Anyagtudom nyi vizsg lati m dszerek az elektronikai hibaanalitik ban
Download
1 / 31

ANYAGTUDOMÁNYI VIZSGÁLATI MÓDSZEREK AZ ELEKTRONIKAI HIBAANALITIKÁBAN - PowerPoint PPT Presentation


  • 133 Views
  • Uploaded on

ANYAGTUDOMÁNYI VIZSGÁLATI MÓDSZEREK AZ ELEKTRONIKAI HIBAANALITIKÁBAN. BALOGH BÁLINT , HARSÁNYI GÁBOR, GORDON PÉTER, KOVÁCS RÓBERT, HARKAI ENDRE, NAGYNÉMEDI CSABA, RIGLER DÁNIEL. TARTALOM. Elektronikai gyártmányok hibaanalitikája A legfontosabb alkalmazott analízis módszerek, eszközök

loader
I am the owner, or an agent authorized to act on behalf of the owner, of the copyrighted work described.
capcha
Download Presentation

PowerPoint Slideshow about ' ANYAGTUDOMÁNYI VIZSGÁLATI MÓDSZEREK AZ ELEKTRONIKAI HIBAANALITIKÁBAN' - fauna


An Image/Link below is provided (as is) to download presentation

Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author.While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server.


- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - E N D - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -
Presentation Transcript
Anyagtudom nyi vizsg lati m dszerek az elektronikai hibaanalitik ban

ANYAGTUDOMÁNYI VIZSGÁLATI MÓDSZEREK AZ ELEKTRONIKAI HIBAANALITIKÁBAN

BALOGH BÁLINT, HARSÁNYI GÁBOR,

GORDON PÉTER, KOVÁCS RÓBERT,

HARKAI ENDRE, NAGYNÉMEDI CSABA, RIGLER DÁNIEL


Tartalom
TARTALOM HIBAANALITIKÁBAN

  • Elektronikai gyártmányok hibaanalitikája

  • A legfontosabb alkalmazott analízis módszerek, eszközök

  • Esettanulmányok

2


Hibaanalitika
HIBAANALITIKA HIBAANALITIKÁBAN

az a folyamat, melynek célja a hibaok meghatározása.

NEM hibadetektálás, hanem részletes vizsgálat: adatok, információk gyűjtése, elemzése, megfelelő következtetések levonása, melyek alapján megelőző intézkedések vezethetők be.

3


Hib k csoportos t sa
HIBÁK CSOPORTOSÍTÁSA HIBAANALITIKÁBAN

  • Gyakori hibajelenségek

  • whisker képződés

  • sírkő

  • forrasz felkúszás (wicking)

  • hídképződés

  • zárványosodás

  • nyitott kötés

  • forraszgolyó

  • elektrokémiai migráció

  • intermetallikus kiválások

  • gyártási folyamat során

    • forrasztás előtt

    • forrasztás közben

    • forrasztás után

  • használat során

4


Anal zis m dszerek
ANALÍZIS MÓDSZEREK HIBAANALITIKÁBAN

  • optikai mikroszkópia

  • metallográfiai vizsgálat

  • röntgenes szerkezetvizsgálat

  • pásztázó akusztikus mikroszkópia

  • pásztázó elektronmikroszkópia

  • egyéb topográfia vizsgálatok

  • anyagösszetétel meghatározási módszerek

    • EPMA, XRF, XPS, AES, SIMS, FT-IR

5


R ntgenes szerkezetvizsg lat
RÖNTGENES SZERKEZETVIZSGÁLAT HIBAANALITIKÁBAN

  • rejtett kötések hibái

  • zárványok

  • forrasztott kötések pontos geometriája

6


Geometriai nagy t s
GEOMETRIAI NAGYÍTÁS HIBAANALITIKÁBAN

Röntgenforrás

detektor

minta

Forrás: Dage


Felbont k pess g f kuszm ret
FELBONTÓKÉPESSÉG - FÓKUSZMÉRET HIBAANALITIKÁBAN

Forrás: Phoenix X-ray

8


K palkot s a mint ra nem mer leges r ntgensug rral
KÉPALKOTÁS A MINTÁRA NEM MERŐLEGES RÖNTGENSUGÁRRAL HIBAANALITIKÁBAN

