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A/D 转换器过程

6.6 A/D 转 换 器. A/D 转换器过程. 量化. 采样. 编码. 并联比较型、双积分、逐次逼近型、∑ -△ 调制型. 6.6.1 A/D 转换器的性能指标. A/D 转换器常用以下几项技术指标来评价其质量水平。 (1) 分辨率 ADC 的分辨率定义为 ADC 所能分辨的输入模拟量的最小变化量。 (2) 转换时间 A/D 转换器完成一次转换所需的时间定义为 A/D 转换时间。. (3) 精度 ①绝对精度 绝对精度定义为:对应于产生一个给定的输出数字码,理想模拟输入电压与实际模拟输入电压的差值。

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A/D 转换器过程

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  1. 6.6 A/D 转 换 器 A/D转换器过程 量化 采样 编码 并联比较型、双积分、逐次逼近型、∑-△调制型

  2. 6.6.1 A/D转换器的性能指标 A/D转换器常用以下几项技术指标来评价其质量水平。 (1) 分辨率 ADC的分辨率定义为ADC所能分辨的输入模拟量的最小变化量。 (2) 转换时间 A/D转换器完成一次转换所需的时间定义为A/D转换时间。

  3. (3) 精度 ①绝对精度 绝对精度定义为:对应于产生一个给定的输出数字码,理想模拟输入电压与实际模拟输入电压的差值。 绝对精度由增益误差、偏移误差、非线性误差以及噪声等组成。

  4. ②相对精度 相对精度定义为在整个转换范围内,任一数字输出码所对应的模拟输入实际值与理想值之差与模拟满量程值之比。 ③偏移误差。 ADC的偏移误差定义为使ADC的输出最低位为1,施加到ADC模拟输入端的实际电压与理论值1/2(Vr/2n)(即0.5LSB所对应的电压值)之差(又称为偏移电压)。

  5. ④增益误差 增益误差是指ADC输出达到满量程时,实际模拟输入与理想模拟输入之间的差值,以模拟输入满量程的百分数表示。 ⑤线性度误差 ADC的线性度误差包括积分线性度误差和微分线性度误差两种。 a.积分线性度误差 积分线性度误差定义为偏移误差和增益误差均已调零后的实际传输特性与通过零点和满量程点的直线之间的最大偏离值,有时也称为线性度误差。

  6. b.微分线性度误差 积分线性度误差是从总体上来看ADC的数字输出,表明其误差最大值。但是,在很多情况下往往对相邻状态间的变化更感兴趣。微分线性度误差就是说明这种问题的技术参数,它定义为ADC传输特性台阶的宽度(实际的量子值)与理想量子值之间的误差,也就是两个相邻码间的模拟输入量的差值对于Vr/2n的偏离值。

  7. 图3.17 ADC的积分线性度误差图3.18 ADC的微分线性度误差

  8. 与微分线性度误差直接关联的一个ADC的常用术语是失码(Missing Cord)或跳码(Skipped Cord),也叫做非单调性。 图3.19 ADC的失码现象

  9. ⑥温度对误差的影响 环境温度的改变会造成偏移、增益和线性度误差的变化。

  10. 6.6.2 并联比较型A/D转换器 1) 组成 分压电阻链 优先编码器 电压比较器 寄存器 分压电阻链

  11. 2)3位并联比较型A/D转换器原理图

  12. 上 页 返 回 下 页 2)并联比较型A/D转换器工作原理 由图可见,分压电阻链由一个R/2和7个R电阻组成,它们依次对参考电压VREF分压。R/2电阻分得的电压为 同理可得到其他各R上分得的电压为

  13. 2)并联比较型A/D转换器工作原理 将以上7个电压分别接到7个电压比较器的反相输入端,同时将模拟输入电压接到各电压比较器的同相输入端,使输入电压通过比较器分别与这7个电压同时进行比较。当输入电压比相应的参考电压高时,相应的比较器输出高电平,否则输出低电平。

  14. 所有电压比较器的输出都为低电平,寄存器中所有触发器输出0; 若 C1比较器输出高电平,其余电压比较器的输出都为低电平,寄存器中各触发器输出0000001

  15. d2d1d0=? 各触发器的输出直接送入优先编码器的输入端,根据优先编码器的功能,只有最高级别的比较器输出的高电平被编码。所以可得到编码器的对应输出编码d2d1d0。此即为模拟量对应的数字量。

  16. 上 页 返 回 下 页 3)并联比较型A/D转换器优缺点 优点:转换速度快。 缺点:随着输出位数的增加, 所需器件数增加很快

  17. 2.6.2 逐次逼近型A/D转换器 逐次逼近型A/D转换器是将输入模拟电压与不同的基准电压多次比较,比较时从DAC输入数字量的高位到低位逐次进行,依次确定各位数码的“0”、“1”状态,使转换所得的数字量在数值上逐次逼近输入模拟量的对应值。

