1 / 22

5 テスト技術 5.1 テストとは

5 テスト技術 5.1 テストとは. LIS のテスト 製造不良の判別 故障診断 fault diagnosis 故障箇所の特定 故障解析 fault analysis 故障の物理的要因の究明. 5.1.1 論理回路のテストの基本 5.1.2 テスト品質とテストコスト. テストパターン テストで用いる入力のこと テスト品質 例．故障のカバー率 テストコスト テスト時間，テスト装置，テスト用の回路，テストパターン生成時間．．．. 0 0 1 0. 回路. 正常時： 1 故障時： 0. 故障発見 !. 5.2 故障モデル. 全数テスト

jena-wall
Download Presentation

5 テスト技術 5.1 テストとは

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. 5 テスト技術5.1 テストとは • LISのテスト • 製造不良の判別 • 故障診断 fault diagnosis • 故障箇所の特定 • 故障解析 fault analysis • 故障の物理的要因の究明

  2. 5.1.1 論理回路のテストの基本5.1.2 テスト品質とテストコスト • テストパターン • テストで用いる入力のこと • テスト品質 • 例．故障のカバー率 • テストコスト • テスト時間，テスト装置，テスト用の回路，テストパターン生成時間．．． 0 0 1 0 回路 正常時：1 故障時：0 故障発見!

  3. 5.2 故障モデル • 全数テスト • 現実的でないことが多い • 故障モデル fault model • 想定される故障を検出するようテストパターンを生成

  4. 5.2.1 故障モデルの考え方 VDD 欠陥 defect 故障 fault 1 誤り error 0 1 正常時：1 故障時：0 1

  5. 5.2.1 故障モデルの考え方 • 良い故障モデルの条件 • 実際によく生じる欠陥の振る舞いを表現 • 生成したテストパターンが他のモデルの故障も検出 • 計算機での扱いが簡単 • 故障モデルの分類 • 論理故障と非論理故障 • 単一故障と多重故障

  6. 5.2.2 縮退故障 stuck-at fault • 最も広く用いられている故障モデル • 0縮退故障 • 1縮退故障 0 GND VDD 1

  7. 5.3 テストパターン生成5.3.1 テストパターンと故障検出率 • 前提 • 組み合わせ回路 f(X) • 論理故障 a • 故障差関数 • F(X) = f(X)  fa(X) • テストパターン • F(X)=1となるX x1 x2 VDD 故障関数 1 x1 x2

  8. 0 0 GND GND 0 等価故障 equivalent fault • 故障関数が同じ故障

  9. 考慮すべき故障の数とテストパターン数 N: 信号線数 n: 入力ビット数

  10. x1x2 1 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 テスト不能故障，冗長故障 • テストできない故障 • 組み合わせ回路の場合，冗長故障 • その部分の回路は冗長なため x1 x1 a/1 x2 x2 x1 x2

  11. 故障研修率，故障検出効率 • 故障検出率 (%) • 故障検出効率(%) 検出する故障数 総仮定故障数 ×100 検出する故障数 総仮定故障数－テスト不能故障数 ×100

  12. 自動テストパターン生成 ATPG • 生成におけるポイント • 生成時間が短い • 故障検出率が高い • テストパターン数が少ない • 基本技術 • 5.3.2 故障シミュレーション • パターンから検出できる故障を求める • 5.3.3 テスト生成 • 故障から，検出できるパターンを求める

  13. テスト生成の流れ • ランダムテストパターンの生成と故障シミュレーション • 未処理の故障が無ければ終了．あれば３へ． • ある未検出故障に対するテストパターンを生成． • パターンが生成できなければ２へ．できれば５へ． • 生成されたパターンに対し故障シミュレーション．２へ．

  14. 5.3.2 故障シミュレーション • 与えられたテストパターンが検出できる故障を求める • 故障n個のとき，n+1個の回路をシミュレート a/1 a/1 1 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 0 a/1 a/0 a/0 1 1 1 0 0 0 0 0 0 a/0

  15. 5.3.3 アルゴリズムによるテスト生成 • 与えられた故障を検出するテストパターンを求める • 2分決定グラフ(BDD)による故障差関数 • 充足可能性問題(SAT) • 経路活性法 (path sensitization method) 回路の形状を基に，信号伝搬経路を見てゆく • Dアルゴリズム，PODEM, FAN, SOCRATES

  16. 5値論理 真理値表　ＡＮＤ 出力がDかDになるように，入力値を定める

  17. 1 図5.11　正当化操作 （入力側に値を設定） 図5.12　含意操作 （決定できる値を設定） 0 D D 図5.13　故障の伝搬操作 D 1 図5.10　故障の顕在化 （0縮退故障を仮定） 1 D

  18. D D 出力がDかDになるように，入力値を定める 1 1 0 １ 0 0 D D D D 1 0 1 テストパターン： (a, b, c, d) = (0, 0, x, 0)

  19. 5.3.5 順序回路のテスト • 極めて困難 • 時間展開モデル

  20. 5.4 スキャン設計 • テスト容易化設計（DFT, Design for Testability）の一種 • フリップフロップの値を外部から制御・観測できるように回路を設計

  21. 5.5 組込み自己テストBIST (built-in self test) • テストパターン発生，出力系列の解析などを内蔵回路によって行う手法 • 5.3.2 テスト発生回路 • LFSRがよく用いられる

  22. 5.5 組込み自己テストBIST (built-in self test) • 応答解析回路 • シグネチャ(signature)を出力 • 出力系列を圧縮したもの • 見逃し(aliasing)の可能性 • エラーが含まれている出力系列のシグネチャが，正常な場合と一致してしまうこと • 確率は少ない MISR

More Related