Diagnostika
This presentation is the property of its rightful owner.
Sponsored Links
1 / 132

Diagnostika PowerPoint PPT Presentation


  • 45 Views
  • Uploaded on
  • Presentation posted in: General

Diagnostika.

Download Presentation

Diagnostika

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation

Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author.While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server.


- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - E N D - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -

Presentation Transcript


Diagnostika

Diagnostika


Diagnostika

Neustle narstajc sloitost a nezvykl zpsob zpracovn, zznamu a prezentace informac slicovou formou komplikoval kontrolu jakosti slicovch systm ji od potku jejich vzniku. Snahy o automatizaci kontroly daly vzniknout nauce zvan technick diagnostika. Je to nauka o metodch ekonomickho zjiovn technickho stavu vrobk.Jezaloena na nedestruktivnch metodch, ale jeodkzna jen na vnjprojevy, ktermi se mohou mae informace o skutenm stavu vrobku jen nepmo zprostedkovat.


Diagnostika

Teoretick zklady pro takovouto metodiku een lze najt v analze problmu "ern skky" znmho z elektroniky a technick kybernetiky. Vzhledem k omezenmu rozsahu textu lze probrat jen nejzkladnj informace.


Z kladn pojmy

Zkladn pojmy

Testovan jednotkaje libovoln velk celek v rmci celho systmu - na pklad hradlo, procesor, zsuvn jednotka, pota, potaov s. Zkladn lohou je pak zjistit technick stav tto testovan jednotky. Podle toho jak je jednotka schopna splnit pedepsanou funkci se rozliuj dva stavy -poruchov a bezporuchov stav. Porucha je pak definovna tak, e je ukonena schopnost vrobku plnit funkci podle technickch podmnek.


Diagnostika

Je vak teba rozliovat poruchu a chybu. Chyba je neshoda mezi sprvnou a skutenou hodnotoupromnn v uritm mst obvodu. Jejm prostednictvm pak poruchu obvykle odhalujeme. Obvykle odhalujeme znamen, e ne kad porucha mus vst k projevu chyby.Takovou poruchu pak oznaujeme za skrytou i latentn.


Diagnostika

Rozlien poruchovho a bezporuchovho stavu nazvme detekc poruchy - nejedn se o dnou zcela konkrtn identifikaci zvady i potu zvad, ale jen o stav kter lze jednobitov vyjdit pracuje, nepracuje. Pro poteby ppadn nsledn opravy je pak teba provst lokalizaci poruchy. Zde se hovo o rozlien skupin poruch a ne o rozlien jednotlivch poruchovch stav, protoe oprav provd opravu zpsobem vmny nkterho celku ve kterm se me vyskytnout vce poruch ( napklad integrovan obvod u nho je vadn napjen a pitom obsahuje vce hradel).


Diagnostika

Je vak nutno upozornit na to, , e automatick lokalizace poruch s pesnost na jeden vmnn celek je velmi obtn loha a v praxi eiteln za cenu velmi drahho testovacho zazen. Proto v praxi nezbv ne upesovat diagnzu vmnou napklad jednotek. Nejastj pinou je to, e z hlediska odezvy vykazuj nkter poruchy pesn stejn chovn, co nelze rozliit dnm testem.


Diagnostick testy

Diagnostick testy

Ve uveden zkladn lohy se e pomoc diagnostickch test. Diagnostick test slicovho zazen je mnoina vzjemn piazench dvojic vstupnch a vstupnch dat, t.j. vstupnch dat a vstupnch odezev. Kad takovto dvojice se nazv krokem testu a poet krok testu udv dlku testu. Posloupnost vstupnch dat se nazv vstupn posloupnost testu a posloupnost odezev je vstupn posloupnost testu.


Diagnostika

Velmi dleitm parametrem je diagnostick pokryt, kter udv absolutn i relativn pokryt typu poruchy kterou sledujeme. Test kter m 100% pokrytnazvme plnm testem. Test lze i nadle roziovat o dal kroky, m se ale pokryt ji nezvt. Pi vyputn nkterch krok testu se mus dt pozor na plnost testu.Test ze kterho nelze vypustit dn krok bez ztrty plnosti se nazv neredundantn.


