1 / 14

Μάνος Ρουμελιώτης Πανεπιστήμιο Μακεδονίας etl.uom.gr/mr/

Αξιοπιστία Υπολογιστικών Συστημάτων. Μάνος Ρουμελιώτης Πανεπιστήμιο Μακεδονίας http://www.etl.uom.gr/mr/. Θέματα. Ορισμοί Ελάττωμα, Σφάλμα και Αποτυχία Υπολογισμός Αξιοπιστίας Σύνθετα συστήματα Ικανότητα συντήρησης Διαθεσιμότητα. Αξιοπιστία.

anne
Download Presentation

Μάνος Ρουμελιώτης Πανεπιστήμιο Μακεδονίας etl.uom.gr/mr/

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. Αξιοπιστία Υπολογιστικών Συστημάτων Μάνος ΡουμελιώτηςΠανεπιστήμιο Μακεδονίας http://www.etl.uom.gr/mr/

  2. Θέματα • Ορισμοί • Ελάττωμα, Σφάλμα και Αποτυχία • Υπολογισμός Αξιοπιστίας • Σύνθετα συστήματα • Ικανότητα συντήρησης • Διαθεσιμότητα

  3. Αξιοπιστία Η Αξιοπιστία ενός συστήματος ορίζεται ως η πιθανότητα ότι το δεδομένο σύστημα θα εκτελεί την επιθυμητή λειτουργία του κάτω από προδιαγεγραμμένες συνθήκες για συγκεκριμένη χρονική περίοδο. MTBF (Mean Time Between Failures): Ο μέσος χρόνος που ένα σύστημα θα λειτουργήσει ανάμεσα σε δύο αποτυχίες. Ο MTBF εκφράζεται συνήθως σε ώρες και είναι πιο χρήσιμο μέτρο για τον χρήστη απ’ ότι η αξιοπιστία.

  4. Ελάττωμα, Σφάλμα και Αποτυχία • Ελάττωμα είναι η μη κανονική κατάσταση που μπορεί να προκαλέσει μείωση ή και πλήρη απώλεια της ικανότητας ενός συστήματος να εκτελεί την απαιτούμενη λειτουργία του. • Σφάλμα είναι η ασυμφωνία ανάμεσα στην παρατηρούμενη κατάσταση και την θεωρητικά ορθή κατάσταση. • Αποτυχία είναι η ανικανότητα ενός συστήματος να εκτελέσει τις απαιτούμενες λειτουργίες του εντός προδιαγραφών.

  5. Παράδειγμα Έστω ότι έχουμε μια μνήμη υπολογιστή, η οποία βομβαρδίζεται με ιόντα υψηλής ενέργειας: • Αν τα ιόντα προκαλέσουν αλλοίωση σε κάποιο κελί της μνήμης, τότε έχουμε ελάττωμα • Αν το κελί αυτό της μνήμης αλλάξει τιμή από 0 σε 1 ή το αντίστροφο, τότε έχουμε σφάλμα • Αν το κελί αυτό διαβαστεί, προφανώς θα διαβαστεί η λάθος τιμή, οπότε έχουμε αποτυχία

  6. Υπολογισμός αξιοπιστίας • Η αξιοπιστία ενός συστήματος συχνά μοντελοποιείται ως: • R(t) = e-λt • όπου λ είναι ο ρυθμός αποτυχίας εκφρασμένος ως το ποσοστό των αποτυχιών ανά 1000 ώρας ή ανά ώρα. • Όταν το γινόμενο “λt” είναι μικρό, τότε: • R(t) = 1 - λt

  7. Σχέση ανάμεσα στον MTBF και τον ρυθμό αποτυχίας • MTBF είναι ο μέσος χρόνος λειτουργίας του συστήματος ανάμεσα σε αποτυχίες και δίνεται από τον τύπο: • MTBF = ∫0∞R(t) dt = ∫0∞ e-λt dt = 1/λ • Δηλαδή, ο MFBF είναι το αντίστροφο του ρυθμού αποτυχίας • Αν το «λ» είναι ο αριθμός των αποτυχιών ανά ώρα, τότε ο MTBF εκφράζεται σε ώρες

  8. Παράδειγμα • Ένα σύστημα έχει 5000 στοιχεία με ρυθμό αποτυχίας 0.04% ανά 1000 ώρες. Υπολογίστε το λ και τον MTBF. • λ = (0.04 / 100) * (1 / 1000) * 5000 = 2 * 10-3αποτυχίες/ώρα • MTBF = 1 / (2 * 10-3 ) = 500 ώρες

