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第十一章 紫外光谱和质谱. exit. 本章提纲. 第一部分 紫外光谱 第二部分 质 谱. 第一部分 紫外光谱的提纲. 第一节 紫外光谱的基本原理 第二节 紫外光谱图的组成 第三节 各类化合物的紫外吸收 第四节 影响紫外光谱的因素. 第一节 紫外光谱的基本原理. 紫外吸收光谱是由于分子中价电子的跃迁而产生的。 紫外吸收光谱的波长范围是 100-400nm (纳米),其中 100-200nm 为远紫外区, 200-400nm 为近紫外区,一般的紫外光谱是指近紫外区。. 第二节 紫外光谱图的组成.
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第十一章 紫外光谱和质谱 exit
本章提纲 第一部分 紫外光谱 第二部分 质谱
第一部分 紫外光谱的提纲 第一节 紫外光谱的基本原理 第二节 紫外光谱图的组成 第三节 各类化合物的紫外吸收 第四节 影响紫外光谱的因素
第一节 紫外光谱的基本原理 紫外吸收光谱是由于分子中价电子的跃迁而产生的。 紫外吸收光谱的波长范围是100-400nm(纳米),其中100-200nm 为远紫外区,200-400nm为近紫外区,一般的紫外光谱是指近紫外区。
第二节 紫外光谱图的组成 紫外光谱图是由横坐标、纵坐标和吸收曲线组成的。 横坐标表示吸收光的波长,用nm(纳米)为单位。 纵坐标表示吸收光的吸收强度,可以用A(吸光度) T(透射比或透光率或透过率)、1-T(吸收率)、(吸收系数)中的任何一个来表示。 吸收曲线表示化合物的紫外吸收情况。曲线最大吸收峰的横坐标为该吸收峰的位置,纵坐标为它的吸收强度。
第三节 各类化合物的紫外吸收 一 饱和有机化合物的紫外吸收 只有部分饱和有机化合物(如C-Br、C-I、C-NH2)的n*跃迁有紫外吸收。 二 不饱和脂肪族有机化合物的紫外吸收 只有具有-共轭和p -共轭的不饱和脂肪族有机化合物可以在近紫外区出现吸收。吸收是由*跃迁和n -*跃迁引起的。
三 芳香族有机化合物的紫外吸收 芳香族有机化合物都具有环状的共轭体系,一般来讲,它们都有三个吸收带。最重要的芳香化合物苯的吸收带为: max= 184 nm ( = 47000) max= 204 nm ( = 6900) max= 255 nm ( = 230)
第四节 影响紫外光谱的因素 一 紫外吸收曲线的形状及影响因素 紫外吸收带通常是宽带。 影响吸收带形状的因素有: 被测化合物的结构、 测定的状态、 测定的温度、 溶剂的极性。 二 吸收强度及影响因素 1 能差因素: 能差小,跃迁几率大 2 空间位置因素: 处在相同的空间区域跃迁几率大
三 吸收位置及影响因素 1 几个基本概念: 生色基:能在某一段光波内产生吸收的基团,称为这一 段波长的生色团或生色基。 助色基: 当具有非键电子的原子或基团连在双键或共轭 体系上时,会形成非键电子与电子的共轭 (p- 共轭),从而使电子的活动范围增大,吸 收向长波方向位移,颜色加深,这种效应称为 助色效应。能产生助色效应的原子或原子团称 为助色基。
红移现象:由于取代基或溶剂的影响使最大吸收峰向长波红移现象:由于取代基或溶剂的影响使最大吸收峰向长波 方向移动的现象称为红移现象。 蓝移现象:由于取代基或溶剂的影响使最大吸收峰向短波 方向移动的现象称为蓝移现象。 增色效应:使值增加的效应称为增色效应。 减色效应:使值减少的效应称为减色效应。
2 max与化学结构的关系 应用伍德沃德和费塞尔规则来估算化合物紫外吸收max的位置。 该公式为: max= 母体二烯烃(或C=C-C=O)+ 环内双烯 + 环外双键 + 延伸双键 + 共轭体系上取代烷基 + 共轭体系上取代的助色基 实例一 max= 217nm(母体二烯烃)+35nm(环外双键) +30nm(延伸双键)+5 5nm(共轭体系上取代烷基) = 287nm