Diagnostika

pln test sminimln dlkou se nazv minimln test. Tchto test me bt nkolik a asto pedstavuje extrmn ppad, protoe minimalizace me bt sloit a drah. Triviln test je takov test, pi kterm se vyzkou vechny mon funkce kter m testovan obvod realizovat. Pro n-vstupov kombinan logick obvod m dlku 2n a skld se ze vech kombinac hodnot n promnnch.


Diagnostika

Vstupn i vstupn posloupnost je mono zaznamenat na pamov mdium a provdt testovn obvodu takto i pomoc sprvn fungujcho obvodu. Tento test nazvme test srovnn s etalonem nebo t komparan test.

Diagnostick test se provd po krocch pi em po kadm kroku se testuje odezva. Podle toho jakm zpsobem se vybr nsledujc krok testu se dl testy na zvisl a nezvisl.V nezvislm testu je vstupn posloupnost urena pevn pedem.Zvisl test (adaptivn, sekvenn) je charakterizovn vbrem dalho kroku testu v zvislosti na vsledku.


Diagnostika

  • Testy (ovovn) mohou bt provdny :

    • run

    • automaticky

  • Oba tyto druhy test lze dle rozdlit na :

    • vrobn

    • provozn (servisn)


  • Diagnostika

    • Testovan systmy mohou bt sestaveny z nsledujcch obvod :

      • analogovch

      • slicovch (digitlnch)

      • analogo-slicovch

  • U vech uvedench systm, se sleduj nsledujc parametry :

    • statick

    • dynamick


  • Ru n testy

    Run testy

    Run testovn systm zahrnuje diagnostick metody vyadujc vtinou vysoce kvalifikovanho pracovnka s detailn znalost testovanch obvod a pslunm pstrojovm vybavenm jako jsou:

    • osciloskopy

    • tae

    • genertory funkc

    • logick analyztory atd


    Diagnostika

    Pracovnk pomoc pstroj a vrobn dokumentace ovuje parametry v dleitch sledovanch bodech systmu. Konstrukn een a ji desek i blok mus umonit pstup k tmto mcm bodm. Mc body obas bvaj vyvedeny na speciln mc konektory pro rzn diagnostick hladiny, to znamen na rovni desek, jednotlivch blok nebo celho systmu.


    Diagnostika

    U desek mohou bt napklad dleit mc body vyvedeny na speciln jednokolkov mc svorky. Ty bvaj na desce oznaeny rznmi zpsoby (vyleptnm znaek, stotiskem atd). Pslun hodnoty signlu (U,I,f atd) v tomto bod odpovdaj sprvn funkci a jsou uvedeny v pslun vrobn (servisn) dokumentaci. Run testovn lze pout na vech rovnch systmu. Obvykle se vyuv v malosriov vrob.


    Automatick testy

    Automatick testy

    Automatick testy pedstavuj ovovn parametr systm, kde potebn spoutn testovacch algoritm probh automaticky. Vlastn diagnostick systm bv zpravidla zen bu potaem, mikropotaem, nebo konenm automatem. Konstrukn een testovanho systmu mus pedem s automatickm testovnm potat. Jedn se o vyveden vybranch bod v systmu na vvody konektoru systmu :

    • pes hlavn konektor desky

    • pes mc konektor desky


    V robn testy

    Vrobn testy

    Vrobn diagnostika zahrnuje ovovn vech vstupnch st, ze kterch se systm skld. Finln vrobce zskv osvden o dodvanch stech od pslunch vrobc. Ovovn st jednotlivch podsystm i celho systmu se provd pokud je to teba v jednotlivch fzch vroby a vdy u koncovho vrobku. Nkte vrobci provdj u nronjch vrob jet nhodn pejmac testy, kde se odebere urit vzorek z dodvky a podrob se kontrole.Pro extrmn pouit se provd jet klimatick a dal testy. Pi hromadn vrob a opakovanch zkoukch se vyuv automatick diagnostika.


    Provozn testy

    Provozn testy

    Provozn diagnostika zajiuje ovovn parametr a funkn zpsobilost systmu v provoznch podmnkch. Monosti provozn diagnostiky jsou velmi rozmanit. Pslun diagnostick proces lze realizovat :

    • po sputn systmu (po pipojen napjen)

    • v pravidelnch intervalech za provozu systmu

    • pi odstaven systmu

    • pi zjitn poruchy


    Testov n statick ch parametr

    Testovn statickch parametr

    Testovn statickch parametr pedstavuje men hodnot sledovanch vstupnch parametr (U,I) v klidovm stavu a ovovn, zda hodnoty le v pedepsanch tolerancch. Toto testovn se provd pevn na rovni desek a kabele. Je mn nron na pstrojov vybaven a je ho mono provdt jak run, tak i automaticky. V ppad, e je na desce osciltor, je nezbytn pslun obvody vyetovat dynamickmi metodami.


