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Ciências de Materiais I Prof. Nilson C. Cruz

Ciências de Materiais I Prof. Nilson C. Cruz. Aula 4 Imperfeições em arranjos atômicos. Defeitos cristalinos. São irregularidades na rede cristalina com dimensões da ordem do diâmetro atômico. Defeitos Lineares. • Deslocamentos. Defeitos Interfaciais. • Contornos de Grãos.

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Presentation Transcript


  1. Ciências de Materiais I Prof. Nilson C. Cruz

  2. Aula 4 Imperfeições em arranjos atômicos

  3. Defeitos cristalinos São irregularidades na rede cristalina com dimensões da ordem do diâmetro atômico.

  4. Defeitos Lineares • Deslocamentos Defeitos Interfaciais • Contornos de Grãos Defeitos cristalinos • Lacunas ou Vacâncias • Átomos Intersticiais • Átomos Substitucionais Defeitos Pontuais

  5. Distorção de planos Defeitos Pontuais Lacuna (ou vacância) = ausência de um átomo ou íon em uma posição cristalográfica

  6. Defeitos Pontuais Número de Lacunas (Nv) Nv = Ne-Q/kT N= n° posições atômicas na estrutura cristalina Q = energia para formação de uma lacuna T= temperatura absoluta (K) k = 1,38x10-23J/átomo-K = 8,62x10-5 eV/átomo-K = 1,987 cal/mol-K (constante de Boltzmann)

  7. 4 átomos/célula Nv ==8,47x1022 átomos Cu/cm3 (3,6151x10-8cm)3 Número de Lacunas Exemplo Calcule a concentração de vacâncias no cobre a 25oC. A que temperatura será necessário aquecer este metal para que a concentração de vacâncias produzidas seja 1000 vezes maior que a quantidade existente a 25oC? Assuma que a energia para a formação de lacunas seja 20000 cal/mol e o parâmetro de rede para o cobre CFC é 0,36151 nm. Solução O número de átomos ou posições na rede cristalina, por unidade de volume, do cobre é a 25°C (T=298K): Nv = 8,47x1022 e-20000/(1,987x 298) = 1,81x108 lacunas / cm3 para que Nv seja 1000 vezes maior, 1,81x1011 = 8,47x1022e-20000/(1,987 T) T = 102 °C

  8. Distorção de planos Defeitos Pontuais Defeitos intersticiais = presença de um átomo ou íon em uma posição não pertencente à estrutura cristalina.

  9. Defeitos Pontuais Defeitos substitucionais = quando um átomo da rede cristalina é substituído por outro de tamanho diferente.

  10. Defeitos Pontuais Defeito Frenkel Defeito Schottky

  11. Defeitos Pontuais Soluções Sólidas Substitucionais Ex. Cu em Ni Intersticiais Ex. C em Fe

  12. Segunda fase Diferente composição Diferente estrutura Soluções sólidas com altas concentrações do soluto

  13. ½,½,½ ¼,½,0 ½,0,0 ½,0,0 Número de Lacunas Exemplo No ferro com estrutura CFC, átomos de carbono podem ocupar o centro de cada aresta (posição 1/2, 0, 0) e o centro da célula unitária (1/2, 1/2, 1/2). No ferro CCC, os átomos de carbono podem se localizar em posições como a 1/4, 1/2, 0. O parâmetro de rede do Fe é 0,3571 nm para a estrutura CFC e 0,2866 nm para o ferro CCC. Assuma que os átomos de carbono tenham raios de 0,071 nm. 1) Em qual dessas situações ocorrerá a maior distorção do cristal pela presença de átomos intersticiais de carbono? 2) Qual seria a porcentagem de átomos de carbono em cada tipo de ferro se todos os sítios intersticiais fossem ocupados? CFC CCC

  14. ¼,½,0 Número de Lacunas Exemplo a) O raio dos átomos de Fe CCC é R = √3 a0/4 = 0,1241 nm. O tamanho da posição intersticial em ¼,½,0 para esta estrutura pode ser determinada a partir da figura abaixo. Assim, (R+r)2 = (¼ a0)2 +(½ a0)2 Desta forma, r = 0,0361 nm

  15. r R Para a estrutura CFC, R = √2 a0 / 4 = 0,1263 nm. Além disso, segundo a figura abaixo, 2r + 2R = a0 então, r = 0,0522 nm Desta forma, como o espaço intersticial é menor no ferro CCC, os átomos de carbono distorcerão mais este tipo de estrutura.

