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林田清、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、東海林雅幸、勝田哲、宮田恵美、常深博 ( 阪大理 ), 堂谷忠靖、尾崎正伸 、村上弘志、市川喜徳、森尾一徹、狐塚正樹 (JAXA) 、

ASTRO-E2 衛星搭載用 X 線 CCD カメラ XIS の開発. 林田清、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、東海林雅幸、勝田哲、宮田恵美、常深博 ( 阪大理 ), 堂谷忠靖、尾崎正伸 、村上弘志、市川喜徳、森尾一徹、狐塚正樹 (JAXA) 、 鶴剛、松本浩典、中嶋大、小山勝二 ( 京大理 ), 北本俊二 ( 立教大理 ) 、粟木久光 ( 愛媛大理 ) 、 幸村孝由 ( 工学院大 ), M.Bautz, S.Kissel, R.Foster, G.Ricker(MIT) 他 AstroE2-XIS チーム. 概要.

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林田清、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、東海林雅幸、勝田哲、宮田恵美、常深博 ( 阪大理 ), 堂谷忠靖、尾崎正伸 、村上弘志、市川喜徳、森尾一徹、狐塚正樹 (JAXA) 、

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Presentation Transcript


  1. ASTRO-E2衛星搭載用X線CCDカメラXISの開発 林田清、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、東海林雅幸、勝田哲、宮田恵美、常深博 (阪大理), 堂谷忠靖、尾崎正伸 、村上弘志、市川喜徳、森尾一徹、狐塚正樹(JAXA)、 鶴剛、松本浩典、中嶋大、小山勝二(京大理), 北本俊二(立教大理)、粟木久光(愛媛大理)、 幸村孝由(工学院大), M.Bautz, S.Kissel, R.Foster, G.Ricker(MIT) 他 AstroE2-XISチーム 概要 ASTRO-E2衛星の5台のX線望遠鏡のうち4台の望遠鏡の焦点面にはX線CCDカメラXISが搭載される。優れた位置分解能とエネルギー分解能を兼ね備えたXISは、同じくASTRO-E2衛星に搭載されるXRSと相補的に10keV以下のエネルギー範囲の観測をカバーする。同時に10keV付近でHXDとオーバーラップするエネルギーバンドに高い感度をもち広いエネルギー範囲でのX線スペクトル、X線イメージの観測を可能にする。 XISの構成 4台の望遠鏡の焦点面におかれるCCDカメラとアナログエレクトロニクス(AE)、デジタルエレクトロニクス(DE) CCD素子=CCID-41 Pixel Size:24mmx24mm Format:1024x1026pixel Frame Transfer Front side illuminated XISの特徴 • 7keV以上でXMMを凌駕する大面積 • 高エネルギー分解能のXRSとの同時観測(XRS後には唯一のソフトX線検出器) • HXDとオーバーラップするエネルギーバンド Astro-E1号機用XISからの主な変更点 • CCID17→CCID41 • 電荷注入機構の新規導入 • 基盤の厚み増加、表面BPSG層の追加 • CCD保持機構の改良 • 較正用線源の追加

  2. CCD素子の変更点 電荷注入機構と電荷転送効率測定用注入パターン 1フレームあたり4ピクセルおきに4列電荷を注入した場合のフレームイメージ。電荷注入ピクセルのレベルを調べることで電荷転送効率の測定ができる。

  3. MIT-LL CCID41 CCD with Charge Injection AluminaSubstrate Flexprint Torlon Standoffs Au coated Cu Heatsink 較正用線源1個→3個 較正用55Fe線源としてコーナー照射用の1個に加えて、ドアの裏側に1個、コーナー照射用にさらに1個が追加される。ドアの裏側につけられる線源は、地上試験およびドア開けまでの軌道上試験で使用される。両コーナーに照射される線源は、電荷注入量の較正にも用いられる。 ドア開け前 ドア開け後 CCD保持機構の改良 冷却用ペルチェ素子の個数を3個から1個に減らし、冷却性能を保ったまま機械的強度の向上を実現した。

  4. 55Fe照射のX線スペクトル測定例(CCD温度-90℃)55Fe照射のX線スペクトル測定例(CCD温度-90℃) FM S2カメラ segmentD Grade02346 FWHM=130eV at 5.9keV Readout noise=2.5e- Gain=3.785ev/ADU 一次噛み合わせ試験前の4台同時動作試験 @宇宙研 2003年8月  FM S2カメラの軟X線較正試験 @阪大 2004年1月 *)平行して京大でも較正試験が行われている  参考文献 Dotani et al., 2003, Proc. SPIE Vol.4851, p.1071-1079 Koyama, K. et al., 2001, ASP conf. vol.251, p.560-561 Hayashida et al., 2000, Proc. SPIE Vol. 4012, p.123-136 Hayashida et al., 1998, Proc. SPIE、Vol.3445, p.278-290

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