  9. 1.0 0.8 ΑξιοπιστίαR(t) 0.6 0.4 0.36 0.2 0 2 MTBF 1 MTBF Αξιοπιστία και MTBF • R(t) = e–λt = e–t / MTBF • Επομένως, • MTBF = - t / ln(R(t)) χρόνος t

  10. Παράδειγμα • Ένας υπολογιστής περιέχει 10000 στοιχεία που το καθένα έχειλ = 0.4%/(1000 ώρες). Για ποια περίοδο έχει το σύστημα αξιοπιστία 99%; • MTBF = - t / ln(R(t)) = - t / ln(0.99) • t = - MTBF * ln(.99) = 0.01 / λμ • Όπου λμ είναι ο μέσος ρυθμός αποτυχίας • N = αριθμός στοιχείων = 10000 • λ = ρυθμός αποτυχίας ενός στοιχείου • = 0.4% / (1000 ώρες) = 0.004/1000 = 4 * 10-6ανά ώρα • Επομένως, λμ= N λ = 10000 * 4 * 10-6 = 4 * 10-2ανά ώρα • και, t = 0.01 / (4 * 10-2 ) = 15 λεπτά

  11. Εν σειρά και παράλληλη αξιοπιστία 1. Σύνδεση εν σειρά 1 2 3 4 N R R R R R Συνολική αξιοπιστία = Rt= R * R * R…. R = RN 2. Παράλληλη σύνδεση 1 Rt = 1 – (πιθανότητα να αποτύχουν όλα τα στοιχεία) Rt = 1 – (1 - R)N R 2 R N R

  12. Ικανότητα συντήρησης • Ικανότητα συντήρησης ενός συστήματος είναι η πιθανότητα ανεύρεσης και επιδιόρθωσης ενός σφάλματος εντός δεδομένων χρονικών περιθωρίων. • Η ικανότητα συντήρησης δίνεται από: • M(t) = 1 – e-µt • όπου μ είναι ο ρυθμός επιδιόρθωσης • καιt τα είναι τα επιτρεπτά χρονικά περιθώρια για την επιδιόρθωση • µ = 1/(Μέσος χρόνος επιδιόρθωσης) = 1/MTTR • M(t) = 1 – e-t/MTTR

  13. Διαθεσιμότητα • Διαθεσιμότητα ενός συστήματος είναι η πιθανότητα ότι το σύστημα θα λειτουργεί εντός προδιαγραφών οποιαδήποτε στιγμή της ωφέλιμης ζωής του. • Διαθεσιμότητα = Χρόνος λειτουργίας / (Χρόνος λειτουργίας + Χρόνος βλάβης) • Χρόνος βλάβης = Αριθμός αποτυχιών * MTTR • Χρόνος βλάβης = Χρόνος λειτουργίας * λ * MTTR Επομένως, • Διαθεσιμότητα = Χρόνος λειτουργίας / (Χρόνος λειτουργίας + (Χρόνος λειτουργίας * λ * MTTR) • = 1 / (1+(λ*MTTR) • Διαθεσιμότητα = MTBF / (MTBF + MTTR)

  14. Βιβλιογραφία • Ebeling, Charles E., (1997), An Introduction to Reliability and Maintainability Engineering, McGraw-Hill Companies, Inc., Boston. • Kapur, K.C., and Lamberson, L.R., (1977), Reliability in Engineering Design, John Wiley & Sons, New York. • Kececioglu, Dimitri, (1991) "Reliability Engineering Handbook", Prentice-Hall, Englewood Cliffs, New Jersey • Leemis, Lawrence, (1995) Reliability: Probabilistic Models and Statistical Methods, 1995, Prentice-Hall. ISBN 0-13-720517-1 • MacDiarmid, Preston; Morris, Seymour; et al., (1995), Reliability Toolkit: Commercial Practices Edition, Reliability Analysis Center and Rome Laboratory, Rome, New York. • Modarres, Mohammad; Kaminskiy, Mark; Krivtsov, Vasiliy (1999), "Reliability Engineering and Risk Analysis: A Practical Guide, CRC Press, ISBN 0-8247-2000-8. • Neubeck, Ken (2004) "Practical Reliability Analysis", Prentice Hall, New Jersey • O'Connor, Patrick D. T. (2002), Practical Reliability Engineering (Fourth Ed.), John Wiley & Sons, New York. • Shooman, Martin, (1987), Software Engineering: Design, Reliability, and Management, McGraw-Hill, New York. • Tobias, Trindade, (1995), Applied Reliability, Chapman & Hall/CRC, ISBN 0-442-00469-9 • Springer Series in Reliability Engineering

More Related