1 / 34

פרק 4: מקדם שבירה

המנסרה. 4.2. סוגי ספקטרומטרים. 4.3. פרק 4: מקדם שבירה. נפיצה n( l ) Dispersion. 4.1. כיול עם אפס כנקודת יחוס. קיבול חום. א. +Z. c v i. n i =. +V. -V. קיטוב. ב. +Z. + d. - d. L. מקדם שבירה ומקדם דיאלקטרי. המקדם הדיאלקטרי הוא מדיד להשפעת שדה חשמלי על ההתפלגות המרחבית של

gaerwn
Download Presentation

פרק 4: מקדם שבירה

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. המנסרה 4.2 סוגי ספקטרומטרים 4.3 פרק 4: מקדם שבירה נפיצה n(l) Dispersion 4.1 כיול עם אפס כנקודת יחוס קיבול חום Optronics 4 Refraction Index

  2. א +Z c vi ni = +V -V קיטוב ב +Z +d -d L מקדם שבירה ומקדם דיאלקטרי המקדם הדיאלקטרי הוא מדיד להשפעת שדה חשמלי על ההתפלגות המרחבית של המטענים בחומר ("פולריזציה") n = e1/2 P = L d Optronics 4 Refraction Index

  3. +Z +Z +Z +Z time קיטוב ע"י שדה חשמלי M + DEEF Mdp מידת הקיטוב, dP, ע"י שדה חשמלי הוא תהליך. • הוא תלוי ב-: • חומר • שדה • זמן לחומר לוקח זמן עד שהוא מתאים את עצמו לשינוי בשדה חשמלי אם השדה משתנה בתדירות גבוהה, יהיה פחות קיטוב עבור אותו החומר, באותה עוצמת שדה Optronics 4 Refraction Index

  4. אפקט אלקטרו-אופטי גביש אלקטרו-אופטי n=f(V) V1n1 V2n2 מאפנן אלקטרו-אופטי Optronics 4 Refraction Index

  5. n [Hz] e(H20) n l0 l v DC 81 4.6 x 108 79 3.7 x 109 66 1.7 x 1010 61 7.5 x 1010 29 3.8 x 1012 1.41 5.1 x 1014 1.33 מקדם השבירה של המים המקדם הדיאלקטרי (ומקדם השבירה) יורדים עם התדירות Optronics 4 Refraction Index

  6. n 1.9- 1.8- 1.7- 1.6- 1.5- 1.4- 1.3- 1.2- 1.1- l מקדם השבירה כתלות באורך הגל המקדם הדיאלקטרי ומקדם השבירה יורדים עם התדירות, כלומר עולים עם אורך הגל התווך כשדה חשמלי הומוגני פונקציה מונוטונית עולה עם עליית אורך הגל vi = nli Optronics 4 Refraction Index

  7. תופעות באינטראקציה גא"מ וחומר בליעה נשאר בתווך בליעה ופליטה It Ii Ir Ia מבוא לאלקטרואופטיקה עבירות

  8. מוצקים שקופים הם מבודדים חומרים שקופים יהלום פוליאתילן מים האטמוספרה יבשNaCl זכוכית נקיה בליעה התווך כאוסף של רזונטורים קוונטיים DE=hn =hc/l בתהליכי בליעה מתקיים: אם קיימות בתווך, שתי רמות עם הפרש DE, הבליעה אפשרית. אם אין הפרש רמות כזה, לא מתרחשת בליעה. Optronics 4 Refraction Index

  9. בליעה hn + N0 N1 hn + N0 N1 פליטה +Z אפשריים רק אם: DE = hn= hc/l אנרגית מעבר בין רמות של אטום Optronics 4 Refraction Index

  10. רמת ההולכה hn Eg hn רמת הערכיות בליעה ופליטה במוצקים Eg<hn למוצקים שקופים יש Eg גדול יותר מהאנרגיה של פוטון בנראה. הם מבודדים חשמליים. למוצקים יש פסי בליעה Silica (SiO2) Alumina לבנה בגלל פיזור Optronics 4 Refraction Index