Detektor döntése

Minta döntése

detektor

minta

röntgencső

Forrás: Dage

9


Bga forraszt sok vizsg lata
BGA FORRASZTÁSOK VIZSGÁLATA HIBAANALITIKÁBAN

A hibák többsége csak a detektor különböző szögű döntésével mutatható ki.

rövidzár

szakadás

10


Deform l dott bga goly k
DEFORMÁLÓDOTT BGA GOLYÓK HIBAANALITIKÁBAN


Sam p szt z akusztikus mikroszk pia
SAM - PÁSZTÁZÓ AKUSZTIKUS MIKROSZKÓPIA HIBAANALITIKÁBAN

Röntgennel láthatatlan hibák: rétegelválások (delamináció), törések, zárványok műanyagokban roncsolásmentes kimutatása.

SO IC röntgenképe

SAM kép fentről – delamináció

12


P szt z akusztikus mikroszk pos vizsg lat elve

akusztikus HIBAANALITIKÁBAN

impedancia

terjedési sebesség

sűrűség

adó/vevő

közeg határokról

visszavert hullámok

vizsgált

minta

vevő

áthaladó

hullám

reflexiós tényező

közeg: ioncserélt víz

PÁSZTÁZÓ AKUSZTIKUS MIKROSZKÓPOS VIZSGÁLAT ELVE

Z1

Z2

Közeghatárokon visszaverődés:

vizsgálhatóság feltétele – az akusztikus impedanciák különbözzenek


K palkot si m dok
KÉPALKOTÁSI MÓDOK HIBAANALITIKÁBAN

A-scan: egy pont felett detektált hullámforma

B-scan: vonalmenti „metszeti” kép - az egyes pontokban mért hullámformákból

C-scan: horizontális „sík” metszet – a hullámformák egy adott időablakban lévő intenzitásából az összes pontban alkotott kép. Fizikailag nincsenek egy síkban!



F kusz l s
FÓKUSZÁLÁS HIBAANALITIKÁBAN

Amplitude = 82% Time = 14.5 us

Amplitude = 42% Time =10.5 us

Amplitude = 55% Time = 18.5 us

Forrás: Sonix


Xrf r ntgenfluoreszcens spektroszk pia
XRF – RÖNTGENFLUORESZCENS SPEKTROSZKÓPIA HIBAANALITIKÁBAN

  • pontos összetétel meghatározás

  • RoHS megfelelőségi mérések

17


P szt z elektronmikroszk pia
PÁSZTÁZÓ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA HIBAANALITIKÁBAN

FEI Inspect S50, Bruker Quantax

18


Detektor t pusok bse a b
DETEKTOR TÍPUSOK – BSE HIBAANALITIKÁBANA+B

A+B

Compo üzemmód

rendszám-kontraszt


Detektor t pusok bse a
DETEKTOR TÍPUSOK – BSE HIBAANALITIKÁBANA


Detektor t pusok bse b
DETEKTOR TÍPUSOK – BSE HIBAANALITIKÁBANB


Detektor t pusok bse a b1
DETEKTOR TÍPUSOK – BSE HIBAANALITIKÁBANA-B

A-B

Topo üzemmód

topográfiai információ


Detektor t pusok se
DETEKTOR TÍPUSOK - SE HIBAANALITIKÁBAN


Bse vs se
BSE vs. SE HIBAANALITIKÁBAN


Nem nedves tett kivezet s
NEM NEDVESÍTETT KIVEZETÉS HIBAANALITIKÁBAN

25


Nedves t si probl ma oka k n tartalm szennyez d s
NEDVESÍTÉSI PROBLÉMA OKA: HIBAANALITIKÁBANKÉN TARTALMÚ SZENNYEZŐDÉS

S – kén szennyeződés, ami csak a nem nedvesített kivezetésen található meg

Al – valójában Br, ami flux maradványban található. Ha <5% a koncentrációjuk, akkor csúcsaik nem különböztethetők meg.

26




T retfel let anyagvizsg lata
TÖRETFELÜLET ANYAGVIZSGÁLATA HIBAANALITIKÁBAN

29


T r s ut ni x sec
TÖRÉS UTÁNI X-SEC HIBAANALITIKÁBAN

  • melyik rétegben tört el?

30


Whisker tiszta n bevonat
WHISKER – TISZTA ÓN BEVONAT HIBAANALITIKÁBAN

http://www.ami.ac.uk/courses/topics/0153_whsk/images/Lau%2004.gif


ad