1 / 16

建構半導體代工業專利分類支援系統：專利共同引用分析的觀點

建構半導體代工業專利分類支援系統：專利共同引用分析的觀點. 作者：吳曉君. 緒論. 各國專利商標局核准專利時，依據專利的技術特性，指派適當的分類碼，以方便未來專利檢索。而分類碼指派的方法是專利審查人依據分類系統的分類原則，檢視專利宣告範圍後主觀決定。 由於 IPC 或 UPC 分類系統可能會有一致性或客觀性不足，以及分類方式與部份產業技術領域的對應不佳的問題，直接採用 IPC 或 UPC 分類的資料進行產業技術預測或競爭分析，分析結果無法反映真正的技術趨勢與競爭現況。對專利分析而言， IPC 或 UPC 並不是一個好的分類系統。. 書目計量學.

emmanuel-maddox
Download Presentation

建構半導體代工業專利分類支援系統：專利共同引用分析的觀點

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. 建構半導體代工業專利分類支援系統：專利共同引用分析的觀點建構半導體代工業專利分類支援系統：專利共同引用分析的觀點 作者：吳曉君

  2. 緒論 • 各國專利商標局核准專利時，依據專利的技術特性，指派適當的分類碼，以方便未來專利檢索。而分類碼指派的方法是專利審查人依據分類系統的分類原則，檢視專利宣告範圍後主觀決定。 • 由於IPC或UPC分類系統可能會有一致性或客觀性不足，以及分類方式與部份產業技術領域的對應不佳的問題，直接採用IPC或UPC分類的資料進行產業技術預測或競爭分析，分析結果無法反映真正的技術趨勢與競爭現況。對專利分析而言，IPC或UPC並不是一個好的分類系統。

  3. 書目計量學 • 書目計量學的文獻分析（citation analysis）是研究論文引用網路，以了解學科間的關係與發展、或文獻傳播的歷程，進而分析研究現況與未來趨勢的一種研究方法。 • 叢集分析是文獻分析的技巧之一，分析的原理是根據論文引用網路以評估文獻間的相似性，再依文獻間相似性，將關係密切的文獻聚集，產生多個叢集，以達成文獻分類的目的。

  4. 書目計量學 • 關於文獻間相似性的衡量，書目計量學有共被引（co-citation）與書目對（bibliographic coupling）兩種方法。

  5. PCA設計理念 • PCA採用書目計量學「共被引」的概念分類專利。

  6. PCA方法論

  7. 第一階段：專利檢索與定義產業基礎專利 • 專利檢索 • 產業基礎專利的選擇

  8. 第二階段：基礎專利對相似性的評估（1/3） • 計算基礎專利對共被引的次數 • 與 為待分類專利與基礎專力間的引證關係

  9. 第二階段：基礎專利對相似性的評估（2/3） • 計算基礎專利對連結強度 • 基礎專利 共被引的次數 • 基礎專利 被引證的總次數

  10. 第二階段：基礎專利對相似性的評估（3/3） • 將基礎專利對其他基礎專利的連結強度分為二組 • 計算專利對Pearson相關係數

  11. 第三階段：專利分類系統的產生 • 因素分析 • 分類績效評估

  12. PCA的假設與限制 • 假設： • 專利引用的行為是嚴謹的，非任意的。至於引用的原因是技術相關、或功能相關，不影響分析結果。 • 專利被引用的次數是專利重要程度的指標之一，但本研究只使用專利被引用的次數來篩選基礎專利。 • 限制： • 模式中使用的專利資料庫必須包含專利間引用的資訊。 • 由於執行因素分析的軟體，如：SAS、SPSS，無法處理256個以上的變數，所以基礎專利不可超過256。 • PCA是一種data mining的方法，專利數多且引用頻繁的專利才可使用PCA。

  13. 半導體代工業專利分類系統 半導體代工業專利分類系統 Metal interconnection Trench capacitor Stack capacitor STI salicide SOI

  14. IPC、UPC、PCA三種分類系統之比較

  15. UPC與PCA分類系統的適用對象

  16. 賴奎魁老師上課教材 • 周延鵬（2006）。虎與狐的智慧力。台北，天下文化。 • 袁建中、謝志宏、彭弼聲（譯），Martino, J. P. 著（2005）。產業分析之技術預測方法與實例。美商麥格羅希爾。 • 王世仁（2002）。專利工程導論。台北，俊傑書局。 • 工業技術研究院企劃處。專利地圖。新竹，工研院。 • 陳碧莉（1995）。專利地圖在研究開發上之應用。新竹，工研院。 • 簡國明、洪長春、吳典熹、王永銘、藍怡平（2003）。奈米二氧化鈦專利地圖及分析。台北，國科會。

More Related