  11. A Ia 1.0- A= Ii 0.9- 0.8- 0.7- 0.6- 0.5- +Z 0.4- לגז דליל יש קווי בליעה 0.3- 0.2- 0.1- l בליעה של תווך כאוסף רזונטורים קוונטיים Optronics 4 Refraction Index

  12. ספקטרום קווי של אטום המימן בנראה -צילום E [eV] הקווים הרבה יותר דקים. יש הרחבה בגלל אמצעי הצילום והעתקה l[nm] http://perg.phys.ksu.edu/vqm/tutorials/hydrogen/ http://www.colorado.edu/physics/2000/quantumzone/index.html Optronics 4 Refraction Index

  13. A 1.0- 0.9- 0.8- 0.7- 0.6- 0.5- +Z +Z +Z 0.4- 0.3- 0.2- 0.1- l בליעה של תווך כאוסף רזונטורים קוונטיים בגז צפוף, בנוזל, במוצק: פסי בליעה הרמות מושפעות מהשדה של גרעינים קרובים התרחבות, עם עליית מספר פרודות, עד ל"רצף" Optronics 4 Refraction Index

  14. A n 1.0- 0.9- 0.8- אזור שקוף "חלון" 1.8- 0.7- אזור שקוף 0.6- 1.6- 0.5- 0.4- 1.4- 0.3- 0.2- 1.2- 0.1- l מקדם השבירה בתווך עם אוסצילטורים גלאי או מקור קרינה איזור שקוף בתווך עם רזונטורים בתווך אמיתיn nבתווך הומוגני האם תתכן חוסר רציפות מקרו-סקופית בתכונה פיסיקלית? Optronics 4 Refraction Index

  15. A n Dl 1.6 1.5 1.4 lS l0 lL 1.3 1.2 n יורד בחלון, כאשר מתקרבים לפס בליעה. (באים מאורך הגל קצר לארוך) השפעת פסי הבליעה למהירות הגל לפי המודל של Helmholtz 4 אפשרויות בכולן,בתוך הפס בליעה n עולה מהירות האור הנמוכה ביותר מהירות האור גבוהה ביותר Optronics 4 Refraction Index

  16. A n 1.0- dn/dl ~ Dn/Dl שיפוע שלילי 0.9- 0.8- 1.8- תחום העבודה של חלון 0.7- חלון ספקטרלי 0.6- 1.6- 0.5- 0.4- 1.4- 0.3- 1.2- 0.2- 0.1- l מקדם השבירה בפסי בליעה בתחומים השקופים היפוך מגמה מאי 19 Optronics 4 Refraction Index

  17. הוכחה ניסיונית של מודל של Helmholtz החזרה, בליעה ומקדם שבירה של מים ב-IR n יורד ועולה בתוך פסי הבליעה Wolfe and Zissis, The Infra-Red Handbook, pp. 3-105 שיעור בית: לאיזה אורך הגל יש מהירות מרבית בתחום ? שיעור בית: איזה עבירות יש לקרינה בעלת אורך הגל האיטי ביותר? Optronics 4 Refraction Index

  18. רדיומטר Ir Ii It רדיומטר מדידת גורם העברה והחזרה מפצל אלומה דוגמה נבדקת יותר מורכב Optronics 4 Refraction Index

  19. מקסימה בהחזרה בחלק מהבליעות מחושב לפי החזרי פרנל מדידות התנהגות לפי מודל Helmholtz סדר גודל n(l) פסי בליעה והחזרה של מים Optronics 4 Refraction Index

  20. Ia It Ir A= T= R= I0 I0 I0 A(l) + T(l)= 1 A(l) = 1 - T(l) הקשר בין בליעה והעברה נתייחס ל: • קרינה היוצאת מהמקור ,או • נתעלם מהקרינה המוחזרת Optronics 4 Refraction Index