    Testov n dynamick ch parametr

    Testovn dynamickch parametr

    Testovn dynamickch parametr pedstavuje ovovn pechodovch stav hodnot napt nebo proud v uritch bodech jednotlivch objekt vyetovanho systmu. Tatoinnost je nron na pstrojov vybaven a postupy pi men. To z toho dvodu, e se mus vyhodnotit i dje, kter v systmu probhaj pi pechodu z jednoho stavu do stavu druhho. Potebn pstrojov vybaven se tk pedevm osciloskop (analogovch, digitlnch a to i pamovch), logickch analyztor, signlnch genertor, registranch pstroj a podobn.


    Diagnostick hladiny test

    Diagnostick hladiny test

    Diagnostick hladiny test se zavdj za elem zjednoduen celho procesu ovovn systm. Pi sestavovn systm se postupn provd diagnostika na rovni :

    • jednotlivch soust jednotek

    • neosazench desek plonch spoj

    • sestavench jednotek (desek, modul, blok)

    • kabele systmu

    • celho systmu


    Z klady spolehlivosti syst mu

    Zklady spolehlivosti systmu

    Diagnostika souvis se spolehlivost a proto v tto sti probereme nejdleitj pojmy z oblasti spolehlivosti. Nzornm ukazatelem spolehlivosti je pravdpodobnost bezporuchovho provozu - je to veliina znaenR(t) a je zvisl na ase. Udv pravdpodobnost toho, e v ase sledovn od okamiku t nenastane ve vrobku porucha.


    Diagnostika

    Prbh R(t) se zjiuje statisticky sledovnm urit skupiny x vrobk a stanovuje se jako pomr potu neporuench vrobk v okamiku t k celkovmu potu sledovanch vrobk. Veliina Q(t) = 1 - R(t) se oznauje jako pravdpodobnost poruchy v dob od 0 do t.Hustota pravdpodobnostiporuch f(t) se zkuebn stanovuje pomrem nov poruench vrobk za krtk as vzhledem k celkovmu potu sledovanch vrobk.


    Diagnostika

    Z ve uvedench vztah se definuje intenzita poruch (t), kter je definovna (t) = f(t)/R(t). Dal dleit ukazatel spolehlivosti je stedn doba mezi poruchami Ts. Stedn doba mezi poruchami a stedn doba poruchy se asto oznauj jako stedn doba bezporuchovho chodu a plat pro n vztah:

    Ts = R(t)dt

    Typick prbh hodnot (t) je vanov kivka sloen ze 3 sek :


    Diagnostika

    I - obdob asnch poruch - m sestupnou charakteristiku. Zde se projevuj vady kter unikly vstupn kontrole a promnily se v poruchy.

    II - obdob normlnho provozu - intenzita poruch je piblin konstantn take plat

    R(t) = e- lt

    a kde t je intenzita poruch.

    Tyto poruchy bvaj oznaovny jako nhodn poruchy protoe jejich vznik nelze pedpovdat ani pipsat dnmu nm znmmu vlivu.


    Diagnostika

    III - obdob dovn vrobku - poruchy, kter se v tomto obdob vyskytnou se oznauj jako poruchy doitm.Poruchy maj vzestupnou tendenci a pouit vrobku je nehospodrn.


    Vanov charakteristika

    Vanov charakteristika

    Vztah kter charakterizuje obdob normlnho provozu se nazv exponenciln zkon poruch a plat :


    Diagnostika

    Konstantn hodnota se udv jako zkladn daj o spolehlivosti soustky. Pro integrovan obvody je intenzita poruch cca 10-6 a 10-7h-1 v zvislost na stupni integrace, kvalit vroby a provoznch podmnkch.


    P klad v po tu st edn ho bezporuchov ho provozu

    Pklad vpotu stednho bezporuchovho provozu

    Z obrzku vyplv, e schema zapojen obsahuje 4 usmrovac diody, elektrolytick kondenztor, 2 rezistory, 2 keramick kondenztory Zenerovu diodu a diodu LED. Konstanty neodpovdaj skutenosti a jsou zde uvedeny jen pro pklad vpotu!


