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CONVERTIDORES A/D NYQUIST-RATE

CONVERTIDORES A/D NYQUIST-RATE. Introducción. Tipos convertidores. 1. Convertidores integradores (1). Integrador de rampa simple Se cuentan pulsos de reloj hasta que V integrador = V in P ara el instante t = t1 alcanza el nivel de Vin :

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CONVERTIDORES A/D NYQUIST-RATE

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Presentation Transcript


  1. CONVERTIDORES A/D NYQUIST-RATE

  2. Introducción • Tipos convertidores

  3. 1. Convertidores integradores (1) • Integrador de rampa simple • Se cuentan pulsos de reloj hasta que Vintegrador = Vin • Para el instante t = t1 alcanza el nivel de Vin: • Si el reloj tiene un período T el número de pulsos n que recibirá el contador hasta el instante t1 será: • Fundamento: convertir un nivel de voltaje en una dimensión de tiempo que se mide con un contador

  4. 1. Convertidores integradores (2) • Integrador de doble rampa • Fase (I):): intervalo de tiempo T1 en el que el contador cuenta 2N ciclos de reloj • Vx crece en forma de rampa proporcional Característica: los convertidores realizan la conversión en dos fases (I) y (II)

  5. 1. Convertidores integradores (3) • El contador cuenta hasta que Vx sea menor que cero,entonces el valor del contador es igual al valor digitalizado de la señal de entrada Vin. • Fase (II): amplitud de tiempo variable, T2 • el contador se pone a cero • el interruptor S1 se conecta a Vref, • Rampa Vx constante decreciente.

  6. 1. Convertidores integradores (4) • Desventajas: • El tiempo de conversión no es fijo, depende del nivel de la señal de entrada Vin • la velocidad de conversión es muy lenta • Utilización: • realización de medidores de panel digitales • voltímetros de continua • Elección de T1:los componentes superpuestos a esta frecuencia a la señal de entrada significa atenuación

  7. Inicio Muestreo Vin , VD/A = 0, i = 1 Vin > VD/A No Sí bi = 1 bi = 0 VD/A VD/A + Vref / 2i+1 VD/A VD/A – (Vref / 2i+1) i i + 1 i  N No Sí Parar 2. Convertidores de aproximaciones sucesivas • Algoritmo de búsqueda binaria

  8. 2.1Aproximaciones sucesivas basados en un DAC • Al final de la conversión, el valor digital en el SAR es el voltaje VD/A sin los 0.5 VLSB de la señal de entrada • El convertidor D/A determina la precisión y la velocidad del convertidor A/D • Se necesita un muestreo y retención a la entrada • SAR: registro digital de aproximaciones sucesivas • Control lógico totalmente digital • Ejecutan la búsqueda binaria

  9. 2.2. A/D de redistribución de carga unipolar • Modo muestreo: capacidades están cargadas a Vin el comparador se pone al voltaje umbral • Modo mantenimiento:se abre S2,todas las C se unen a tierra. Vx, cambia a –Vin, con lo cual se llevaVin al array de condensadores.Vref se aplica al array de capacidades durante un ciclo • Ciclo de bit:la capacidad más grande se conmuta a Vref. y Vx pasa a valer (-Vin + Vref/2) Si Vx< 0=> Vin> Vref/2 el CMSB se conecta a Vref.. b1 se considera que es 1 Si Vx> 0 CMSB se conecta a tierra y b1 pasa a ser 0 1 1 1

  10. 2.3. A/D de redistribución de carga de signo con un voltaje de referencia simple • Modo muestreo: todas las C se cargan aVin mientras el comparador se pone a la Vumbral. La C mayor se conecta a Vref /2 • Modo mantenimiento:el comparador primero se resetea, y las C se unen a tierra. Vx, cambia a –Vin /2 • Ciclo de bit: la C mayor se conecta a tierra si Vx> 0 • Si Vx< 0 => Vin> 0, b1= 1, la conversión procede como en el caso unipolar • Si Vx> 0, b1= 0, la C mayor cambia a tierra, Vx llega a –Vin /2 – Vref /4 y en la conversión se procede como en el caso unipolar

  11. Convertidores flash o paralelos • Son de muy alta velocidad • Vin se compara con diferentes niveles de tensión. • Si Vin > Vref => Salida comparador = 0, si no = 1 • Ej: Si Vin = (6/8) x R x Vref entonces entrada al encoder 0001111

