1 / 21

METODE PENELUSURAN DAN KLASIFIKASI PATEN

METODE PENELUSURAN DAN KLASIFIKASI PATEN. Disampaikan Oleh : Ir. Azhar. 1. Tujuan Penelusuran. Mencari prior art yang terkait dalam bidang teknik invensi, yang bertujuan untuk mengetahui peluang sukses invensi yang diajukan.

taryn
Download Presentation

METODE PENELUSURAN DAN KLASIFIKASI PATEN

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. METODE PENELUSURAN DAN KLASIFIKASI PATEN Disampaikan Oleh : Ir. Azhar

  2. 1. Tujuan Penelusuran • Mencari prior art yang terkait dalam bidang teknik invensi, yang bertujuan untuk mengetahui peluang sukses invensi yang diajukan. • Prior art bermanfaat dalam menyusun butir b) dan butir c) Pasal 22 PP34.

  3. Manfaat lain hasil dari penelusuran paten: • Mengantisipasi kemungkinan terjadinya pelanggaran paten • Mengarahkan kegiatan riset dan pengembangan • Mencegah terjadinya tumpang tindih dalam melakukan riset • Memprediksi teknologi masa depan

  4. 2. Lingkup Penelusuran • Penelusuran harus dilakukan mencakup semua bidang teknik dokumen prior art yang memiliki klasifikasi yang relevan. • Penelusuran dapat diperluas hingga bidang-bidang yang analog.

  5. 3. Subyek Penelusuran • Penelusuran harus ditujukan pada invensi yang ditetapkan oleh klaim-klaimnya. • Penelusuran harus mencakup semua subject matter yang secara umum dipandang ekivalen dengan subject matter invensi yang diklaim untuk semua fiturnya.

  6. 4. Prosedur Penelusuran • Pertama harus dipelajari dokumen yang akan diajukan untuk menentukan subjek dari invensi yang diklaim, yang dilakukan dengan melihat uraian dalam deskripsi dan gambar. • Klasifikasikan menurut Klasifikasi Paten Internasional (IPC).

  7. 5. Perangkat Penelusuran • Sumber dokumen pembanding yang tersedia pada Kantor Paten. - CD-ROM (espace A/B, Access A/B, Usapat, dll) - Database permohonan paten Indonesia - Koleksi Publikasi (Permohonan) Paten Negara lain: Amerika, Jepang, Korea, dll. - Internet, misalnya ESPACENET, USPTO, IP AU, dll. • Sumber dokumen pembanding yang tersedia pada Intansi yang lain.

  8. Contoh : alamat email //www.ipdljpo.go.jp/homepg_e.ipdl //gb.espacenet.com/ //ep.espacenet.com/ //www.uspto.gov/patft/index.html //pericles.ipaustralia.gov.au dll

  9. 6. Strategi Penelusuran • Pilih grup IPC yang paling dapat diterapkan pada invensi • Pilih dokumen yang relevan dengan kebaruan (novelty) dan langkah inventif (inventive step) • Pengecualian tidak ada cited document yang ditemukan, penelusuran dapat juga diakhiri jika: - dokumen yg mengantisipasi kebaruan ditemukan, - kemungkinan untuk mendapatkan dokumen prior art lebih lanjut yg relevan sangat kecil.

  10. 7. Subjek yang tidak perlu dilakukan penelusuran • Dianggap bukan invensi atau yang tidak dapat diberi paten. • Permohonan yang keseluruhannya tidak jelas (Obscurities). • Permohonan yang bertentangan (conflicting appliactions)

  11. 8. Bagaimana melakukan penelusuran • Disini akan dijelaskan penelusuran dengan menggunakan disk ACCESS RP-A dan disk EP-B. • Penelusuran dilakukan dengan menggunakan: - klasifikasi (IPC) - kata-kata dari judul dan abstrak (EP-A) atau dari judul dan klaim (EP-B). - dokumen sitasi (EP-B), atau dengan menggunakan - nama inventor dan/atau pemohon.

  12. 8.1. Disk CD-ROM • RSPACE ACCESS EP-A • Yang dapat ditelusuri: data bibliografi (nomor paten, nomor permohonan, nomor prioritas, pemohon), klasifikasi (IPC), judul dalam bahasa Inggris. Perancis dan Jerman, abstrak dalam bahasa Inggris. - Referensi silang terhadap FIRST dan ESPACE EP serta WORLD untuk melihat halaman pertama (dengan gambar halaman pertama) atau dokumen lengkap.

  13. ESPACE ACCESS EP-B • Yang dapat ditelusuri: data bibliografi (nomor paten, nomor permohonan, nomor prioritas, pemohon), klasifikasi (IPC), judul dan klaim bahasa Inggris, Perancis dan Jerman dan dokumen sitasi (cited documents) • Disk-diks ESPACE, EP, EP-B, WORLD DAN FIRST menggunakan sistem pengarsipan yang sangat baik dan dapat digunakan untuk mempelajari dokumen-dokumen secara lebih detail lagi.