  16. 12 átomos de carbono 4 átomos de carbono 12 átomos de carbono + 2 átomos de ferro 4 átomos de carbono + 4 átomos de ferro b) A estrutura CCC possui dois átomos de ferro em cada célula unitária. Além disso, existem 24 posições intersticiais do tipo ¼,½,0. Entretanto, como cada posição está localizada na face da célula, apenas metade de cada sítio pertence exclusivamente a uma célula. Assim, existem de fato 12 posições intersticiais para cada célula unitária. Se todas estas posições estiverem ocupadas, a porcentagem atômica de carbono contida no ferro será %at C= X100 = 86% Na estrutura CFC, existem 4 átomos de ferro e 4 posições intersticiais em cada célula. Assim, %at C= X100 = 50% CCC: 1,0% CFC: 8,9%

  17. Soluções sólidas Regras de Solubilidade para soluções substitucionais (Hume – Rothery) 1) Diferença entre raios atômicos <±15% 2) Mesma estrutura cristalina para os metais 3) Eletronegatividades semelhantes 4) Valência maior = maior solubilidade

  18. Soluções sólidas Eletro negatividade Raio atômico (nm) Elemento Estrutura Valência Cu 0,1278 CFC 1,9 +2Ag 0,1445 CFC 1,9 +1Al 0,1431 CFC 1,5 +3Co 0,1253 HEX 1,8 +2Cr 0,1249 CCC 1,6 +3Fe 0,1241 CCC 1,8 +2Ni 0,1246 CFC 1,8 +2Pd 0,1376 CFC 2,2 +2Zn 0,1332 HEX 1,6 +2 1) Mais Al ou Ag em Zn? Solubilidades desprezíveis, estruturas diferentes. Al maior valência, mais solúvel. 2) Mais Zn ou Al em Cu? Al (CFC), Zn (Hex). Al mais solúvel.

  19. Soluções sólidas: Especificação da Composição Porcentagem em peso (%p) mi = massa do componente i Porcentagem atômica (%at) nmi = número de moles do componente i

  20. Compressão Expansão Defeitos Lineares Discordância de Aresta é um defeito provocado pela adição de um semiplano extra de átomos. Semiplano adicional Discordância de aresta

  21. b Defeitos Lineares Vetor de Burgers bindica a magnitude e a direção da distorção da rede cristalina Deslocamento de aresta

  22. Defeitos Lineares Discordância Espiralocorre quando uma região do cristal é deslocada de uma posição atômica. Linha de Discordância Vetor de Burgers

  23. Vetor de Burgers Discordância Espiral: Vetor de Burgers

  24. Defeitos Lineares Discordância Mistaé o tipo mais provável de discordância e corresponde à mistura de discordâncias de aresta e espiral.

  25. Defeitos Lineares Deslizamentoé o processo que ocorre quando uma força causa o deslocamento de uma discordância. Tensão

  26. Defeitos Lineares Deslizamentoocorre mais facilmente em planos e em direções com altos fatores de empacotamento.

  27. Deslizamentoocorre mais facilmente em planos e em direções com altos fatores de empacotamento: Diferentes estruturas cristalinas  Diferentes propriedades mecânicas

  28. Discordância Direção de deslizamento Plano de deslizamento A=A0/cos  Deslizamento e lei de Schmid r =  cos cos

  29. Deslizamento e tensão de Peierls-Nabarro Durante um deslizamento, uma discordância se move de um conjunto de átomos vizinhos para outro conjunto idêntico. A tensão necessária para o deslocamento entre duas posições de equilíbrio é:  = ce-(kd/b) (tensão de Peierls-Nabarro) d = distância interplanar b = vetor de Burgers k, c constantes

  30. b  d  1) Deslizamento e tensão de Peierls-Nabarro  = ce-(kd/b) (> densidade linear, > deslizamento) 2) (> espaçamento planar, > deslizamento) 3) Ligações covalentes e iônicas  pouco deslizamento

  31. Defeitos Lineares

  32. Defeitos Interfaciais São contornos que separam regiões dos materiais com diferentes estruturas cristalinas ou orientações cristalográficas. Superfície externa:final da estrutura cristalina, átomos com maiores energias Contornos de Grãos: fronteira entre cristais com diferentes orientações.

  33. Regiões entre cristais Transição entre diferentes estruturas cristalinas Ligeiramente desordenados Baixa densidade de contorno de grãos: Alta mobilidade Alta difusividade Alta reatividade química Contorno de grãos

  34. n° grãos por pol2 - 1 2 y=0+Kd -½ Tensão limite para deformação plástica Contorno de grãos • Ligações mais irregulares • maior energia superficial •  maior reatividade química (Hall-Petch)

  35. Contorno de Macla São contornos de grão com simetria especular da rede cristalina. Plano da Macla

  36. Contorno de Macla

  37. Defeitos e Resistência Mecânica Separação Contorno de grão Defeito pontual Compressão

  38. Observação dos Defeitos Microscopia óptica Microscópio Superfície polida e atacada quimicamente

  39. Observação dos Defeitos Microscopia óptica (contorno de grãos)

  40. Microscopia óptica Resolução ~10-7 m = 0.1 m = 100 nm Para maior resolução  menor comprimento de onda • Raios X? Difícil de focalizar! • Elétrons • Comprimentos de onda ~ 0.003 nm • (Aumento – 1.000.000X) • Possibilita resolução atômica • Elétrons focalizados com lentes magnéticas

  41. Microscopia Eletrônica de Varredura

  42. Microscopia Eletrônica de Transmissão

  43. Microscopia de Força Atômica (AFM)

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