  12. Convertidores flash o paralelos Vri Vin 1º Carga de C 2º Si Vin < Vri => Salida inversor = 1 (descarga de C) Si Vin > Vri => Salida inversor = 0 (carga de C)

  13. Convertidores flash o paralelos Agunas cuestiones de diseño de convertidores flash • Carga de la capacidad de entrada • Bowing (“Inclinación”) de la cadena de resistencias • Retardo latch-to-track en el comparador • Retardo de la señal y/o del reloj • Supresión del error de burbuja

  14. Convertidores flash o paralelos • Carga de la capacidad de entrada • - El gran número de comparadores conectados a Vin provoca un gran carga parásita en el nudo Vin. • - La carga de una gran capacidad a menudo limita la velocidad del convertidor Flash • - Normalmente requiere un fuerte y poderoso buffer para conducir Vin.

  15. Convertidores flash o paralelos • Bowing (“Inclinación”) de la cadena de resistencias • - Las corrientes de entrada de los comparadores bipolares, producen errores en las tensiones de los nodos de la cadena de resistencias. • - Su corrección puede ser obtenida usando circuitería adicional para forzar a que su tensión central sea correcta.

  16. Convertidores flash o paralelos • Retardo latch-to-track en el comparador • - Tiempo que tarda un latch del comparador en en pasar de modo latch a modo track cuando se presenta una pequeña señal de entrada de la polaridad opuesta a la del periodo anterior. • - Esto se puede minimizar manteniendo las constantes de tiempo pequeñas. Esto se consigue a veces manteniendo la ganancia de los latches pequeña.

  17. Convertidores flash o paralelos • Retardo de la señal y/o del reloj • - Incluso muy pequeñas diferencias en la llegada del reloj o de las señales de entrada a los diferentes comparadores pueden causar errores • - Una de las formas de solucionar esto es preceder al convertidor de un circuito de muestreo y retención (S/H = Sample and Hold).

  18. Convertidores flash o paralelos • Ruido de alimentación y de sustrato • Se acoplan fácilmente a través de la circuitería o el sustrato produciendo errores. • Para minimizar este problema: • - el reloj debe ser protegido del sustrato y de la circuitería analógica. • - relojes diferenciales juntos: se previene que las señales se acoplen en el sustrato o a través del aire. • - fuentes de alimentación analógicas separadas de las digitales.

  19. Convertidores flash o paralelos • Supresión del error de burbuja • - A veces un sólo '1' aparece dentro de la cadena de '0s' (o un '0' dentro de una cadena de '1s') debido a la metaestabilidad del comparador, ruido, cross-talk, ancho de banda limitado, etc. • - Estas burbujas normalmente ocurren cerca del punto de transición del código termométrico. • - Afortunadamente, estas burbujas, pueden eliminarse con una pequeña complejidad extra reemplazando las puertas NAND de 2 entradas con puertas NAND de 3 entradas.

  20. Convertidores flash o paralelos - Ahora debe haber dos errores seguidos para producir error. - Pero este circuito no elimina el problema del todo.

  21. Convertidores A/D de dos pasos (o de subrango) • Convertidores A/D de dos pasos • Son los más populares para alta velocidad y precisión media. Esta popularidad es debida a varias ventajas que tienen sobre los flash. • menor área de silicio, • menor potencia, • menor carga de capacidad, • voltajes menos estrictos, • Aunque: • tienen un retardo mayor, • necesitan CAD más complejos.

  22. Convertidores A/D de dos pasos (o de subrango) 1- El A/D MSB de 4 bits determina los primeros 4 MSBs 2- Se halla el error de cuantificación 3- El error de cuantificación se multiplica primero por 16 4- y los LSBs se determinan usando el A/D LSB de 4 bits. En lugar de requerir 256 comparadores como en un convertidor flash de 8 bits, sólo se necesitan 32 comparadores en un convertidor de dos pasos.

  23. Convertidores A/D de dos pasos (o de subrango): Corrección digital de errores • Razón para la corrección digital de errores: facilitar los requisitos del convertidor A/D MSB de 4 bits. Sin corrección de errores, este primer convertidor A/D necesita una precisión del al menos 8 bits. Con corrección de errores sólo necesita 4 bits. • Curiosidad:Aunque el segundo S/H no es necesario, su propósito es permitir que el primer S/H muestree una nueva señal de entrada antes de que el amplificador de ganancia haya terminado de amplificar el valor anterior.

