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10 Seleção de Sistemas de Medição. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial. E agora ?. Motivação. As Opções. A Medição. 10.1. Considerações Iniciais. Dificuldades para Selecionar o Melhor SM. Algumas conseqüências da má seleção do SM: incerteza de medição incompatível;
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10 Seleção de Sistemas de Medição Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial
E agora ? Motivação As Opções A Medição Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 2/34)
10.1 Considerações Iniciais
Dificuldades para Selecionar o Melhor SM • Algumas conseqüências da má seleção do SM: • incerteza de medição incompatível; • manutenções muito freqüentes e menor vida útil; • operação difícil, cara e/ou demorada; • difícil integrar a sistemas pré-existentes; • custos de aquisição, manutenções e calibrações excessivamente elevados; • assistência técnica deficiente ou inexistente; • erros de classificação excessivos no CQ; • má qualidade final dos produtos. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 4/34)
Um Caminho para Selecionar um Sistema de Medição • Defina bem a tarefa de medição; • Avalie os aspectos técnicos; • Avalie os aspectos logísticos; • Avalie os aspectos econômicos; • Pondere adequadamente os aspectos mais importantes e selecione o SM. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 5/34)
10.2 Caracterização da Tarefa de Medição
Caracterização da Tarefa de Medição • Defina bem a tarefa de medição; • Avalie os aspectos técnicos; • Avalie os aspectos logísticos; • Avalie os aspectos econômicos; • Pondere adequadamente os aspectos mais importantes e selecione o SM. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 7/34)
Caracterização da Tarefa de Medição • O que medir? Caracterize o mensurando. O que medir? Em que posição medir? Média ou valor local? • Por que medir? Por que as medições são necessárias? Qual a sua utilidade no contexto da aplicação? • Onde medir? Local onde as medições devem ser efetuadas: no laboratório? Integrada ao processo produtivo? Em locais variáveis (requer sistema portátil)? Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 8/34)
tolerância faixa de medição Caracterização da Tarefa de Medição • Como medir? Particularidades ou condições especiais a observar antes ou ao medir. • Faixa de medição: Deve ser função da faixa de valores esperada para o mensurando. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 9/34)
Caracterização da Tarefa de Medição • Incerteza de medição: Níveis de incerteza compatíveis com necessidades técnicas e/ou do processo produtivo (IM = IT/10). • Resolução: Definir a resolução necessária ao indicador (R = IT/20). • Velocidade de medição: Número de medições por unidade de tempo ou, alternativamente, o tempo necessário para completar a medição de um item. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 10/34)
Caracterização da Tarefa de Medição • Taxa de medição: No caso de grandezas dinâmicas, especificar o número de medições seqüenciais que devem ser adquiridas por unidade de tempo. • Condições do ambiente de medição: Faixa de temperatura, vibrações, sujeira ou outros contaminantes, a campo eletro-magnéticos, etc. • Nível de automação: Medição totalmente computadorizada, parcialmente computadorizada ou totalmente manual. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 11/34)
Caracterização da Tarefa de Medição • Recursos de processamento: Especificar recursos de processamento e representação de resultados requeridos. Gráficos, base de dados, relatórios e controle estatístico de processos, etc. • Outros requisitos: Especificar alguma outra particularidade específica. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 12/34)
10.3 A Seleção do Sistema de Medição
5 = pleno 4 = bem 3 = razoável 2 = mal 1 = não atende Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 14/34)
Aspectos Técnicos • Adequação do SM ao mensurando: Concepção física compatível com as características do mensurando. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 15/34)
Aspectos Técnicos • Adequação da Faixa de Medição: De acordo com as necessidades da tarefa de medição e análise do contexto. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 16/34)
Aspectos Técnicos • Adequação da Incerteza de Medição Deve atender às necessidades da tarefa de medição (10% do IT). • Resolução do Mostrador Deve ser compatível com as necessidades da tarefa de medição (5% do IT). • Velocidade de Medição Os tempos de preparação e de utilização devem ser observados. Não deve causar fadiga no operador. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 17/34)
Aspectos Técnicos • Taxa de Medição Deve atender às necessidades da tarefa de medição. • Robustez operacional Deve ser adequado às condições de operação. • Praticidade Operacional Facilidade de uso e conforto operacional. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 18/34)
Aspectos Técnicos • Grau de Automação Devem atender às necessidades da tarefa de medição. SM de “arquitetura aberta” devem ser preferidos. • Recursos de Processamento. Capacidade de atender às necessidades da tarefa de medição. Configurabilidade. • Outros Requisitos Atendimento às particularidades da tarefa de medição. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 19/34)
5 = pleno 4 = bem 3 = razoável 2 = mal 1 = não atende Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 20/34)
5 = pleno 4 = bem 3 = razoável 2 = mal 1 = não atende Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 21/34)
Aspectos Logísticos • Prazo de Entrega Deve ser conveniente. Em estoque versus sob encomenda. • Atendimento Pós-Venda Adaptação e operacionalização. Treinamento de operadores. Assistência técnica e manutenções. Calibrações. História e reputação do representante e fabricante. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 22/34)
Aspectos Logísticos • Atualizações Política de atualização tecnológica. Modularidade. • Outros Aspectos Compatibilidade com sistemas já existentes. Estoque de peças de reposição. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 23/34)
5 = pleno 4 = bem 3 = razoável 2 = mal 1 = não atende Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 24/34)
CUN = custo unitário Q = quantidade CUT = custo total Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 25/34)
Aspectos Econômicos • Investimento Inicial • Custos de aquisição • do SM, dispositivos e acessórios • impostos, fretes e desembaraços (importação) • Custos de preparação • climatização e estabilização do ambiente de medição • dispositivos e acessórios especiais • treinamento e qualificação de operadores Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 26/34)
Aspectos Econômicos • Custo Operacional • Estabilização das condições ambientais: • climatização, limpeza, energização. • Mão de obra: • custos diretos e indiretos; • grau de especialização; • treinamentos periódicos. • Insumos: • consumíveis e energia. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 27/34)
Aspectos Econômicos • Custo Operacional (continuação) • Manutenções e calibrações: • regulares e emergenciais. • Depreciação: • degradação com uso regular. • Imobilização do capital: • perda de receita devido à imobilização de capital. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 28/34)
CUN = custo unitário Q = quantidade CUT = custo total Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 29/34)
Juntando Tudo ... • Verifique os Aspectos Técnicos: • descarte os SMs que não atendem um ou mais aspectos técnicos relevantes; • considere uso de mais de um SM para atender a velocidade de medição; • pontue os SM candidatos aprovados. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 30/34)
Juntando Tudo ... • Verifique os Aspectos Logísticos: • descarte os SMs que não atendem um ou mais aspectos logísticos relevantes; • pontue os SM candidatos aprovados. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 31/34)
Juntando Tudo ... • Verifique os Aspectos Econômicos: • considere o investimento inicial e os custos operacionais em um período de tempo conveniente; • se necessário, considere uso de mais de um SM para atender as demandas da medição; • calcule os custos totais. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 32/34)
Juntando Tudo ... • O SM Selecionado Deve: • melhor atender os três grupos de critérios simultaneamente; • é possível tomar a decisão com base em um índice calculado a partir das pontuações e custos envolvidos. Diferentes pesos devem ser atribuídos em função das conveniências; Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 33/34)
Tabela Comparativa Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 10 - (slide 34/34)