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放射線計測を目的とした 半導体検出器用アナログ ASIC の低雑音化

放射線計測を目的とした 半導体検出器用アナログ ASIC の低雑音化. 東京大学理学系研究科物理学専攻 ISAS/JAXA. 田村 健一. 蛭田 達朗、高橋 忠幸(東大理、 ISAS/JAXA ) 高島 健 、 中澤 知洋 ( ISAS/JAXA ) 池田 博一 (高エ研) 、木原 邦夫 (広大理). NASA. X 線・可視光で見た 活動銀河( Cen-A). アナログ ASIC = 次世代検出器の実現の鍵. 硬 X 線イメージャ( 10 ~ 100keV ). CdTe 半導体. CdTe のピクセル型半導体 (テルル化カドミウム).

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放射線計測を目的とした 半導体検出器用アナログ ASIC の低雑音化

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  1. 放射線計測を目的とした半導体検出器用アナログASICの低雑音化放射線計測を目的とした半導体検出器用アナログASICの低雑音化 東京大学理学系研究科物理学専攻 ISAS/JAXA 田村 健一 蛭田 達朗、高橋 忠幸(東大理、ISAS/JAXA) 高島健、中澤知洋(ISAS/JAXA) 池田博一(高エ研)、木原邦夫(広大理) NASA X線・可視光で見た 活動銀河(Cen-A)

  2. アナログASIC = 次世代検出器の実現の鍵 硬X線イメージャ(10~100keV) CdTe半導体 CdTeのピクセル型半導体 (テルル化カドミウム) 10 keV の硬X線 [1,2,3] 2300 e のキャリアが発生 目標は 2次元アナログASIC 雑音レベル<100e-(RMS) (CdTeで1keV(FWHM)に相当) 低雑音のアナログ回路を研究するため 64chアナログASICを開発・ノイズ評価 [1]高橋et al, IEEE Trans. Nucl. Sci. (2001) [2]田中et al, New Astro. (2003) [3]中澤et al, IEEE Trans. Nucl. Sci. (2004)

  3. P/H 2pF 2pF CSA Vth =高抵抗回路 コンパレータ 64chアナログASICの回路構成 ピークホールド回路 1chの回路 10mm 5mm

  4. P/H 2pF 2pF CSA Vth =高抵抗回路 コンパレータ 64chアナログASICの回路構成 ピークホールド回路 1chの回路 低雑音のための工夫点 10mm ・ CSA用増幅器の初段FETをPMOSに 5mm

  5. P/H 2pF 2pF CSA Vth =高抵抗回路 コンパレータ 64chアナログASICの回路構成 ピークホールド回路 1chの回路 低雑音のための工夫点 10mm ・ CSA用増幅器の初段FETをPMOSに ・ kT/Cノイズを無視できるように  積分回路を挿入してS/N比の向上 5mm

  6. 64chアナログASICの基本仕様 ファウンダリ TSMC0.35-mm CMOS 消費電力 108 mW (1.5mW/ch) 回路サイズ 120 mm × 5 mm / ch 整形時定数 0.5 us ~ 1.9 us 増幅率 40uV / e- ~ 640uV / e-

  7. CdTe半導体と接続して動作実証 ・64 ch のうち 1ch にCdTeダイオードを接続 (2 mm 角、0.5 mm 厚) ・セルフトリガーでイベント取得 ・動作条件:20 ℃、バイアス電圧 400V 133Ba のスペクトル 241Amのスペクトル 4.6 keV [FWHM] 5.4 keV [FWHM] 飽和 80keV 0keV 40keV 0keV 40keV 80keV ラインガンマ線のスペクトルの取得に成功 半導体を読み出せる実用的なノイズレベル達成

  8. ノイズレベルの評価 容量 vs ノイズレベル コンデンサー を挿入 ※配線の容量はゼロとしてプロット ノイズレベル CIN 65 e/pF CSA (e-) 50 e/pF 実測値 317 e- @ 0pF SPICEシミュレーションの結果 シミュレーションより悪い 91 e- @ 0pF 入力容量 CIN(pF) 実測値の容量勾配はシミュレーションより30%も大きい 入力容量に依存したノイズがのっている ⇒ CSAに原因?

  9. ノイズ源の考察(1) 原因の究明 ノイズ源を追っていくと CINに依存するノイズ源 ⇒ CINに接続している初段FETが怪しい マイナス電源(VSS)が揺れると ⇒ 初段FETのドレイン電流が揺れる ⇒ 初段FETのゲート電圧が揺れる CIN シミュレーションで定量的に評価 初段FET -1.3V(VSS)の揺れ  0.1mV p-p @100 kHzで 約 40e- 悪化 VSS 実際の測定セットアップで無視できない大きさ 電源の揺れに対する感度を下げる対策へ

  10. ノイズ源の考察(2) 対応策の検討 CSA回路を改良 この部分の回路 RCフィルターを追加 従来の回路

  11. CSA回路の改良後の効果 電源(VSS)の揺れに対する感度のシミュレーション結果 電圧 感度(dB) 1/10 の電圧感度へ 周波数(Hz) 電源ラインの揺れの影響を無視できる 次回のアナログ回路からこの回路を導入

  12. まとめ ・64 ch 1次元 アナログASICを設計・開発・評価 ・ラインガンマ線スペクトルの取得に成功 ΔE= 4.6 keV (FWHM) @ 59.5 keV ・半導体検出器を読み出し可能な実用的なノイズレベル ノイズレベル = 317e- (RMS) @0pF ・ノイズレベルがシミュレーションの91e- に届かなかった原因を考察 ⇒CSAが電源の揺れに弱いことを発見し、解決策を提案 今年の目標 32×32 ch、200 um ピッチの 2次元アナログASICを開発 レイアウト図

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