1 / 11

Mikroskopie v materiálovém výzkumu

Mikroskopie v materiálovém výzkumu. Mikuláš Dítě Gymnázium Christiana Dopplera , Praha 5, mikulas.dite@gmail.com Tereza Konečná Gymnázium Brno, tř . Kap . Jaroše 14, Terezka.Konecna@seznam.cz. Optické mikroskopy. malé  zvětšení, maximálně 1 000x odrážení světla od povrchu vzorku

ramona
Download Presentation

Mikroskopie v materiálovém výzkumu

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. Mikroskopie v materiálovém výzkumu MikulášDítě Gymnázium Christiana Dopplera, Praha 5, mikulas.dite@gmail.com TerezaKonečná Gymnázium Brno, tř. Kap. Jaroše 14, Terezka.Konecna@seznam.cz

  2. Optické mikroskopy • malé zvětšení, maximálně 1 000x • odrážení světla od povrchu vzorku • ty musí být lesklé, neprůsvitné

  3. Elektronové mikroskopy • transmisní (TEP) • zvětšení až 1 000 000x • rastrovací (SEM) • zvětšení až 100 000x • energiově disperzní analyzátor (EDS) • detekuje rentgenové záření

  4. Experiment • Je materiál kvalitní? nebo • Jaké prvky obsahuje? • Příprava vzorku: • hrubé opracování (bruska, kladivo, ...) • brusný papír • diamantová pasta, ultrazvuk, ...

  5. Zkoumaný vzorek • musí mít jemný, leský povrch • ideálně vodič • dendrity - výrazné hrany na přechoduslitin

  6. Energetická analýza • bílé části 1, 2 a 3: • nikl (35.49%) • tmavé části 4, 5: • chrom (66.65%) • části 6 a 7: • slitina, převažuje niob

  7. Závěr • testovanývzorek je slitinachromu, niobu a niklu a dáleobsahujepříměsiMn, Si, Fe, W, Co, ...

  8. Poděkování • supervisor: Ing. Jan Adámek • Prof. Dr. RNDr. Miroslav Karlík Zdroje • [1] Transmission electron microscope - Sample preparation. [online]. citováno 21. 6. 2011. Dostupné z <http://en.wikipedia.org/wiki/Transmission_electron_microscope#Sample_preparation>[2] ŠAFÁŘOVÁ, Klára. Skenovací (rastrovací) elektronovámikroskopie. [online]. citováno 21. 6. 2011. Dostupné z <http://nanosystemy.upol.cz/upload/18/safarova_sem.pdf>[3] Nordson Corporation. Slovníkpojmů v oblastitechnologiepájení [online]. citováno 21. 6. 2011. Dostupné z <http://www.efd-inc.com/Intl/CZ/Pajky/slovnik-pojmu-oblasti-technologie-pajeni/Slovnik-pojmu.htm>

More Related