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DICE-5203K 单片机开发实验系统简介

DICE-5203K 单片机开发实验系统简介. 系统组成. 开放式键盘实验电路 ; 由 12864 组成的 LCD 图文实验电路 ; 16×16 点阵电路 ; 8155 、 8250 、 8251 、 8253 、 8255 、 0809 、 0832 、 RS232/485 等常用接口电路 ; 小型直流电机、步进电机、温度压力、电子音响电路喇叭等. 存贮器地址分配. I/O 地址分配. CZ11 :用户实验通讯接口. CZ4 :打印接口. JX0 , JX17 为系统提供的数据总线接口. CZ7 :系统提供的扩展接口. JX12 、 JX14 :液晶显示接口.

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  1. DICE-5203K 单片机开发实验系统简介

  2. 系统组成 • 开放式键盘实验电路; • 由12864组成的LCD图文实验电路; • 16×16点阵电路; • 8155、8250、8251、8253、8255、0809、0832、RS232/485等常用接口电路; • 小型直流电机、步进电机、温度压力、电子音响电路喇叭等

  3. 存贮器地址分配

  4. I/O地址分配

  5. CZ11:用户实验通讯接口

  6. CZ4:打印接口

  7. JX0,JX17为系统提供的数据总线接口

  8. CZ7:系统提供的扩展接口

  9. JX12、JX14:液晶显示接口

  10. LED发光二极管指示电路

  11. 逻辑电平开关电路

  12. 单脉冲电路

  13. 分频电路

  14. 脉冲发生电路

  15. 485接口电路

  16. 通讯接口电路

  17. 数码管显示电路

  18. 键盘电路

  19. 目标CPU(AT89S52)的控制电路

  20. 存储器控制电路

  21. 实验1. 熟悉开发环境 • 一、实验目的 • 熟悉DICE-51系统开发环境,学会并行口仿真器的使用。使用集成开发环境编译、下载、调试并跟踪一段已有的程序,了解嵌入式开发的基本思想和过程。

  22. 二、实验内容 • 本次实验使用DICE-51集成开发环境。新建一个简单的工程文件,并编译这个工程文件。学习并行口仿真器的使用和开发环境的设置。下载已经编译好的文件。学会在程序中设置断点,观察系统内存和变量,为调试应用程序打下基础。

  23. 三、预备知识 • 汇编语言的基础知识、程序调试的基础知识和方法。

  24. 四、实验步骤 • 硬件连接 • 1.SW1:程序空间选择开关, SW1—>UP • 2.仿真器所接实验系统的JCF(IDC34)口为系统通讯口,用于程序的仿真、连接、装载 。

  25. 具体步骤: • 按老师讲解一步一步实现 • 要求:同时开始,同时完成,遇到问题马上问老师

  26. 五、思考练习 • 1.联系调试菜单中的各种命令 • 2.在调试过程中,观察寄存器窗口,数据窗口的变化 • 3.编写调试一程序 • 单字节十六进制数转换成双字节 ASCII 码 • 功 能:单字节十六进制数转换成双字节 ASCII 码 • 入口条件:待转换的单字节十六进制数在累加器 A 中。 • 出口信息:高四位的 ASCII 码在 A 中,低四位的 ASCII 码在 B 中。

  27. 实验2. 数据排序实验 • 一、实验目的 • 熟悉51指令系统,掌握程序设计方法

  28. 二、实验内容 • 编写并调试一个排序子程序,其功能为用冒泡法将内存RAM中几个单字节无符号的正整数,按从小到大的次序重新排列。

  29. 三、程序框图

  30. 四、实验步骤 • 将RAM 50H~5AH 中放入不等的数据,用断点方法运行本实验程序后检查50H~5AH中的内容是否按从小到大的次序排列。

  31. 六、思考练习 • 编写程序: • 1.单字节无符号数据块排序 • 功 能:单字节无符号数据块排序(增序) • 入口条件:数据块的首址在 R0 中,字节数在 R7 中。 • 出口信息:完成排序(增序)

  32. 2.顺序查找(ROM)单字节表格 • 功 能:顺序查找(ROM)单字节表格 • 入口条件:待查找的内容在 A 中,表格首址在 DPTR 中,表格的字节数在 R7 中。 • 出口信息:OV=0 时,顺序号在累加器 A 中; OV=1 时,未找到。

  33. 3.双字节二进制无符号数乘法 • 功 能:双字节二进制无符号数乘法 • 入口条件:被乘数在 R2、R3 中,乘数在 R6、R7 中。 • 出口信息:乘积在 R2、R3、R4、R5 中。

  34. 实验3. 脉冲计数(定时/计数器实验) • 一、实验目的 • 熟悉单片机内部定时/计数器功能,掌握初始化编程方法。

  35. 二、实验内容 • 把定时器0外部输入的脉冲进行计数,并送显示器显示。

  36. 三、程序框图

  37. 四、实验接线图

  38. 五、实验步骤 • 用插针把8MHZ插孔和T插孔连接,P3.4 依次接T0~T7或单脉冲输出孔,执行程序,观察数码管上计数脉冲的速度及个数。

  39. 七、思考练习 • 1.修改程序使显示器上可显示到999999个脉冲个数。

  40. 实验4. P1口转弯灯实验 • 一、实验目的 • 进一步了解P1口的使用,学习汇编语言编程方法及调试技巧。 • 二、实验内容 • P1.0 开关接5V,右转弯灯闪亮,P1.1开关接5V时左转弯灯闪亮,P1.0,P1.1开关同时接5V或接地时,转弯灯均不闪亮。

  41. 三、程序框图

  42. 四、实验接线图

  43. 五、实验步骤 • P1.0 接K1,P1.1接K2,P1.4~P1.7接L1、L5、L9、L13,连续运行本程序,应看到转弯灯正确闪亮,在用单步方式调试本程序时需修改延时子程序,(例可把延时程序第一个字节改成返回指令22H),以便观察。

  44. 七、思考练习 • 编写程序并调试: • 功能:P3口输入,P1口输出 • 要求:P3.3口输入一脉冲,PI口按16进制加一方式点亮发光二极管。P3.3用接针连至K1 P1.0~P1.7插针连至L1~L8,K1拨动一次,L1~L8发光二极管按16进制方式加一点亮。

  45. 实验5. 8255A.B.C口输出方波 • 一、实验目的 • 掌握可编程I/O接口芯片8255的接口原理使用,熟悉对8255初始化编程和输入/输出软件的设计为法。 • 二、实验内容 • 在8255的A.B.C口用万用表可测出每个口线的高低电平变化。

  46. 三、程序框图

  47. 四、实验步骤 • 执行程序,用万用表测量8255A.B.C口应有高低电平变化(或用8255A.B.C口分别用插针连至Ll~L8,观察发光二极管变化情况)。

  48. 实验6. 8255控制交通灯 • 一、实验目的 • 进一步了解8255芯片的结构及编程方法,学习模拟交通控制的实现方法。 • 二、实验内容 • 用8255做输出口,控制十二个发光二极管燃灭,模拟交通灯管理。

  49. 三、程序框图

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