1 / 12

Scintillator と Gas Cherenkov と Lead Glass のデータ解析

Scintillator と Gas Cherenkov と Lead Glass のデータ解析. 2003 年 8 月 29 日 ( 金 ) 織田 勧. T538 実験の run#250 - #603 に対して S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2, GCC1, GCC2, PbGl のデータを用いて、 1. 各検出器の slewing correction 2. TOF による粒子識別 3. Gas Cherenkov による電子の識別 4. PbGl による電子の識別 を行なった。. Pedestal の決定.

nakia
Download Presentation

Scintillator と Gas Cherenkov と Lead Glass のデータ解析

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. Scintillator と Gas Cherenkovと Lead Glass のデータ解析 2003年8月29日(金) 織田 勧 T538実験のrun#250 - #603 に対して S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2, GCC1, GCC2, PbGl のデータを用いて、 1. 各検出器のslewing correction 2. TOFによる粒子識別 3. Gas Cherenkov による電子の識別 4. PbGlによる電子の識別 を行なった。

  2. Pedestalの決定 1. Pulser run (#337, #363, #382, #392, #434, #435, #469, #512 - #518, #554, #555, #577, #603)のときのADCのデータからADC各chのpedestalの値(mean)を求めた。 2. 各run(#250 - #603)のGCC1, GCC2のADCのpedestalの値(mean, RMS)を求めた。 3. 1.で求めたPulser runのときのGCCと他の検出器のpedestalの差と、 2.で求めたGCCのpedestalより、 各run (#250 - #603)での各検出器のpedestalの値を内挿すること(#338-#602)と、平均を用いること(#250-#336)で決定した。

  3. Run group の決定 Runごとに解析すると大変なので、 1. 運動量(±2.0, ±1.5, ±1.0, ±0.5, ±0.3 GeV/c) 2. electron-triggerの有無 3. S2前の鉛の有無 4. define(S2)の有無 5.各検出器のpedestal 6. Scintillator (S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2) のgain の6つの条件により、 同じもしくはほとんど変化のないrunは1つの run groupにまとめ、以後はrun groupごとに解析した。 330 runs → 93 run groups

  4. Scintillation 検出器(S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2)解析に用いる事象の決定 1. Scintillation lightではなく、Cherenkov lightであると考えられるものを除外するために、ADCの下限値をrun groupごとにS1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2に対して目で見て決定した。 2. S3-1, S3-2のADCはADCの値が最大値(4095ch)に近くなると正しく取れていないのでADCの上限値をS3-1, S3-2に対して一律に3820chと決定した。 3. ・S1-1,S1-2,S3-1,S3-2のADCが1.で決めた下限より大きく、 ・S3-1,S3-2のADCが2.で決めた上限より小さく、 ・S1-1, S1-2, S3-1, S3-2 のいずれのTDCにも値が正しく入っている(TDC≠-1) 事象を解析することにした(S1-S3 event)。

  5. S1, S3 のslewing correction S1-S3 event のうちで、同一の粒子であると考えられる事象に対して、S1-S3間のTOFがADCの値に依存しないようにrun groupごとにslewing correctionを行なった。1.補正係数aSi-jに適当な値を入れ、現れたピークのうちで最も大きいものを選び、Gaussianでfitして、±2σ以内の事象に注目する。2.注目している事象の4つのScinti.のADCを0chから4095chの間で、32等分して、それぞれのADCの範囲内でのTOFの平均と全体のTOFの平均との差の2乗の和をFとする。3. Fが最小になるようにaSi-jを動かして、最適なaSi-jを決定した。4.以下では補正後のTS1、TS3を用いた。

  6. S2のslewing correction 1. S1-S3 event のうちで、S2のADCが設定した下限値より大きい事象を使って、S1-S3間のときと同じように、S2のslewing correctionをrun groupごとに行なった。 2. 補正係数aS2に適当な値を入れ、TOFS1-S2、TOFS2-S3のピークをGaussianでfitして、それぞれ、中心から±2σ以内の事象に注目する。 3. 注目している事象のS2のADCを0chから1023 chの間で、32等分して、それぞれのADCの範囲内でのTOFの平均と全体のTOFの平均との差の2乗の和をFとする。 4. Fが最小になるようにaS2を動かして、最適なaS2を決定した。

