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x 射线多晶衍射测试原理 及样品制备要求. 分析测试中心 2009.9.18. x 射线衍射方法应用范围. 检测对象和内容: 物相定性定量分析,材料合成中的物相确定,药物制备中的晶型测定等;材料结构测定,晶胞参数测定;纳米材料晶粒大小测定;半导体薄膜及多孔材料(粉末、平整的固体平面)的小角衍射 (2θ 在 0.6°-6°) 。 主要应用领域: 多孔材料、半导体材料、矿物、文物、电池填充材料、药物等结晶物质均可用多晶衍射( XRD )作材料性能及材料结构表征工作。. x 射线 多晶研究方法. x 射线 多晶 衍射原理
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x射线多晶衍射测试原理及样品制备要求 分析测试中心 2009.9.18
x射线衍射方法应用范围 检测对象和内容:物相定性定量分析,材料合成中的物相确定,药物制备中的晶型测定等;材料结构测定,晶胞参数测定;纳米材料晶粒大小测定;半导体薄膜及多孔材料(粉末、平整的固体平面)的小角衍射(2θ在0.6°-6°)。 主要应用领域:多孔材料、半导体材料、矿物、文物、电池填充材料、药物等结晶物质均可用多晶衍射(XRD)作材料性能及材料结构表征工作。
x射线多晶研究方法 x射线多晶衍射原理 • 一束波长λ的平行x射线照射到晶面间距为d的一组晶面上,当入射角θ满足布拉格方程时,即可发生衍射。 • 单晶体在衍射方向上可得到一个个分立的衍射点。 • 多晶体的衍射花样是所有单晶颗粒衍射的总和。
粉晶法衍射原理 • 实验中晶体均匀旋转,促使更多的晶面有机会处于上述位置。由于θ相同,结果形成“空间圆锥体”。 • 圆锥体顶角为4θ,母线为衍射线方向。 • 一个“衍射锥”代表晶体中一组特定的晶面。
核心部件 1.高压发生器和x光管 2.测角仪 3.探测器 4.控制和分析软件
In the paste On the interface 2θ x射线衍射图
x射线衍射测试样品制备要求 1、要了解样品的物理化学性质,如是否易燃,易潮解,易腐蚀、有毒、易挥发。 2、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨出一个平面,面积不小于10×10毫米。 3、粉末样品要求磨成可以通过250~300目筛子的粒度,约50微米。粒度粗大衍射强度底,峰形不好,分辨率低。 4、 粉末样品要求在3克左右,如果太少也需5毫克。 5、 样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末,但要求提供样品主要成份。 6、 对于不同基体的薄膜样品,X射线测量的膜厚度约20个纳米。
Ni44Fe56合金薄膜镀态和退火处理后微观结构对比Ni44Fe56合金薄膜镀态和退火处理后微观结构对比
In situ HTXRD of Mg–Al–CO3 LDH as a function of temperature