  21. מסך בתוך חלון lS +lL n l אורכי הגל הקצרים מוסטים יותר 4.2 - המנסרה דיספרסיה (נפיצה) כרומטית הסתה כפולה lS>lL הנפיצותבתחום העבודה של חלון dn/dl = - C [nm-1] nS<nL Optronics 4 Refraction Index

  22. lS+lL הסטה כתלות ב-n no sin qi = nS sin qt,S = nL sin qt,L זווית ההעברה, qt, של הקרן בעלת n גדול יותר, קטנה יותר. הקרן מתקרבת יותר אל הניצב nS<nL Optronics 4 Refraction Index

  23. lS + lL n lS lL lS>lL nS<nL אורכי הגל הקצרים מוסטים יותר המנסרה no sin qi = nS sin qt,S = nL sin qt,L זווית ההעברה של lS קרובה יותר לניצב qt,S< qt,L Optronics 4 Refraction Index

  24. מסך 4.3 - סוגי ספקטרומטרים פליטה לפי התופעה בליעה פיזורי Raman לפי שיטת גילוי הקרינה פילם צילום גלאי בודד עם סיבוב אגד גלאים מקדם שבירה לפי גורם הנפיצה התאבכות ודרך אופטית Optronics 4 Refraction Index

  25. קרינה נבחנת עדשות להדמיית החריץ עדשה להדמיית חריץ מישור הגלאי מבנה בסיסי של ספקטרומטר פליטה תא דגימה מחומם Optronics 4 Refraction Index

  26. מקור קרינה מכוייל גוף שחור, מנורות התפרקות שני שלבים מבנה בסיסי של ספקטרומטר בליעה 1 - כיול תא דגימה I0(l1) I0(l2) Optronics 4 Refraction Index

  27. מבנה בסיסי של ספקטרומטר בליעה 2 - במדידה תא דגימה It(l1) It(l2) מקור קרינה מכוייל טמפרטורת הסביבה לדוגמה: קרינה סגולה נבלעת Optronics 4 Refraction Index

  28. סוגי ספקטא מוצק חם, גוף שחור Optronics 4 Refraction Index

  29. : woodahl.physics.iupui.edu/Astro100/ +Z ספקטרום בליעה וספקטרום פליטה של אטום מימן (a) (b) http://woodahl.physics.iupui.edu/Astro100/ התאמה בין בליעה ופליטה חומרים בולעים ופולטים באותם אורכי הגל (כמעט) Optronics 4 Refraction Index

  30. מודלים לספקטרום של חומרים שנלמד בקורס אטומים גבישים מולקולות כמובן, למולקולות ולגבישים, יש אטומים עד כאן 2009 +1 Optronics 4 Refraction Index

  31. ערכים מספריים בכתיב הנדסי 4.21159E-21 4.21x10-21 Optronics 4 Refraction Index

  32. ni<nt ni <nt R R מצפוף לדליל מדליל לצפוף 1 1 pll pll qc ppd ppd qi 900 qB qi = 900 qB שימוש בקיטוב בשני המקרים: Rppd > Rpll Optronics 4 Refraction Index

  33. הקרינה המוחזרת עשירה יותר בקרינה מקוטבת בניצב למישור הפגיעה Rppd > Rpll כלומר, הקרינה המוחזרת ברובה מקוטבת במקביל למישור המפריד קרינה מוחזרת ממישור מים מקוטבת בעיקר בצורה אופקית קרינה מוחזרת מקיר זכוכית מקוטבת בעיקר בצורה אנכית שימוש במקטב בצילום מאפשרת (ע"י סיסוב המקטב) לסננן קרינה מוחזרת מסנוורת Optronics 4 Refraction Index

  34. Optronics 4 Refraction Index

More Related