  Transferência de massa relativamente rápida enquanto a reação de superfície é lenta. Reação de superfície bastante rápida em comparação a transferência de massa.

  27. Chemical Vapor Deposition Experimentalmente as constantes de taxa são dadas por: • O termo de superfície (kS) é Arrhenius com Ea dependendo da reação (=1.6 eV para deposição de Si mono-crystalino). • hG constante (difusão através do boundary layer). • A faixa de temperaturas para diferentes regimes depende de vários fatores: gases, pressão, energia de ativação da reação, configuração dos wafers, condições de fluxos no reator, etc.

  28. Chemical Vapor Deposition Tipos de Reações Químicas ou Processos : • Reação homogênea – reação na fase vapor (Processos de Fase Vapor). Produz particulas  resulta em filmes de pouca aderência, baixa densidade e alta concentração de defeitos. • Reação heterogênea – reação na superfície ou próxima dela. Processo desejável (Processos de Superfície). • térmica • fótons e • elétrons. • Energia para propiciar a reação:

  29. Chemical Vapor Deposition Processos de formação dos filmes: • Nucleação • Formação de Ilhas • Crescimento das ilhas • Coalescência • Formação de filme contínuo

  30. Estrutura dos Filmes Chemical Vapor Deposition • tamanho dos grãos – depende das condições de deposição e dos tratamentos térmicos posteriores. Grãos maiores – temperaturas maiores de processamento e filmes mais espessos. • rugosidade está relacionada com o tamanho dos grãos. • Reação na Superfície – Taxa de Reação Química CR = A exp(-Ea/kT) onde: CR é a taxa de reação, A é uma constante, Ea é a energia de ativação em eV, k é a constante de Boltzman e T é a temperatura do substrato em K.

  31. Chemical Vapor Deposition Processo CVD: A taxa de deposição (DR) está relacionada com a taxa de reação química (CR), taxa de difusão do precursor no “boundary layer” e taxa de adsorção do precursor sobre a superfície. Temperaturas baixas  somente poucas moléculas possuem energia suficiente para iniciar a reação.

  32. Chemical Vapor Deposition • Regimes de Deposição • Há 3 regimes: • - Baixas temperaturas – a taxa de reação química é baixa e a taxa de deposição bastante sensível a temperatura. regime limitado por reação de superfície. • - temperaturas altas – deposição bem menos sensível à temperatura. regime limitado por transporte de massa. • - Se aumentarmos mais a temperatura, a taxa decresce rapidamente devida a nucleação na fase gasosa.  processo indesejável.

  33. Regime limitado por reação: Chemical Vapor Deposition Taxa de deposição bastante sensível a temperatura porque é determinado principalmente pela taxa de reação química. Requer boa uniformidade de temperatura sobre o substrato.

  34. Chemical Vapor Deposition Regime limitado por transporte de massa: A taxa de reação química é suficientemente alta e os precursores reagem imediatamente quando adsorvidos sobre a superfície do substrato. Taxa de deposição não depende da taxa de reação de superfície, mas pela rapidez com que os precursores podem difundir através do “boundary layer” e adsorvido sobre a superfície. Requer boa uniformidade de fluxo e de densidade de espécies sobre as lâminas.

  35. Chemical Vapor Deposition Difusão através do “boundary layer” na suferfície do substrato. Ao alcançar determinada temperatura, a taxa de reação torna-se controlada por taxa de reagentes que chegam a superfície do substrato.

  36. Chemical Vapor Deposition • Dinâmica dos Fluidos no Reator • Comportamento da Velocidade dos fluídos Velocidade do fluído na superfície do reator é zero. Aumenta a medida que se distancia da parede. Há uma certa distância da entrada do gás, apresenta um perfil parabólico. Perfil de velocidade – reator tubular

  37. Chemical Vapor Deposition • Concentração dos gases reagentes Concentração dos reagentes num reator de paredes frias. Zero na superfície do susceptor e aumenta rapidamente com distância da superfície. Concentração dos reagentes num reator de paredes quentes.

