1 / 25

ФОРМ

ФОРМ. Российский 100 МГц Тестер Formula HFMT для высокопроизводительного контроля микросхем памяти ( платформа FormulaHF2). ГИП Formula HFMT Антон Климовских. FORMULA HF. FORMULA HFMT. ЗАЧЕМ ?. Правильный !?. Функциональный Контроль (ФК). Как измеряют микросхемы ЗУ?.

bond
Download Presentation

ФОРМ

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. ФОРМ Российский 100 МГц Тестер Formula HFMT для высокопроизводительного контроля микросхем памяти(платформа FormulaHF2) ГИП FormulaHFMT Антон Климовских

  2. FORMULA HF

  3. FORMULA HFMT

  4. ЗАЧЕМ ?

  5. Правильный !?

  6. Функциональный Контроль (ФК)

  7. Как измеряют микросхемы ЗУ?

  8. Как измеряют микросхемы ЗУ? Только детерминированные алгоритмы контроля выявляют характерные ошибки ЗУ Некоторые детерминированные алгоритмы: Шахматный код; Усеченный галоп; Баттерфляй; Некоторые характерные ошибки:SAF – Stuck-At Fault; TF – Transition Fault; AF – Address-Decoder Fault; CF – Coupling Fault; DRF – Data Retention Fault;

  9. Шахматный код Сложность алгоритма: 4N Покрытие браков: SAF, DRF, и половину из TF

  10. Баттерфляй Сложность алгоритма: 5NlogN Покрытие браков: все SAF и некоторые AF

  11. Усеченный Галоп Сложность алгоритма: 4N1.5 Покрытие браков: все AF,TF, SAF и некоторые CF

  12. Время выполнения Теста (Частота 100 МГц!)

  13. МАРШ March C- (van de Goor,1991): Сложность алгоритма: 10*nПокрытие браков: AF, SAF, TF и CF. {(w0);(r0,w1);(r1,w0);(r0,w1);(r1,w0);(r0)} Расширенный March C- : Сложность алгоритма: 10*nПокрытие браков: AF, SAF, TF, CF и некоторые SOF. {(w0);(r0,w1,r1);(r1,w0);(r0,w1);(r1,w0);(r0)}

  14. Цена измерений!

  15. Область назначения: FormulaHFMT • Типы памяти: • SRAM – статическая СОЗУ; • EEPROM, Flash – электрически стираемая перепрограммируемая постоянная; • Dual-Port SRAM – статическая двух-портовая; • SDRAM – динамическая ДОЗУ; • ROM – постоянная ПЗУ; • PROM – программируемая постоянная ППЗУ; • EPROM – перепрограммируемая постоянная РПЗУ; • Другой тип микросхем памяти. Платформа: FormulaHF2

  16. Область применения: FormulaHFMT • Тестер FormulaHFMT применяется: • При разработке новых микросхем памяти: • инженерные исследования; • испытания; • разработка новых методик; • При проведении испытаний на производстве: • периодические; • типовые; • приемо-сдаточные; • квалификационные; • входные; • диагностические; • предварительные; • дополнительные; • межоперационные; • При ремонте (анализе браков) в промышленности гражданского и военного назначения; Платформа: FormulaHF2

  17. Основные характеристики АГТ • Алгоритмический Генератор Тестов (АГТ) обеспечивает: • Конфигурирование до 24-х алгоритмических шин (групповой контроль идентичных микросхем памяти - существенное повышение производительности); • 8 регистров общего назначения на каждую шину; • Прерывание по времени прохождения векторов; • Условныеи задержанные условные переходы; • Разрядность операнда команд выборки 32 бита; Платформа: FormulaHF2

  18. Пользовательское ПО

  19. Инструменты для отладки ИП

  20. Измерительная программа на 1645РУ4

  21. Возможности обучения разработки ИП

  22. У ВАС ВСЕГДА ЕСТЬ ВЫБОР!

  23. ПРОПУСКАТЬ БРАК

  24. УВЕЛИЧИВАТЬ СТОИМОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ

  25. Делайте свой выбор! ПРИМЕНЯТЬ FORMULA HFMT

More Related