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微奈米量測技術 : 磁力顯微術 (MFM). 班級 : 奈米四甲 學號 49914027 姓名 : 林暐皟. 磁力顯微術 (MFM). 所謂磁力顯微術是指利用磁性探針與樣品間的磁交互作用去取得表面磁化結構的一種掃描探針顯微術 (SPM) ,在 1987 年時,馬汀及威克倫馬辛首先利用原子力顯微術 (AFM) 的非接觸式操作模式,將一根經過化學腐蝕的鐵針磁化過後彎曲作為磁性探針,然後在薄膜磁頭上觀察到第一個 MFM 影像,不過馬汀兩人所得到的 只有磁力影像 ,而無法得到 表面結構 。. 備註 : 北京汇德信科技有限公司 - 高分辨磁力显微镜( hr-MFM ).
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微奈米量測技術:磁力顯微術(MFM) 班級:奈米四甲 學號49914027 姓名:林暐皟
磁力顯微術(MFM) 所謂磁力顯微術是指利用磁性探針與樣品間的磁交互作用去取得表面磁化結構的一種掃描探針顯微術 (SPM),在 1987 年時,馬汀及威克倫馬辛首先利用原子力顯微術 (AFM) 的非接觸式操作模式,將一根經過化學腐蝕的鐵針磁化過後彎曲作為磁性探針,然後在薄膜磁頭上觀察到第一個 MFM 影像,不過馬汀兩人所得到的只有磁力影像,而無法得到表面結構。 備註:北京汇德信科技有限公司-高分辨磁力显微镜(hr-MFM)
磁力顯微鏡基本結構 磁力顯微鏡的主要結構: 壓電掃描儀 (1)在 x, y和 z方向上移動樣品。 (2)通過不同方向上的電極施加電壓。通常,每1到10 nm 1伏特。 (3)圖像通過在樣品表面進行緩慢的光柵掃描得以形成。 (4)掃描區域從幾個到200微米。 (5)成像時間從幾分鐘到30分鐘。 (6)根據懸臂材料的不同,懸臂恢復力常數從0.01到100N/m。 磁性薄膜的表面磁區及磁壁分布
磁力顯微術原理示意圖 將AFM 的探針鍍上磁性薄膜,然後利用輕敲式的操作模式得到樣品表面的型態影像,在取得某點的高度之後,將探針拉高到一固定距離,然後在量測探針振頻或相位等變化,得到磁力影像。
結論 磁力顯微鏡 (MFM)是源於原子力顯微鏡。 探針和樣品之間的磁力可以測量。 雜散磁場的圖像可以通過磁化探針在樣品表面進行的光柵掃描獲得。 早期使用非接觸式AFM方式,只能得到磁力影像;現大多利用兩段掃描,先得到表面形狀,然後在定高度掃描取得磁力影像,其對於奈米尺寸結構的貢獻很大。
參考文獻 http://zh.wikipedia.org/zhtw/%E7%A3%81%E5%8A%9B%E9%A1%AF%E5%BE%AE%E9%8F%A1磁力顯微鏡- 维基百科 http://web1.knvs.tp.edu.tw/AFM/ch6.htmAFM-掃描式磁力顯微鏡 http://tc.wangchao.net.cn/baike/detail_912354.html磁力顯微鏡- 王朝網路 https://www.google.com.tw/url?sa=t&rct=j&q=&esrc=s&source=web&cd=3&ved=0CEUQFjAC&url=http%3A%2F%2Ffshare.stust.edu.tw%2Fretrieve%2F34637%2Findex.html&ei=Os94UHiKIKzlQXAz4HYCQ&usg=AFQjCNHuHh7-xzzTzAxTir1-0JwSAyfMkg&sig2=TWKFWdIQatUwVTKTlyOr2A磁力顯微術(MFM)