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实验三 存储器、总线控制实验. 1.4 存储器实验. 1.5 总线控制实验. 实验目的. 1. 2. 3. 4. 实验设备. 实验原理. 实验步骤. 3.1 存储器、总线控制实验. 3.1.1. 一 . 实验目的. 1. 掌握静态随机存储器 RAM 工作特性。 2. 掌握静态随机存储器 RAM 的数据读写方法。. 3.1.2. 二 . 实验设备. ZYE1601B 计算机组成原理教学实验箱一台; 排线若干。. 3.1.3. 三 . 实验原理. MEM 的数据 =〉DB. 6116 ( 16Kbit ) 存储器.
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实验三 存储器、总线控制实验 • 1.4存储器实验 • 1.5总线控制实验
实验目的 1 2 3 4 实验设备 实验原理 实验步骤 3.1 存储器、总线控制实验
3.1.1 一.实验目的 • 1. 掌握静态随机存储器RAM工作特性。 • 2. 掌握静态随机存储器RAM的数据读写方法。
3.1.2 二.实验设备 • ZYE1601B计算机组成原理教学实验箱一台; • 排线若干。
3.1.3 三.实验原理 MEM的数据=〉DB 6116(16Kbit) 存储器 AB在LED上显示 74LS273 锁存AB LDAR*T3 DATA=>AB
3.1.4 四.实验步骤 • 1. 形成时钟脉冲信号T3,具体接线方法和操作步骤如下: • ① 将时序电路模块中的CLOCK和CK排针相连,TS3和T3相连。 • ② 在时序电路模块(SIGNAL UNIT)中有两个二进制开关“SP03”和“SP04”,将“SP03”开关设置为“RUN”状态、“SP04”开关设置为“RUN”状态时,只要按动微动开关START,则T3的输出为连续的方波信号。当“SP03”开关设置为“STEP”状态、“SP04”开关设置为“RUN”状态时,每按动一次微动开关START,则T3输出一个单脉冲,其脉冲宽度与连续方式相同。
☉ SW_G INPUT ☉ LDAR ADDR CLOCK☉ ☉CK TS3☉ ☉T3 图1-7 存储器实验接线图 SIGNAL CE ☉ WE ☉ SW_G ☉ LDAR ☉ ☉ CE ☉ WE D0···D7 DB MEM AB A0···A7 SWITCH
3. 给存储器的00、01、02、03、04地址单元中分别写入数据11、22、33、44、55,具体操作步骤如下:(以向00号单元写入11为例)
依次读出第00、01、02、03、04号单元中的内容,观察上述各单元中的内容是否与前面写入的一致。具体操作步骤如下:(以从00号单元读出11数据为例)依次读出第00、01、02、03、04号单元中的内容,观察上述各单元中的内容是否与前面写入的一致。具体操作步骤如下:(以从00号单元读出11数据为例)
4.验证带进位运算及进位锁存功能。 • 使Cn=1,Ar=0来进行带进位算术运算:首先向DR1、DR2置数,然后使ALU_G=0,当S3、S2、S1、S0、M的状态为10010时,数据总线上显示的数据为DR1加DR2加当前进位标志得到的结果。这个结果是否产生进位,则要按动微动开关PULSE,若进位标志灯CY亮,表示无进位;若进位标志灯CY灭,表示无进位。
实验目的 1 2 3 4 实验设备 实验原理 实验步骤 1.5总线控制实验
3.2.1 一.实验目的 • 1. 理解总线的概念及其特性。 • 2. 掌握总线传输控制特性。
3.2.2 二.实验设备 • ZYE1601B计算机组成原理教学实验箱一台,排线若干。
3.2.3 三.实验原理 • 总线是多个系统部件之间进行数据传送的公共通路,是构成计算机系统的骨架。借助总线连接,计算机在系统各部件之间实现传送地址、数据和控制信息的操作。因此,所谓总线就是指能为多个功能部件服务的一组公用信息线。 • 总线传输实验框图如图1-8所示,它将几种不同的设备挂至总线上,有存储器、输入设备、输出设备、寄存器。这些设备都需要有三态输出控制,按照传输要求恰当有序的控制它们,就可实现总线信息传输。
3.2.4 四.实验步骤 1. 根据挂在总线上的几个基本部件,设计一个简单的流程: ①输入设备将一个数打入地址寄存器。 ②输入设备将另一个数写入到当前地址的存储器中。 ③将当前地址的存储器中的数用LED数码管显示。 2. 按照图1-9实验接线图进行连线,仔细检查无误后,接通电源。
3. 具体操作步骤图示如下: • 初始状态应设为:关闭所有三态门(SW_G=l,CE=l,LED_G=1),其他控制信号为LDAR=0, WE(RAM)=l,WE(LED)=l。然后按下面的步骤实验(注意执行时的先后顺序)。
要求: • 填写表格,验证 • 完成实验报告