    P klad v po tu st edn bezporuchov doby provozu

    Pklad vpotu stedn bezporuchov doby provozu

    Z obrzku vyplv, e schma zapojen obsahuje 4 usmrovac diody, elektrolytick kondenztor, 2 rezistory, 2 keramick kondenztory Zenerovu diodu a diodu LED. Konstanty neodpovdaj skutenosti a jsou zde uvedeny jen pro pklad vpotu!


    Diagnostika

    take celkov stedn doba bezporuchov innosti je rovna Ts = 1/8.10-5hod-1 = 12500 hodin


    Diagnostika v syst mech

    Diagnostika v systmech


    Diagnostika v analogov ch syst mech

    Diagnostika v analogovch systmech

    Diagnostika v analogovch systmechpedstavuje souhrn innost v rmci systmu, kter se zamuj na ovovn funkc analogovch obvod nebo celch systm. Pat sem testy jak statickch, tak i dynamickch parametr a t run i automatick postupy pi testovn.

    Ovovn statickch parametr probh v analogovch systmech po pipojen napjecho napt a ustlen hodnot jak vstupnch, tak i vstupnch signl. Ustlen hodnot lze na sledovanch mstech kontrolovat osciloskopem a statick hodnoty pak dle dokumentace ovovat multimetrem.


    Diagnostika v analogov ch syst mech1

    Diagnostika v analogovch systmech

    Ovovn dynamickch parametr v analogovch systmech pedstavuje snmn prbhu sledovanch veliin v rznch bodech analogovch obvod a jejich nsledn vyhodnocen. To ve ale vyaduje pouit mcch pstroj s potebnmi parametry.


    Diagnostika

    Pi ovovn parametr analogovch systm se musme zpravidla obejt bez automatickho testovn. Takovto automatick testovn analogovch systm se realizuje vtinou jen u vrobce zabvajcho se velkosriovou vrobou a je provdno pomoc vnjho mikropotae. Ten realizuje pipnn a odepnn vstupnch signl na jednotliv vvody obvod pes pslun konektory nebo ppojn body.


    Diagnostika v slicov ch syst mech

    Diagnostika v slicovch systmech

    Diagnostika v slicovch systmech pedstavuje oblast s nejrozshlejm vyuitm diagnostiky ve vech monch formch, t.j. testovn statickch i dynamickch parametr, run i automatick postupy, vrobn i servisn testovn.

    Ovovn statickch parametr probh po pipojen napjecho napt a ustlen hodnot jak vstupnch promnnch (logickch rovn), tak i vstupnch signl.


    Diagnostika

    rove logickch signl v ustlenm stavu lze mit multimetrem, nebo logickou sondou rozliujc povolen a zakzan psma napovch signl. Pat sem i logick zatitelnost vstup sledovanch obvod vetn ovovn vstup testovanch obvod jako logickch zt.

    Ovovn dynamickch parametr v slicovch systmech pedstavuje snmn asovch zmn logickch signl v rznch bodech vyetovanho obvodu. To ovem vyaduje jak kvalitn mc pstroje, tak i pi runch testech vysoce kvalifikovan odbornky s podrobnou dokumentac systmu.


    Diagnostika

    Automatick diagnostika slicovch systm s mikroprocesorem vyuv systmovch test, kter jsou vygenerovny pro konkrtn mikropotaov systm. Tyto systmov testy tvo soust programovho vybavena jsou uloeny v diagnostick oblasti pamti programu. Do tto oblasti zam procesor za pedem stanovench podmnek a spust systmov test. Me tak uinit :


    Diagnostika

    • pkazem na vnj podnt

    • automaticky v danch asovch intervalech, nebo po

      RESETu, prchodu uritou adresou a podobn.

      Generovn systmovch test je innost nron a vyaduje podrobnou znalost hardware pslunho systmu.


    Generov n test

    Generovn test


    Poruchy v slicov ch syst mech

    Poruchy v slicovch systmech

    Nejstar model poruchy je prezentace trvalou nulou (t0) nebo trvalou jednikou (t1). Trval nula vznikne peruenm vodie pivdjcm signl do msta poruchy a nhradou zdrojem t0. Podobn trval jednika vznikne peruenm zdroje nhradou t1. Tento stav vznik za pedpokladu sprvn funkce logickho lenu a nesprvn funkce spojovacch vodi.


