150 likes | 333 Views
ОСОБЕННОСТИ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ РАДИАЦИОННОГО ПОВЕДЕНИЯ АНАЛОГОВЫХ ИС. Кессаринский Л.Н. , Бойченко Д.В., Печенкина Д.В. ЭНПО «Специализированные электронные системы», г. Москва. Аналоговые ИС. Специфика использования имитационных методов. OP497 Калибровка невозможна,
E N D
ОСОБЕННОСТИ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ РАДИАЦИОННОГО ПОВЕДЕНИЯ АНАЛОГОВЫХ ИС Кессаринский Л.Н., Бойченко Д.В., Печенкина Д.В. ЭНПО «Специализированные электронные системы», г. Москва
Специфика использования имитационных методов OP497 Калибровка невозможна, необходимо испытывать на МУ! AD830 Калибровка возможна!
Моделирующие установки Ускоритель электронов “У-31/33” • энергия в пределах от 1 до 2.1 МэВ изменяется дистанционно оператором; • длительность импульса - 0,5 мкс, частота повторения – 800 Гц; • максимальное значение среднего тока 25 мкА; • размер электронного пучка – 3-5 мм. • максимальная интенсивность воздействия, Р/с: 5∙109 (ē), 120 (γ). Ускоритель электронов “РЭЛУС” • регулируемая энергия ускоренных электронов от 2,5 до 5 МэВ • импульсный ток пучка до 100 мА • длительность импульса 2,5 мкс • частота следования импульсов 400 Гц • максимальная интенсивность воздействия, Р/с: 5∙1010 (ē), 600 (γ).
Моделирующие установки Импульсный ускоритель “АРСА”
Имитирующие установки Рентгеновский источник “РЕИМ-1” • энергия в пределах от 1 до 2.1 МэВ изменяется дистанционно оператором; • напряжение на трубке – 80 кВ; • максимальное значение среднего тока 150 мкА; • размер электронного пучка – ?? мм. • максимальная интенсивность воздействия, Р/с: 400 (γ). Импульсный лазер “Радон-5М”
Влияние режима работы LMC555J/883 - интегральный таймер Схема включения по техническому описанию National Semiconductor Схема включения в аппаратуре Уровень стойкости 6,0х103 ед. Уровень стойкости 1,2х104 ед.
Влияние режима работы LTC6652AHMS – стабилизатор напряжения 1 В/дел., 1 мс/дел. UВЫХ при UПИТ = 7 В 1 В/дел., 1 мс/дел. UВЫХ при UПИТ = 8 В Для LTC6652AHMS рабочее напряжение питания от 3,3 до 13,0 В. Защелкивание по входу появляется при UПИТ> 7 В.
Влияние режима работы MAX4622ESE - счетверенный аналоговый ключ MAX4508ESE– аналоговый мультиплексор 8-в-1 Деградация тока потребления MAX4622ESE Деградация тока потребления MAX4508ESE Измерение тока потребления соответствует “закрытому” режиму работы. Разница уровней стойкости образцов, облучаемых в разных режимах – несколько раз!
Влияние режима работы MAX354EWE - аналоговый мультиплексор 8-в-1 Деградация “положительного” тока потребления Деградация “отрицательного” тока потребления Измерение “положительного” тока потребления соответствует “открытому” режиму. Измерение “отрицательного” тока потребления - “закрытому” режиму. Резкая деградация параметров, измеряемых в режиме противоположном режиму облучения.
Разные партии HR301-2805 – вторичный источник питания Деградация выходного напряжения HR301 дата изготовления 0829 Деградация выходного напряжения HR301 дата изготовления 0547 Замена конструкции оптопары никак не документирована ф. Interpoint. Уровни стойкости разных партийотличаются в 50 раз.
ИС производителя QML HSSR-711X – оптопара Avago Technologies (QML-38534) по одним данным прогнозирует уровень стойкости до 1 Мрад [1], по другим – 30 крад [2]. Экспериментальные данные представлены в табл. • Radiation Immunity of Avago Technologies Optocouplers. Application Note 1023 / Avago Technologies // www.avagotech.com • Using Hermetic Optocouplers in Military and Space Electronics. White Paper / Jamshed N. Khan // www.avagotech.com • Proton damage in linear and digital optocouplers / Johnston A.H., Rax B.G. // IEEE Trans. Nucl. Sci. – 2000. – Vol. NS-47. – PP. 675-681. • A Compendium of Recent Optocoupler Radiation Test Data / LaBel K.A., Kniffin S.D., Reed R.A. etc. // NSREC 2000.
Особенности экспериментального исследования аналоговых ИС • Уровень радиационной стойкости аналоговых ИС зависит от схемы включения и может различаться в несколько раз. • При исследовании радиационной стойкости следует контролировать все режимы работы ИС как в процессе измерения параметров, так и в процессе облучения. • В ходе исследования эффектов мощности дозы возникновение “эффекта защелки” зависит от режима работы. • Уровни стойкости аналоговых ИС разных партий производства могут различаться в несколько раз. Иностранные производители могут вносить недокументированные технологические изменения при производстве новых партий ИС, которые влияют на радиационное поведение. • Уровни радиационной стойкости ЭРИ ИП QML-производителя необходимо подтверждать.