实例二 max= 217nm(母体二烯烃)+ 36nm(环内双烯 )+ 4 5nm(4个取代烷基) +5nm(一个环外双键) + 30nm(一个延伸双键) =308nm 实例三 max= 215nm(C=C-C=O)+30nm (延伸双键)+12nm(-取代) +10nm(-取代) +18nm(-取代)+39nm(环内双键) = 324nm
实例四 max= 215nm(C=C-C=O)+ 30nm(延伸双键)+5nm(一个 环外双键 ) + 12nm( -取代)+18nm( -取代) = 280nm 实例五 max= 215 nm (C=C-C=O)+ 12 nm ( -取代)+25 nm(-溴取代) = 252 nm
第二部分 质谱的提纲 第一节 质谱的基本原理 第二节 质谱图的组成 第三节 离子的主要类型、形成及其应用
第一节 质谱的基本原理 基本原理:使待测的样品分子气化,用具有一定能量的电子束(或具有一定能量的快速原子)轰击气态分子,使气态分子失去一个电子而成为带正电的分子离子。分子离子还可能断裂成各种碎片离子,所有的正离子在电场和磁场的综合作用下按质荷比(m/z)大小依次排列而得到谱图。 使气态分子转化为正离子的方法: EI源 FAB源
第二节 质谱图的组成 质谱图由横坐标、纵坐标和棒线组成。 横坐标标明离子质荷比(m/z)的数值。 纵坐标标明各峰的相对强度。 棒线代表质荷比的离子。
第三节 离子的主要类型、形成及其应用 一 分子离子和分子离子峰 分子被电子束轰击失去一个电子形成的离子称为分子离子。分子离子用M+•表示。 在质谱图上,与分子离子相对应的峰为分子离子峰。 分子离子峰的特点: 1 分子离子峰一定是奇电子离子。 2 分子离子峰的质量数要符合氮规则。 分子离子峰的应用: 分子离子峰的质荷比就是化合物的相对分子质量, 所以,用质谱法可测分子量。
二 同位素离子和同位素离子峰 含有同位素的离子称为同位素离子。 在质谱图上,与同位素离子相对应的峰称为同位素离子峰。 同位素离子峰的特点: 1 同位素一般比常见元素重,其峰都出现在相应一般峰 的右侧附近。一定是奇电子离子。 2 同位素峰的强度与同位素的丰度是相当的。 3 分子离子峰与相应的同位素离子峰的强度可用二项式 (A+B)n的展开式来推算.
同位素离子峰的应用: 1 对于鉴定分子中的氯、溴、硫原子很有用。 2 根据实验测得的质谱中的同位素离子峰的相对强度和 贝诺(Beynon)表,经过合理的分析可以确定化合物的 分子式。
三 碎片离子和重排离子 1 定义 分子离子在电离室中进一步发生键断裂生成的离子称为碎片离子。经重排裂解产生的离子称为重排离子。 EE+指偶电子碎片离子 OE+•指奇电子碎片离子
2 裂解方式 (1) -裂解 由自由基引发的、 由自由基重新组成新键而在-位导致碎裂的过程称为-裂解。
(2) i-碎裂 由正电荷(阳离子)引发的碎裂的过程称为i-碎裂,它涉及两个电子的转移。 i-碎裂 *1 i-碎裂一般都产生一个碳正离子。 *2 对于没有自由基的偶电子离子(EE+),只可能发生 i-碎裂。
(3) -过程 当键形成阳离子自由基时发生的碎裂过程称为-过程。 z/e 15 z/e 29 z/e 43 1 由于-过程 ,烷烃的质谱会现示出m /z 15,29,43,57, 71……一系列偶电子离子碎片。 2 对于正烷烃,这些不同碎片的离子强度有一定的规律,即 C3H7+和C4H9 +的强度最大,然后逐渐有规律地降低。 3 当存在叉链时, -过程 将优先在叉链处碎裂。
(4) H过程 H重排加上-裂解(或i-碎裂,或-过程)称为 H过程。 奇电子离子可以通过自由基引发H过程, 偶电子离子可以通过正电荷引发H过程。 H过程可以通过六元环状过渡态进行, 也可以通过四员环状过渡态进行。
麦克拉夫悌重排裂解(Mclafferty) 具有H氢原子的側链苯、烯烃、环氧化合物、醛、酮等经过六元环状过渡态使H转移到带有正电荷的原子上,同时在、原子间发生裂解,这种重排称为麦克拉夫悌重排裂解。
(5) d过程 H以外的基团的重排过程(一般是烷基)称为d过程。 d M / Z 91(同位素峰 93)
碎片离子及裂解机制的应用 (1)可以对一个具体的有机化合物的 质谱进行解释 (2)可以鉴定化合物。