  14. 9. Klasifikasi: IPC • Internasional Patent Classification (IPC) merupakan klasifikasi paten yg digunakan secara universal. • Dokumen paten dalam CD-ROM ESPACE dilasifikasi berdasarkan Klasifikasi Paten Internasional (IPC). • Meskipun tidak sangat sempurna penelusuran dengan IPC lebih dapat diandalkan dibandingkan dengan menggunakan kata-kata. • IPC dipublikasikan oleh WIPO (Geneva) dalam bentuk kertas dan CD-ROM IPC: CLASS. Disk ini berisi edisi yg berbeda dalam beberapa bahasa (Inggris, Perancis,Jerman, Spanyol dan Hongaria), dan indeks Catchwords.

  15. 9.1. Beberapa edisi IPC yang berbeda Edisi pertama IPC ditetapkan di Eropa tahun 1968, dan keenam lainnya digunakan sejak penerapan sistem ini pada tanggal 1 Januari 1995. Edisi baru dikeluarkan sekali dalam lima tahun: Edisi ke 1: berlaku sampai 21/12/74 Edisi ke 2: berlaku dari 1/1/75 sampai 31/12/79 Edisi ke 3: berlaku dari 1/1/80 sampai 31/12/84 Edisi ke 4: berlaku dari 1/1/85 sampai 31/12/89 Edisi ke 5: berlaku dari 1/1/90 sampai 31/12/94 Edisi ke 6: berlaku dari 1/1/95 sampai 31/12/99

  16. 9.2. Kode Pengindeksan IPC juga berisi “kode pengindeksan”. Simbol-simbol dicetak pada dokumen paten dengan tanda titik dua (:), bukan garis miring (/). Akan tetapi pada ESPACE semua simbol tersebut sekarang diberikan dengan tanda “/”, dan perlu ditelusuri dengan menggunakan tanda “/”. Informasi yang direpresentasikan pada dokumen-dokumen cetakan itu dalam bentuk kode pengindeksan berkaitan (diantara tanda kurung) dinyatakan tanpa tanda kurung pada disk ACCESS.

  17. 9.3. Bidang MC dan IC Dalam ESPACE, simbol-simbol IPC yg menyatakan hasil pengklasifikasian dinyatakan sbb: • MC (main classification) untuk klasifikasi pertama • IC untuk klasifikasi atau kode pengideksan yang lain (dinyatakan secara tidak tepat dengan tanda “:”) • MC = hanya menelusuri klasifikasi utama • IC = menelusuri semua klasifikasi (MC juga secara otomatis ditelusuri).

  18. 9.4. Bagaimana mencari klasifikasi yang relevan Pada dasarnya ada dua metode yang berbeda: 1. Melakukan penelusuran pada catchword index dan/atau teks IPC. Cara ini dapat dilakukan dengan menggunakan edisi-edisi IPC berbentuk kertas, atau CD-ROM IPC:CLASS WIPO. Akan tetapi, hal-hal ini harus diperhatikan, dimana: grup dapat dengan mudah terlewatkan bila menggunakan kata-kata yang salah, yaitu kata-kata yg tidak digunakan dalam teks IPC atau catchword indeks. 2. Mencari jumlah dokumen yg relevan dan mengecek klasifikasinya.

  19. 9.5. Metode deskripsi Klasifikasi Paten Internasional IPC dibagi kedalam seksi, kelas, grup utama, dan sub grup secara hirarki. 1. Seksi/sub-seksi Semua teknologi yang dapat dipaten diberi kelompok 8 seksi, tiap seksi diberi kode indikasi dari huruf A sampai dengan H. Tidak ada indikasi untuk sub-seksi. 2. Kelas/sub-kelas Sebuah seksi dibagi lagi dalam dua kelas. Kelas ditampilkan dengan sebuah kode seksi dan dua nomor. Setiap kelas lebih jauh lagi dibagi dalam sub-kelas.

  20. 3. Kelompok atau grup atau sub-grup. Sebuah sub-kelas dibagi dalam grup-grup. Sebuah grup mengandung sebuah grup utama dan sebuah sub-grup. Contoh klasifikasi paten. B 41 M 5/26 B : Seksi M : sub-kelas 26: sub-grup. 41: kelas 5 : grup utama

  21. 10. Strategi penelusuran yang lengkap • Penelusuran lengkap biasanya dilakukan dengan menggunakan IPC maupun kata-kata. • Masalah yang dihadapi bukan hanya untuk mencari klasifikasi IPC dan kata-kata yang tepat, tetapi juga bagaimana mengkombinasikannya ?

More Related