  24. Convertidores A/D de interpolación • - El funcionamiento es muy similar al flash. • El número de amplificadores de entrada unidosa Vin se reduce significativamente. • Esto produce: • una menor capacidad de entrada (que es bastante alta para el convertidor flash), • una leve reducción de la alimentación • y un menor número de voltajes de referencia necesarios.

  25. Convertidores A/D interpolación

  26. Convertidores A/D interpolados Los niveles lógicos se asumen 0 y 5 voltios, con los comparadores de entrada teniendo su máxima ganancia en torno a -10. El umbral del latch está cerca del punto medio de los 2 niveles lógicos (en torno a 2.5 V.). A medida que Vin crece, el latch para V1 se dispara primero, seguido de V2a y así en adelante hasta V2. Como resultado, se crean más niveles de referencia entre V1 y V2.

  27. Convertidores A/D folding (plegables) • Aunque el nº de amplificadores de entrada puede reducirse a través del uso de una arquitectura interpolada, el nº de comparadores de latch sigue siendo 2N para un convertidor de N bits. • Este alto número de comparadores puede reducirse considerablemente usando una arquitectura folding. • Un convertidor A/D folding es similar en funcionamiento al de de subrango en que un grupo de LSBs se encuentra separado de un grupo de MSBs. • De todos modos, mientras que un convertidor de dos pasos requiere una convertidor A/D de precisión, un convertidor A/D folding determina el conjunto LSB más directamente a través del uso de un preprocesamiento analógico mientras que el conjunto MSB se determina al mismo tiempo.

  28. Convertidores A/D folding (plegables) Pregunta de examen: Diseñar el bloque lógico

  29. Convertidores A/D folding (plegables) • Los bloques foldingpueden realizarse usando pares diferenciales trenzados de transistores. • Vout=Va OR Vb • Vb=1 si Vr3<Vin<Vr4 • Va=1 si Vr1<Vin<Vr2 • Con Vr1<Vr2<Vr3<Vr4

  30. Convertidores A/D folding (plegables) Problema:tiene una gran capacidad de entrada similar a la del convertidor flash. De hecho, los convertidores flash tienen similares etapas de entrada de pares diferenciales de transistores para cada comparador. Una alternativa es usar folding e interpolación a la vez.

  31. Convertidores A/D pipelined (en tubería) • La arquitectura de dos pasos descrita anteriormente puede generalizarse a múltiples etapas, donde cada etapa encuentra un sólo bit. • Pero, una implementación correcta de esta aproximación sería muy lenta, ya que cada bit tiene que esperar por el anterior. • Para ello se incorpora pipelining. Cuando la primera etapa termine su trabajo, inmediatamente empieza a trabajar con la siguiente muestra.

  32. Convertidores A/D pipelined (en tubería)

  33. Convertidores A/D pipelined (en tubería) • El diagrama de bloques de un DAPRX se muestra en la figura 13.32.

  34. Convertidores A/D pipelined (en tubería) • Lleva N ciclos de reloj procesar cada señal de entrada (si por ejemplo la latencia es N), una nueva muestra puede entrar en la estructura pipeline cada ciclo de reloj. • Aunque la tasa de procesamiento es sólo de una muestra por ciclo, la complejidad es sólo proporcional a N lo que es menor que otras arquitecturas que también procesan una muestra por señal. • Esto hace de los convertidores A/D pipelined una buena opción donde el área pequeña es importante.

  35. Convertidores A/D pipelined (en tubería) • En algunas implementaciones pipelined, más de un bit se convierte por etapa. • El estado actual del arte es de 12 a 15 bits para los convertidores pipelined con corrección de errores a 1 o 2 MHz. La velocidad se espera que aumente considerablemente en un futuro cercano.

  36. Convertidores A/D de tiempoentrelazado (compartido) • Las conversiones A/D de muy alta velocidad se pueden realizar operando en paralelo con múltiples convertidores A/D. • Aquí F0 es un reloj de 4 veces la velocidad de F1, F2, F3, F4. Además de F1 a F4 están desfasados entre sí el periodo de F0, tal que cada convertidor obtendrá sucesivamente muestras de la señal de entrada Vin muestreadas a la velocidad de F0. De esta forma, los 4 convertidores operan a un cuarto la velocidad de la frecuencia de muestreo de entrada.

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