1 / 14

Orbis pictus 21. století

Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu. Orbis pictus 21. století. Měření integrovaných obvodů. OB21-OP-EL-ELKM-JANC-M-2-025. Měření integrovaných obvodů.

dahlia
Download Presentation

Orbis pictus 21. století

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu Orbis pictus 21. století

  2. Měření integrovaných obvodů OB21-OP-EL-ELKM-JANC-M-2-025

  3. Měření integrovaných obvodů • Integrované obvody jsou elektronické součástky, u kterých se aktivní i pasivní elektronické prvky vytváří společně na jedné základní křemíkové destičce. Součástky jsou spolu přímo nebo pomocí povrchových spojů neoddělitelně spojeny a vytváří určitý funkční celek. • Nejvíce rozšířené jsou monolitické integrované obvody, u kterých jsou v základní křemíkové destičce vytvořeny jak aktivní tak i pasivní součástky.

  4. Měření integrovaných obvodů • Z hlediska funkce rozlišujeme dvě velké skupiny integrovaných obvodů: • Analogové • Číslicové

  5. Měření integrovaných obvodů • Každý integrovaný obvod musíme proměřovat individuálně. • Doporučené aplikační zapojení najdeme v katalogovém listu integrovaného obvodu. Stejně tak tam najdeme i doporučené schéma zapojení pro měření různých parametrů daného konkretního integrovaného obvodu. • Podle toho jaký parametr integrovaného obvodu měříme musíme používat i různé metody měření a různé měřící přístroje.

  6. Měření integrovaných obvodů • Platí zásada, že se držíme doporučení výrobce integrovaného obvodu a nesmíme při měření integrovaný obvod přetížit nad jeho dovolené hodnoty. • Během měření nesmí dojít k překročení mezní hodnoty žádného parametru integrovaného obvodu. • Nesmíme tedy překročit žádnou dovolenou hodnotu napětí, proudu, výkonu a musíme dbát i na dostatečný odvod tepla při měření. • Důležité je rovněž dodržovat doporučenou teplotu při měření.

  7. Obr. 1 Měření nf výkonového zesilovače MBA 810

  8. Měření integrovaných obvodů • Z praktického hlediska můžeme integrované obvody proměřovat v různých etapách vývoje a provozu elektronického zařízení v němž je použito. • Podle toho také používáme různé měřící přístroje a zařízení. • V předvýrobní etapě používají konstruktéři k ověřování funkčnosti laboratorní měřící přístroje. • V procesu výroby se k proměřování jednotlivých funkčních celků stále více používají automatizované měřící systémy, které obsahují potřebný hardware i software.

  9. Měření integrovaných obvodů • Stejně tak v době používání elektronického zařízení se k měření integrovaných obvodů v autorizovaných servisních střediscích používají automatizované diagnostické systémy. • Tyto diagnostické systémy obvykle umožňují přeměřit integrovaný obvod přímo v zapojeném obvodu aniž by se musel vyjmout ze zapojeného elektronického obvodu. • Cena těchto systémů je vysoká a proto se používají jen u zařízení, která se vyrábějí ve velkých výrobních sériích.

  10. Měření integrovaných obvodů Obr. 2 Měření výkonového zisku analogového IO MA 3006

  11. Měření integrovaných obvodů Obr. 3 Měření výstupního zkratového proudu číslicového IO MH 7400

  12. Měření integrovaných obvodů Obr. 4 Měření dynamických hodnot číslicového IO MH 7400

  13. Děkuji za pozornost Ing. Ladislav Jančařík

  14. Literatura • E. Vitejček a V. Hos: Elektrické měření, SNTL Praha 1979 • V. Fajt a kol.: Elektrická měření, SNTL Praha 1987 • L. Bejček a kol.: Měření v elektrotechnice, FEKT VUT Brno 2003

More Related