实验 4.1 电路元件伏安特性的研究 ………………………… P101

国家工科电工电子基础教学基地国家级实 验教学示范中心实验4.1 电路元件伏安特性的研究…………………………P101 实验4.2 半导体器件的图测方法…………………………P105

实验目的： • 学习测量电路元件VCR特性的逐点测试方法； • 学习半导体管特性图测方法的基本原理； • 掌握用晶体管特性曲线求参数的方法；电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

电路元件的VCR特性的逐点测试方法 线性电阻元件的VCR特性： I 过原点的一条直线: U 电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

电路元件的VCR特性的逐点测试方法 半导体二极管的VCR特性： I 反向特性: 正向特性: U 反向击穿特性电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

电路元件的VCR特性的逐点测试方法 如何获得VCR特性曲线? ———— 描点 I U 电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

mA mA mA V V 电路元件的VCR特性的逐点测试方法电阻元件的VCR特性测试电路：稳压电源 + 实验内容1-（1） R －二极管的VCR特性测试: 稳压电源正向测试？ + D 内容1-（2、3）反向测试？－电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

BJT的共射输出特性曲线的逐点测试方法 BJT的共射输出特性曲线：测试过程：每固定一个iB值，改变Ec使uCE从零逐步变化到某一定值，测出一组uCE—iC的值，描绘出一条iB为一固定值的iC=f（uCE）的曲线；再改变一个iB值，重复上述过程，可得到另一条曲线。以此类推，便可得到不同iB时对应的一组共发射极晶体管的输出特性曲线。电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

半导体管特性的图测法 半导体管特性图示仪：是一种利用电子扫描原理，在示波管的荧光屏上直接显示半导体管特性曲线的仪器。为了进行所谓动态测量，可用集电极扫描电压代替可调直流电源EC，用一个阶梯波电压发生器代替提供基极电流的可调直流电源Eb，得到如下图所示的动态测量系统。电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

动态测量系统： 用集电极扫描电压代替可调直流电源EC，用一个阶梯波电压发生器代替提供基极电流的可调直流电源Eb。电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

半导体管特性的图测法 图示仪原理框图：电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

Y轴作用部分 X轴作用部分图示仪面板主要有: 测试台部分集电极扫描信号部分阶梯信号部分电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

Y轴作用部分 X轴作用部分集电极扫描信号部分阶梯信号部分测试台部分电子科大国家级实验教学示范中心电子技术实验基础

mA V 实验内容 1. 电路元件的VCR特性的逐点测试（1）线性电阻的VCR特性测试按照电路图接好电阻元件和仪器，逐一进行点测，并填写在下表：稳压电源 + － R －电子技术实验基础电子科大国家实验教学示范中心

mA V 实验内容（2）二极管的正向特性测试选择二极管2CW51。按照下图电路进行正向特性测试，数据填入表中。稳压电源 + D －电子技术实验基础电子科大国家实验教学示范中心

mA V 现代电子技术实验实验内容（3）二极管的反向特性测试选择二极管2CW51，按照下图的测试电路完成反向特性测试。将测试数据填入表中。稳压电源 + 实验箱 D －电子技术实验基础电子科大国家实验教学示范中心

现代电子技术实验 实验内容 2. 半导体管特性的图测法（1）测量线性电阻的VCR特性选择一个线性电阻插入插座中，在电阻两端逐渐增加电压至5V，观察波形。根据波形，绘出该电阻的特性曲线。注：测试时功耗电阻置于1k （2）测量稳压二极管的正向特性和反向特性在同一座标上绘出二极管正反向特性曲线。并测试出以下参数：（a）正向导通（门槛）电压。（b）反向稳定电压Vz（IR=5mA时）。（c）反向电流IR（VR=5V时）。电子技术实验基础电子科大国家实验教学示范中心

实验内容 （3）测量晶体管的输出特性（a）调节图示仪有关控制件，测绘输出特性曲线。（b）在曲线上标出饱和区、截止区和放大区。（c）设VCE =5V，适当选择和记录IBQ，测量、。 iC △IC IC VCE =5V 电子技术实验基础电子科大国家实验教学示范中心

下次预习: 第3次课：实验3.1 常用电子仪器的使用(P70) • 示波器、函数发生器（信号源）、晶体管毫伏表的使用。 • 体会实验内容所对应的目的及要求。电子技术实验基础电子科大国家实验教学示范中心

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