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イベント構成のチェック. 大阪大学 M 1 梶原 俊. 前回の問題点. 前回、 subevent2 の p1n0 event が p0n1event と比較して多い原因として →横軸時間で見たときのシグナルのピークが、 nside と pside でずれている可能性. イベント構成 ( 全 ). 全 10000event. 今回やったこと. Sub0 において p0n1event が非常に多い原因の調査 Subevent が大きくなるにつれ、 p1n0event が増加する原因の調査 まとめ 〜 P1n0event が p0n1event に比べ、多い原因の考察.
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イベント構成のチェック 大阪大学M1 梶原 俊
前回の問題点 • 前回、subevent2のp1n0 eventが p0n1eventと比較して多い原因として →横軸時間で見たときのシグナルのピークが、nsideとpsideでずれている可能性
イベント構成(全) 全10000event
今回やったこと • Sub0においてp0n1eventが非常に多い原因の調査 • Subeventが大きくなるにつれ、p1n0eventが増加する原因の調査 • まとめ〜 P1n0eventがp0n1eventに比べ、多い原因の考察
p0n1(sub0)チェック P side Sub0においてp0n1が多いの原因は、Psideではadcのピークが しきい値付近だが、Nsideのピークはしきい値より大きい。 →Nsideの方がPsideより、立ち 上がり時点がの早いクラス ターが多い? N side
P1n0増加原因check ADC & cluster width P1n0とp1n1を比較(P side) PsideのADC平均 p1n1:ピンク, p1n0:青 Psideのcluster width平均 p1n1:ピンク, p1n0:青 ADCの分布からsub2付近にピークを持つシグナルが多い ことが確認できる。
P1n0増加原因check(2) Sub2がp1n1の時 Sub2がp1n0の時 Sub2がp1n0ならば、それ以後 のsubeventも同様にp1n0である P1n0eventはsub→大につれ、 累積的に増えていく。 両者のp1n0の和は各subのp1n0全体数の93%以上
P1n0増加原因 条件: sub2 p1n1 & sub3 p1n0 sub大→p1n0大 という傾向を持つのは、ある Subeventがp1n0ならば、それ 以後のsubeventは同様にp1n0 Eventであるため、subeventが 大きくなるにつれ、累積的に 増えていくのだと考えられる。 P side N side
まとめ • 前回問題となった、p1n0eventが多い 理由として、 psideに比べ、nsideは立ち上がり時点が相対的に早いクラスターが多い からであると考えられる。その他、今回、始めにあげたテーマもこのことから生じた結果であると考えられる。
P0N1 -nside ADC 時間/ns
Position cutについて • そもそもイベント構成を調べる当初の 目的の一部に、 片面しかクラスターがないイベントを 通して残留bad stripの影響を見る →その分布からposition cutの適正を確認 があったので、イベント構成の部分にはposition cutは掛けていない →つまり、position cutが原因ではない
P=1,N=0eventの検証(1) P sideが51μm pitchの領域のデータのみ使用 横軸:ch 縦軸:event数 横軸:adc-count 縦軸:event数 p1n0 p1n1
P=1,N=0eventの検証(2) •p1n0とp1n1の入射位置の 分布の範囲は一致 •クラスターのadc分布は p1n0の方が低い範囲まで 広がっている •クラスター幅はp1n0の方が小さい →これらだけではp1n0eventが, •n-sideの検出効率が悪い •p-sideだけのノイズ •両方混在 どれかは判断できないが、いずれかの原因が存在していると思われる。 p1n0 p1n1
2D PLOT 黒:p51 n51 赤:p51 n102 緑:p102 n51 青:p102 n102 ビームの入射位置の 中心がだいたい4つ のエリアの交点あた りだと確認 できる
4つのエリアの交点 2D PLOTの各軸への射影 黒:0度 赤:30度緑:60度
RMS P side N side
Pedestalの決定 •ペデスタルイベントから各chのペデスタルを決定 Pedestal=(各chのraw adc) - (pecorr) - (cmn) pecorr:データの読み出しの順番に依存する値 cmn :Tipが持つノイズ •ペデスタルのRMSの分布からbad stripを決定
Position cut •ビームが当たっている範囲のみ使用 (p side) apv1_55ch~apv2_127ch (non floating) apv3_00ch~apv3_45ch (floating) (n side) apv5_55ch~apv6_127ch (non floating) apv7_00ch~apv7_45ch (floating) →bad stripの影響除去 •P-sideとN-sideのクラスターの数が 同数であることを要求(1 or 2個) →noise除去 P side N side 黒:subevent 0 赤:subevent 1緑:subevent 2 青:subevent 3黄:subevent 4桃:subevent 5 入射角0度のdataから作成
P1N0eventチェック 30000event中、sub2において、ある特定のstripが p1n0eventのクラスターの一部なのは 22event Sub0は全てp0n0 Sub1~Sub5のうちp1n0が 5つ→13event 4つ→8event(その他 p1n1 , p2n0 , p0n0) 3つ→1event(その他 p1n1 & p2n0) すなわち、sub2でp1n0eventだったものは時間によらず P1n0eventである。
P1N0増加原因まとめ • Sub2がp1n1のときの、他のsubのp1n0の event数から、 sub大→p1n0event数大 の傾向を確認 • シグナルのピーク付近のsub2でp1n0の場合、その他のsubeventでもほぼp1n0イベントである。 →この二点から,sub大→p1n0大の傾向を理解 p1n0eventはp1n1eventのnside不検出 p1n0event自体が存在 の2成分から成る。