  7. TOF(S1-S3間)による粒子識別 ZS1 = 131.5 mm, ZS2 = 3193.5 mm, ZS3 = 6041.0 mm であるので、 e, μ, π, K, p, d, t のTOF(S1-S3間)を計算し、補正済の測定値と比較した。 ○が確認できた粒子で、 複数の粒子にまたがっているのはTOFで分離できなかったことを意味する。 GCCが鳴った事象(GCC-e event:後述)とそうでない事象に分けた後に、粒子数 の多いピークについてGaussianでfitしてmeanとσを求めた。 +1.5 GeV/c

  8. Gas Cherenkov検出器による電子識別 1. ±0.3 GeV/cと±0.5 GeV/cの全てのrun groupと、-2.0 GeV/cと-1.0 GeV/cのe-trig. run と、+1.0 GeV/cの一部(#313-#316)に対して、 S1-S3 event であって、GCC1とGCC2の両方とも ADCGCCi>meanped.GCCi+2×RMSped.GCCi.である事象を選んだ。 • S1-GCC1間、S1-GCC2間のTOFS1-GCCiをとって、Scinti.の時と同様に、ピークのTOFS1-GCCiがADCの値によらないように slewing correction aGCC1, aGCC2の値をrun groupごとに決めた。 3. 残りのrun groupに対しては、2.で求めたaGCC1, aGCC2それぞれを加重平均した値を用いた。 • Run groupごとに、Slewing correction 後のTOFS1-GCCiのピークをGaussianでfitして、GCC1では中心値から±1.2 ns(~4σ)以内に入った事象をGCC1-e eventとし、GCC2では中心値から±1.5 ns(~4σ)以内に入った事象をGCC2-e eventとし、GCC1-e eventでありかつGCC2-e eventであるのをGas Cherenkov検出器によって電子であると識別された事象(GCC-e event)とした。 • GCC-e eventについて、TOFS1-S3のピークをGaussianでfitして、中心値から±3.5σ以内に入っているものを TOF-GCC-e eventとした。

  9. Lead Glass 検出器による電子識別 1. PbGlのADC>pedestalかつTDC≠-1である事象であり、かつTOFとGCCで電子と識別された(TOF-GCC-e event)事象を選んだ。 2. ADCをGaussianでfitして、中心値から±3.5σ以内にある事象のみ残した。 3. S3-PbGl間のTOFS3-PbGlがPbGlのADCの値によらないように、slewing correctionの係数aPbGlを目で見て決定した。 4. 補正後のTOFS3-PbGlをGaussianでfitして、中心値から±3.5σ以内にある事象のみを残し、これをTOF-GCC-PbGl-e eventとした。 5. TOF-GCC-e eventであるという条件を外し、 ・S3-S1 event ・PbGlのADC>pedestal ・2で決めた条件: PbGlのADCがピークの中心値から±3.5σ以内 ・3で決めた条件: S3-PbGl間のTOFがピークの中心値から±3.5σ以内 の4条件を満たす事象をPbGl-e eventとした。

  10. GCCとPbGlの電子の検出効率 • TOF-GCC-PbGl-e event のS1-S3間のTOFをGaussianでfitし、 得られた中心値から±3.5σ以内に入っている事象をTOF-e eventとした。 2. PbGlの検出効率として εPbGl = #TOF-GCC-PbGl-e event / #TOF-GCC-e event を計算する。 3. GCCの検出効率としては、 εGCC1 = #TOF-GCC-PbGl-e event / #TOF-GCC2-PbGl-e event εGCC2 = #TOF-GCC-PbGl-e event / #TOF-GCC1-PbGl-e even を計算する。 4. TOFによって電子を識別できる低い運動量(±0.3 GeV/c)では、 εGCCi = #TOF-GCCi-e event / #TOF-e event εPbGl = #TOF-PbGl-e event / #TOF-e event を計算する。

  11. GCCとPbGlの電子の検出効率 2. & 3.黒 Pb× e-trig.× 赤 Pb○ e-trig.×青 Pb○ e-trig.×4.緑 Pb× e-trig.×

More Related