  18. 6.6.3 逐次逼近型A/D转换器 逐次逼近型A/D转换器组成 比较器 D/A转换器 控制电路 逐次近似寄存器 分压电阻链

  19. 1)逐次逼近型A/D转换器原理图

  20. 2)逐次逼近型A/D转换器转换过程 (1) 转换启动 转换开始前逐次逼近寄存器输出清零,4位DAC 输出V0=0。转换控制信号VL=1时开始转换。 2 第一个时钟 在CLK第一个时钟脉冲作用下,控制逐次逼近寄存器最高位输出为1,其余位输出0,即逐次逼近寄存器输出1000

  21. 2)逐次逼近型A/D转换器转换过程 (3 ) 进入D/A转换器 进入D/A转换器,经D/A转换器转换为与之对应的模拟电压V0,送入比较器与模拟输入信号Vi进行比较 ◆若V0>Vi,说明数字量1000太大,高位的1应去掉 ◆若Vi>V0,说明数字量1000不够大,高位的1应保留。

  22. 2)逐次逼近型A/D转换器转换过程 在第二个时钟脉冲作用下,按同样的方法将次高位置1,使寄存器输出1100(最高位的1保留时)或0100(最高位的1丢掉时),并送入比较器与输入信号Vi进行比较,从而确定次高位的1是否应该保留。 按此方法逐次比较,直至最低位比较完后,转换结束。

  23. 3)逐次逼近型A/D转换器特点 逐次逼近型A/D转换器的转换时间取决于输出数字位数n和时钟频率,位数越多,时钟频率越低,转换所需要的时间越长。在输出相同位数的情况下,该转换方式的转换速度是除并联比较型外最快的一种,而且输出位数较多时电路规模较小,所以是目前集成A/D转换器产品中使用较为普遍的一种。

  24. 6.6.4 双积分式A/D转换器 1)基本原理 (1)初始阶段 START=0,控制逻辑输出的控制信号使计数器清0(计数器的溢出位同时被清零),同时控制逻辑控制模拟开关S0闭合,使电容C充分放电。

  25. (2)积分第一阶段 积分开始:令START=1,控制逻辑输出控制信号(S1、S2的状态组合)控制模拟开关S 与Vi接通,使积分器对Vi反向积分。 积分器开始反向积分(第一次积分): 若Vi>0,有V0<0,VC>0,S 与Vi接通的同时控制逻辑控制计数器开始计数(计数脉冲周期为T0),当计数器计满时,其溢出位变为1,控制电路根据Vc和溢出位的状态控制模拟开关S1与-VREF接通,同时计数器又从0开始计数。

  26. 积分第二阶段 积分器开始正向积分(第二次积分):当V0上升到略大于0时,Vc变为低电平,该低电平使控制逻辑输出控制信号,控制计数器停止计数。此刻计数器的计数值即为A/D转换值。因为发生了两次积分过程,称为双积分式A/D转换。

  27. 上 页 返 回 下 页 第一次积分 第一次积分:设 Vi在某一时间是常数, 式中Tc计数脉冲周期

  28. 上 页 返 回 下 页 第二次积分 其中D为计数器中的计数值。

  29. 可见D只VERF与 Vi和有关系,与RC无关。当Vi=VERF时,D输出最大值,当Vi超VERF过时溢出。

  30. 双积分式A/D转换器转换波形

  31. 3)双积分式A/D转换器特点 双积分A/D在积分期间如果有干扰叠加到输入信号中,由于干扰一般是对称的,积分器的输出将取其平均值从而起到滤波的作用,提高了抗干扰能力,实际应用较广。但是由于转换精度依赖于积分时间,因此转换速度较慢。

  32. 6.6.5 Δ-Σ型ADC 过采样Σ-ΔA/D变换器由于采用了过采样技术和Σ-Δ调制技术,增加了系统中数字电路的比例,减少了模拟电路的比例,并且易于与数字系统实现单片集成,因而能够以较低的成本实现高精度的A/D变换器,适应了VLSI技术发展的要求。

  33. Σ-ΔADC工作原理 越来越多的应用,例如过程控制、称重等,都需要高分辨率、高集成度和低价格的ADC。 新型Σ-Δ转换技术恰好可以满足这些要求。然而,很多设计者对于这种转换技术并不十分了解,因而更愿意选用传统的逐次比较ADC。Σ-Δ转换器中的模拟部分非常简单(类似于一个1bit ADC),而数字部分要复杂得多,按照功能可划分为数字滤波和抽取单元。由于更接近于一个数字器件,Σ-ΔADC的制造成本非常低廉。 过采样、噪声成形、数字滤波和抽取。

  34. (1) 过采样技术 图3.22 理想3位ADC转换特性

  35. 传统采样: 输入一个正弦信号,然后以频率fs采样--按照 Nyquist定理,采样频率至少两倍于输入信号。从FFT分析结果可以看到,一个单音和一系列频率分布于DC到fs /2间的随机噪声。这就是所谓的量化噪声,主要是由于有限的ADC分辨率而造成的。单音信号的幅度和所有频率噪声的RMS幅度之和的比值就是信号噪声比(SNR)。对于一个Nbit ADC,SNR可由公式:SNR=6.02N+1.76dB得到。为了改善SNR和更为精确地再现输入信号,对于传统ADC来讲,必须增加位数。