    Diagnostika

    Protoe tmito poruchami typu t lze popsat vtinu poruch, existujt poruchy u kterch se poaduje sloitj model. To jsou napklad zkraty mezi signlnmi vodii. Je veobecn znmo, e se v ase poruchy chovaj obvody rzn. Nkter porucha se chov stle stejn a je ptomna nepetrit - stl porucha. Jin se nepravideln objevuj a miz take dvaj zcela rzn vsledky - nestl nebo obasn poruchy.

    Vyslen rznch poruch je v nsledujc tabulce. Je vak zvisl na pouit technologii a technologick kzni.


    Postup p i generov n test

    Postup pi generovn test

    Test, kter se specializuje na detekci oznaujeme jako strukturn a jeho sestaven je velmi nron. Test kter se zamuje jen na sprvnost funkce se nazv funkn. Pro strukturn testy je zkladem sestaven citliv cesty kter zaru penos informace o porue na vstup obvodu.

    Zcitlivn cesty je ureno pro generovn test kombinanch obvod. Tato cesta je citliv jen je-li schopna penet zmny signlu z potku na konec. Sestavuje se tak, aby penela informaci o porue signlu na primrn vstup pozorovateln lovkem. Postup nalezen jednoho kroku testu je nsledujc:


    Diagnostika

    1) volba poruchy, kter m bt detekovna

    2) piveden opan hodnoty do msta vskytu poruchy

    3) sestaven citliv cesty na primrn vstup

    4) odvozen hodnot promnnch na primrnch vstupech

    5) nalezen vech poruch pokrytch sestavenm krokem testu


    Diagnostika

    Tento postup se opakuje a do doby dokud nen nalezen pln test - pokryt vech poruch t0 a t1 na vech vodich. Na potku prce na testu je nutn definovat seznam poruch. Pivedenm opan hodnoty signlu do msta vzniku poruchy znamen, e jestlie se testuje porucha t0 pouije se hodnota 1 a opan. Z toho vyplv, e m-li citliv cesta prochzet ze vstupu na vstup lenu logickho souinu (AND, NAND) je nutno na vechny ostatn vstupy pivst hodnotu 1.Pro logick souet (OR, NOR) je pak na vechny ostatn vstupy nutno pivst hodnotu 0.

    Invertorem a hradlem XOR prochz citliv cesta vdy


    Diagnostika

    Podmnka plnosti testu je ta, e test pro kombinan obvod sestaven ze zkladnch logickch len je pln pro vechny poruchy typu t, jestlie detekuje poruchy primrnch vstup a poruchy vech vtv za kadm bodem vtven. Z toho vyplv, e sta sestavit test pouze pro primrn vstupy a body za vtvenm.

    Takovto testovn nelze provdt u vtch systm run. Proto se pouv slicov i potaov simulace.


    P klady pln ch test pro uveden obvod

    Pklady plnch test pro uveden obvod


    P klady pln ch test pro uveden obvod1

    Pklady plnch test pro uveden obvod


    Diagnostika jednotliv ch prvk

    Diagnostika jednotlivch prvk


    Testov n mikroprocesor

    Testovn mikroprocesor

    Testovn se li od ostatnch soustek svou sloitost, kter se projevuje nepzniv na testovn. Procesory testuje obvykle :

    • vlastn vrobce

    • vrobce mikropota

    • uivatel mikropota


    Diagnostika

    Nejdokonaleji testovat procesory vak vzhledem ke struktue me jen vrobce. To z toho dvodu, e zn jeho vnitn strukturu. Firma Intel uvdla pro procesory 8080, e na 100 000 procesor bylo reklamovno celkem 8 kus - co je mn ne 0,01%. Pravdpodobnost poruchy dobr technologie je tak nzk, e vstupn kontrola u uivatele je vlastn zbyten vyhazovn penz.


