Source imaging goniometer sig
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Source Imaging Goniometer (SIG) 近場光源量測系統 PowerPoint PPT Presentation


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Source Imaging Goniometer (SIG) 近場光源量測系統. 洪瑞華 教授 中興大學 精密工程研. NCHU, Institute of Precision Engineering. OUTLINES. 設備廠牌 設備規格 儀器原理功能 設備聯絡人與放置地點 服務項目與收費標準. 儀器之廠牌. 廠牌 :RADIANT 型號 :SIG400. 諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4- 22840531ext361 |. SIG--- 設備規格. 1.Computer System Specifications.

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Source Imaging Goniometer (SIG) 近場光源量測系統

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Presentation Transcript


Source imaging goniometer sig

Source Imaging Goniometer(SIG)近場光源量測系統

洪瑞華 教授

中興大學 精密工程研

NCHU, Institute of Precision Engineering


Source imaging goniometer sig

OUTLINES

設備廠牌

設備規格

儀器原理功能

設備聯絡人與放置地點

服務項目與收費標準


Source imaging goniometer sig

儀器之廠牌

廠牌:RADIANT

型號:SIG400

諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4-22840531ext361|


Source imaging goniometer sig

SIG---設備規格

1.Computer System Specifications

2.SIG Physical Specifications

諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4-22840531ext361|


Source imaging goniometer sig

SIG---設備規格

3.SIG 400 Lens Specifications

諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4-22840531ext361|


Source imaging goniometer sig

SIG---量測原理方式

The SIG is capable of capturing calibrated color images of a light source from all. As many as 2000 images are captured for each light source.

諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4-22840531ext361|


Source imaging goniometer sig

SIG---功能

These images, along with the illuminance data and alignment and calibration information, are compressed and stored in database.The data to determine the exact location on the light source from which the light is emanating (near-field distribution),which direction the light is going (angular distribution), the intensity of the light at each angle (far-field distribution).

Analysis Tools:

諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4-22840531ext361|


Source imaging goniometer sig

SIG---功能

Analysis :

諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4-22840531ext361|


Source imaging goniometer sig

SIG---收費標準

聯絡人:許鳳玲

電話:04-22840500轉707

地址:

402台中市南區國光路250號 精密工程研究所

儀器服務須知

-自收件日開始一週後交件

諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4-22840531ext361|


Source imaging goniometer sig

服務項目

樣品準備須知

1.試片的SIZE(長

度不可超過50mm)

2.試片規格(驅動

電流、CIE座標、

照度Lux)

試片各角度量測

分析

服務申請流程

精密所網頁下載設備申請書,填寫資料並完成簽章後交付洪瑞華教授

設備建構日期:2013年11月

諮詢教授 : 洪瑞華 教授 | TEL:886-4-22840531ext361|


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