  36. 如果将采样频率提高一个过采样系数k,即采样频率为kfs,再来讨论同样的问题。FFT分析显示噪声基线降低了,SNR值未变,但噪声能量分散到一个更宽的频率范围。Σ-Δ转换器正是利用了这一原理,具体方法是紧接着1bit ADC之后进行数字滤波。大部分噪声被数字滤波器滤掉,这样,RMS噪声就降低了,从而一个低分辨率ADC,Σ-Δ转换器也可获得宽动态范围。

  37. 存在一个问题 简单的过采样和滤波是如何改善SNR的呢?一个1bit ADC的SNR为7.78dB(6.02+1.76),每4倍过采样将使SNR增加6dB,SNR每增加6dB等效于分辨率增加1bit。这样,采用1bit ADC进行64倍过采样就能获得4bit分辨率;而要获得16bit分辨率就必须进行415倍过采样,这是不切实际的。Σ-Δ转换器采用噪声成形技术消除了这种局限,每4倍过采样系数可增加高于6dB的信噪比。

  38. (2) 噪声成形 Σ-Δ调制器包含1个差分放大器、1个积分器、1个比较器以及1个由1bit DAC(1个简单的开关,可以将差分放大器的反相输入接到正或负参考电压)构成的反馈环。反馈DAC的作用是使积分器的平均输出电压接近于比较器的参考电平。调制器输出中"1"的密度将正比于输入信号,如果输入电压上升,比较器必须产生更多数量的"1",反之亦然。积分器用来对误差电压求和,对于输入信号表现为一个低通滤波器,而对于量化噪声则表现为高通滤波。这样,大部分量化噪声就被推向更高的频段。和前面的简单过采样相比,总的噪声功率没有改变,但噪声的分布发生了变化。

  39. 如果对噪声成形后的Σ-Δ调制器输出进行数字滤波,将有可能移走比简单过采样中更多的噪声。这种调制器(一阶)在每两倍的过采样率下可提供9dB的SNR改善。  在Σ-Δ调制器中采用更多的积分与求和环节,可以提供更高阶数的量化噪声成形。例如,一个二阶Σ-Δ调制器在每两倍的过采样率下可改善SNR 15dB。

  40. 图2.28 二阶Σ-Δ ADC

  41. Σ-Δ调制及噪声整形技术 图2.24 带模拟滤波和数字滤波的过采样

  42. 图3.27 成形后的量化噪声分布

  43. 图3.29 信噪比与阶数和过采样倍率之间的关系

  44. (3) 数字滤波和采样抽取技术 Σ-Δ调制器以采样速率输出1bit数据流,频率可高达MHz量级。数字滤波和抽取的目的是从该数据流中提取出有用的信息,并将数据速率降低到可用的水平。Σ-ΔADC中的数字滤波器对1bit数据流求平均,移去带外量化噪声并改善ADC的分辨率。数字滤波器决定了信号带宽、建立时间和阻带抑制。

  45. 6.6.6 A/D转换器与微处理器的接口 A/D转换器与微处理器相连应考虑的问题 (1)数据输出线的连接,按数据线的输出方式主要分为并行和串行两种。 (2)A/D转换的启动信号的连接; (3)转换结束信号的处理方式; (4)时钟的提供; (5)参考电压的接法;

  46. A/D转换器的控制方式 1、程序查询方式 首先由微处理器向A/D转换器发出启动信号,然后读入转换结束信号,查询转换是否结束,若结束,读取数据;否则,继续查询,直到转换结束。该方法简单、可靠,但查询占用CPU时间,效率较低。

  47. 2、延时等待方式 微处理器向A/D转换器发出启动信号之后,根据A/D转换器的转换时间延时,一般延时时间稍大于A/D转换器的转换时间,延时结束,读入数据。该法简单、不占用查询端口,但占用CPU时间,效率较低,适合微处理器处理任务少的情况。

  48. 3、中断方式 微处理器启动A/D转换后可去处理其他事情,A/D转换结束后主动向CPU发出中断请求信号,CPU响应中断后再读取转换结果。微处理器可以和A/D转换器并行工作,提高了效率。

  49. 2.7.1并行输出ADC与微处理器接口 1、8位并行ADC AD0809与微处理器接口 ADC0809是美国国家半导体公司(National Semiconductor)生产的廉价8路8位逐次比较式ADC,28脚封装,输出带三态锁存器,主要性能指标如下: (1)分辨率为8位。 (2)总的非调整误差为±1LSB。 (3)转换时间为100μs(时钟频率为640Hz)。 (4)具有锁存控制功能的8路模拟开关,能对8路模 拟电压信号进行转换。 (5)输出电平与TTL电平兼容。 (6)单电源+5V供电。基准电压由外部提供,典型值为+5 V,此时允许模拟量输入范围为0-5V。功耗为10mW

  50. ADC0809内部结构框图

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