1 / 17

XIS 低エネルギー側QE PC の QE 、 XIS-EU のQEの測定

XIS 低エネルギー側QE PC の QE 、 XIS-EU のQEの測定. 林田 清、勝田哲、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、他 大阪大学XISチーム. X-rays. X-rays. ガス比例計数管(PC):斜入射較正実験. 異なる入射角における比例計数管のスペクトル. 45°. 0°. 30°. Counts. PH (ch). 白庄司M論 Hayashida et al., 2004 SPIE. 2004 年1月実験の 再解析. 比例計数管の窓のメッシュ 50 m m 厚、 0.5mm ピッチ 開口率 0.763 (X 線で実測)

Download Presentation

XIS 低エネルギー側QE PC の QE 、 XIS-EU のQEの測定

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. XIS低エネルギー側QEPCのQE、XIS-EUのQEの測定XIS低エネルギー側QEPCのQE、XIS-EUのQEの測定 林田 清、勝田哲、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、他 大阪大学XISチーム

  2. X-rays X-rays ガス比例計数管(PC):斜入射較正実験

  3. 異なる入射角における比例計数管のスペクトル異なる入射角における比例計数管のスペクトル 45° 0° 30° Counts PH (ch) 白庄司M論 Hayashida et al., 2004 SPIE

  4. 2004年1月実験の再解析 • 比例計数管の窓のメッシュ • 50mm厚、0.5mmピッチ • 開口率0.763 (X線で実測) • 断面○ではなく□を仮定 • 30°/0°と45°/0°を              同時フィット • X線発生装置の長期変                 動を補正

  5. 比例計数管の検出カウントの比 30°/0° 45°/0°

  6. 比例計数管QEのモデル 斜入射実験:今回の解析 窓透過率測定(2000年)

  7. 斜入射法により検出効率を求めた比例計数管をリファレンス検出器としてXISの検出効率を求めた。斜入射法により検出効率を求めた比例計数管をリファレンス検出器としてXISの検出効率を求めた。 比例計数管 XIS2

  8. C-Kのデータ点モデルの1/3以下 0.277keVの点を除いて一定の相対重みでフィット

  9. どうがんばっても一様吸収モデルでC-Kをあわせるのは難しいどうがんばっても一様吸収モデルでC-Kをあわせるのは難しい

  10. 検討課題 • XIS-FMのQE絶対値の精度は比例計数管のQEの精度で決まっている。 • ガス不感層の厚みはエネルギーによらないか?厚みはもっともな値か? • PENELOPEによるシミュレーションをする予定 • メッシュの斜入射透過率のよりよいモデルは?反射は効かないか? • 打ち上げ後BI0について斜入射実験ができればベスト。 • FI-CCD,BI-CCDともに0.3keV以下のレスポンスに関してはQEモデルの検討必要。

  11. バッドコラム その1 • (1) 転送不良 Trail ColumnPH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V 25 55 381 271 1 / 668 325V 27 61 1029 4 -1 / 668 336V 30 64 1490 -2 -1 / 668 239V 24 54 1471 1 1 / 668 729V 22 62 1043 164 -2 / 668 239V 22 44 1672 1 1 / 668 221V 32 145 1316 3 0 / 668 570<PH[7]-PH[2]>で判別可能(e.g. >8AU)

  12. バッドコラム その2 (2)上下漏れ出し ColumnPH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V 189 393 551 486 6 / 238 897V 4 6 1565 7 0 / 238 97V 179 353 549 346 3 / 238 798V 0 5 1548 3 2 / 238 171V 109 293 498 335 4 / 238 610V 204 394 565 459 8 / 238 919PH[7]>SplitTH(e.g.20) && PH[2]>SplitTH(e.g.20)のイベントの割合(e.g. >0.2)で判別可能

  13. バッドコラムその3 (3) Flickerging PixelPH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V 26 74 81 42 17 / 51 879V 1 5 58 1 -3 / 51 262V -1 -2 54 2 3 / 51 262V -1 3 75 1 1 / 51 262V 0 671 945 2 0 / 51 272V 1 2 1779 1 2 / 51 717ピクセル毎のイベントの頻度で判別可能(e.g.>0.1c/frame)

  14. xisDL/xisread • XIStrailCorrection • XIStrailCheck • XISareaSelect

  15. バッドコラムの数 • EU= 21 • FI0=14, FI1=12, FI2=17,FI3=24 • BI0=23, BI1=50 • 探すmodule=XIStrailCheck • 除外するmodule=XISselectArea

  16. A/I • 電荷もれ補正したデータで解析しなおす(京大) • QE

  17. やらなければいけない多くのこと • 打ち上げ前の試験@相模原&鹿児島 • 鹿児島運用準備、相模原運用準備 • マイクロコードの準備と管理(試験は?) • 相模原と鹿児島のQLソフト • バッドコラム、ホットピクセル、CTI、ゲイン管理。そのための体制 • 応答関数作成 • BIの解析法、P-sum の応答、電荷漏れ補正、CTI補正、PIの決定、各応答関数成分の • 観測者用FITSファイルのチェック、ソフトのテスト • 運用のもろもろ(SAA前後、CTI、ジッターDAC)

More Related