＊ T8200 8ch 仕様照片只有檢查部

先進之 IC標籤天線檢查裝置Ｔ８２００天線品質不齊之疑慮、全力為客戶守護。＊T8200 8ch仕様照片只有檢查部考慮到將來量產、測定IC Tag・IC Card天線共振周波數跟Q値的檢查裝置。

Ｔ８２００的特徴 同時測定8〜32天線測定一次所必需要的時間、僅僅0.5秒。因應現場量産的要求、除可實現高處理能力及成本效率、進而提供客戶品質安定的IC Tag、IC Card。可對應天線設計變更等等的需求因為裝置簡單、也能裝於量產設備上。裝於生產線上時、可同時測定1ch到32ch同時測定並進行PASS/FAIL的判定因為維修簡單、可以提供客戶「看得見」的安心感。表示於畫面上不只有將以往天線Pattern的Open/Short不良顯示於畫面在測定電氣特性的同時、共振點的跑位、及Q値也會顯示於畫面上。【系統概略圖（例）】

Ｔ８２００的規格

關於共振周波數與Q值 （１）共振周波數　　　下圖中的掃引周波数是在最減衰點時的周波數。（２）Ｑ値　　　Ｑ＝共振周波數／（依共振点ー３ｄＢ的Band寬）（注）共振回路的Ｑ値、雖是以Ｑ＝ωＬ／Ｒ的方式來定義、以本檢査機　　（或是Network Analyzer）所測出Ｑ値、不是絶對値而是相対値。因此、以固定測定條件測定來確保再現性是必要的。正常的天線共振周波數、Q値的波形（以T8200觀測）

②オープン不良時（断線）の共振周波数、Q値の波形（T8200で観測）②オープン不良時（断線）の共振周波数、Q値の波形（T8200で観測） ③Short不良時（短絡）的共振周波數、Q値的波形（以T8200觀測）

④量産試驗中的畫面 如上圖、依設定好的檢査Limit値來判斷Pass/Fail。對NG的天線進行標記的動作(Marking)。將測定Data 存放於決定好的位置(Folder)、以達到品質管理的效果。每小時的處理片數、以T8200 8ch的仕様、有38,400片（8片/列）。以32ch仕様、約有80,000片（8片/列）的檢査能力。（不含不良品Marking的時間）

＊ T8200 8ch 仕様照片只有檢查部