  38. Chemical Vapor Deposition • Perfil de temperatura Reator de paredes quentes: na entrada somente os gases próximos a parede são aquecidas. Pouco adiante, gases próximos do centro são aquecidos. Se o reator for longo, em algum ponto o gás e aquecido uniformente. Reator de paredes frias : a temperatura do gás é mais alto na superfície do susceptor e decresce rapidamente para um valor constante, a uma certa distância da superfície.

  39. 3. Tipos de Reatores Paredes Quentes Isotérmico com Fluxo Vertical Assistido por Plasma Baixa Pressão Pressão Atmosférica Movimentação Contínua Paredes Quentes Paredes Frias Paredes Frias Paredes Quentes Epitaxial Placas Parelelas Plasma Remoto, ECR, outros Chemical Vapor Deposition

  40. Reatores CVD de Pressão Atmosférica - APCVD Chemical Vapor Deposition • Características: • operam normalmente na condição de taxa limitada por transferência de espécies  fluxo deve ser idêntico sobre todas as lâminas  pode processar poucas lâminas por vez.

  41. Chemical Vapor Deposition Vantagens e Desvantagens • Vantagens: • Estrutura do reator bastante simples; • Alta taxa de deposição. • Desvantagens: • pode processar poucas lâminas por vez; • cobertura de degrau pobre; • é susceptível à reações em fase gasosa (reação homogênea)  causa particulados e filme pouco denso; • necessita de limpeza frequente. • É usado para deposição de SiO2 (dopado e não dopado) em baixa temperatura ( 400 C).

  42. Chemical Vapor Deposition Reatores APCVD: a) horizontal (tubo de parede quente)

  43. Chemical Vapor Deposition Reatores APCVD: b) sistema de movimento contínuo com injeção de gás e (c) APCVD de movimento contínuo tipo plenum.

  44. Chemical Vapor Deposition Reator Epitaxial ou reator vertical tipo Bell-Jar ou Pancake aquecido por indução.

  45. Chemical Vapor Deposition Exemplo: Deposição Epitaxial do Si (a pressão total de 1 atm) Ea mesmo valor e hG  constante. • Taxa é aproximadamente proporcional a (mol.wt.)1/2. • Deposição limitado por kS bastante sensível a temperatura. • Deposição limitado por hG  bastante sensível a geometria (camada limite).

  46. Chemical Vapor Deposition Efeito Geométrico • Deposição epi do Si: feito a alto T, para obter crescimento de mono cristal de alta qualidade. •  controlado por hG . •  configuração do reator horizontal. • hG corresponde a difusão através de boundary layer de espessura S.

  47. Chemical Vapor Deposition • Mas S não é constante a medida que o gás flui ao longo da superfície. • Geometria especial é requerida para deposição uniforme. • Inclinando o suceptor aumenta a velocidade do gás que auxilia manter o S constante.

  48. Reatores CVD de Baixa Pressão - LPCVD Chemical Vapor Deposition • Problemas dos sistemas APCVD: • Se operar a altas temperaturas, deve usar configuração horizontal (poucas lâminas por vez). • Se operar a temperaturas baixas, a taxa de deposição diminui bastante e o rendimento torna-se muito baixo.

  49. Chemical Vapor Deposition mas, Solução: • Operar a baixa pressão, no regime limitado por transferência de massas. • DG   760 vezes a 1 torr, enquanto S aumenta cerca de 7 vezes.  hG aumenta aproximadamente de 100 vezes. • Transporte de reagentes da fase gasosa para superfície através de boundary layer não é mais limitante da taxa.

  50. Chemical Vapor Deposition • O processo é mais sensível a T, mas pode usar sistema de parede quente, para bom controle da temperatura e pode empilhar lâminas.

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