    Diagnostika

    Vstupn kontroly u vrobce jsou provdny v rznch fzch vroby. Vtnost na pltku je jen cca 10%. Testy na ipu se provd jet ped rozeznm (daje jsou pevzaty z vroby procesoru 8080) a jsou to :

    1) statick funkn test - na peruen, zkraty, svody

    2) dynamick parametry (asi 40 000 testovacch krok) - je to velmi inn test pro vytdn ip

    3) test pi zvenm napt (cca 2UCC), co umouje odhalit vechny prrazy


    Diagnostika

    Pot jsou pltky s procesory rozezny a dobr kusy zapouzdeny. Testy zapouzdenho procesoru jsou:

    • statick parametrick test (88 men) pi kterm se m svody, proudy, odbr a tot pi zvenm napt pi 85 C

    • dynamick testy (1200 krok) pi kterch se testuj vechny sti procesoru v nejnepznivjch podmnkch


    Diagnostika

    3) spolehlivostn testy jejich kolem je vyadit kusy, kter neposkytuj dostaten vysokou zruku bezporuchovho provozu. Skldaj se z napovho namhn, dynamickho zahoovn a testu ivotnosti. Zahoovn probh pi 125 C po dobu 48 hodin. Dle testy ivotnosti u vybranch kus po dobu 1000, 5000 i vce hodin. Podobnm zpsobem se provd testovn i u novch procesor.


    Diagnostika

    Uivatel nem monost pro relativn "mal" mnostv kus provdt sloitj testy. Proto provd jen testovn celch desek i mikropota pomoc :

    • vnjho testu

    • konfrontanho testu

    • autonomnho testu


    Diagnostika

    Vnj test se provd ve zkouei desek, kdy deska vysl synchronizan impulsy do zkouee s m je nutno potat.

    Konfrontan test se provd se dvma mikropotai stejnho typu kter spolupracuj a dc mikropota posl program a sleduje odezvu.

    Autonomn testy jsou testy bez vnjho zazen (selftest). Zkou se aplikanm programem, aleneme ovit vechny situace, protoe je nutn simulace vnjho prosted.


    Diagnostika

    Vrobce mikropota i uivatel me provdt t testovn jednotek ve zkouei a to nsledujcmi testy:

    • trojfzov

      • samotn test procesoru

      • deska bez procesoru, je nasazen emultor plnc funkci procesoru. Emultor se pipojuje kabelem na patici procesoru

      • deska s procesorem, kde je teba tn zmn nebo kontrola pznakovm analyztorem, ppadn aplikanm programem


    Diagnostika

    • dvoufzov

      • samotn test procesoru

      • deska s procesorem v krokovm reimu. Poad na desce se kontroluje :

        • obsah pamti ROM

        • zpis a ten RAM

        • ostatn adresovac funkce


    Diagnostika

    • jednofzov

      • cel mikropota je testovn pi normln provozn rychlosti pi em je mono provdt test bu komparanm srovnnm odezev mikropotae s etalonem nebo pout tester vybaven odezvami na zklad simulace.

        Jako testovac program me slouit t program CHECKIT PRO, testovac program z Norton Utilities a ada dalch.


    Testov n polovodi ov ch pam t rwm ram

    Testovn polovodiovch pamt RWM RAM

    Obecn pro polovodiov pamti a ji statick i dynamick, nebo ROM plat to, e se li od logickch integrovanch obvod svou pravidelnou strukturou. Z toho vyplvaj rozdly jako je vy hustota soustek a tm i nov zdroje poruch. Pro testovn poruch je teba si uvdomit, e pamov obvody obsahuj krom pamov matice jet adu sloitch obvod kter mohou bt zdrojem poruch. Podle msta vzniku lze rozliovat 2 skupiny poruch :

    • poruchy pamov matice

    • poruchy mimo pamovou matici


    Diagnostika

    poruchy lze dle dlit na :

    1.1- poruchy adresovch dekodr

    • peruen

    • zkrat

      1.2 - prrazy a svody na vstupech

      1.3 - hromadn nboje v budich nebo dlouhch sbrnicch (velk vybavovac doba)

      1.4 - setrvanost tecch zesilova (patn ten 0 po 1 a naopak)


    Diagnostika

    Poruchy pamov matice :

    2.1 - pasvn poruchy (vznikaj v ustlenm stavu pamti)

    2.1.1 - bez ohledu na stav okol (obdobn jako u logickch obvod)

    2.1.2 - v zvislosti na stavu okol (zvis na stavu v sousednch bukch na 0 a 1)

    2.2 - aktivn poruchy (pi pechodovch djch, kdy se pi zpisu do adresovan buky zape i vymae i jin buka)

    2.2.1 - vzjemn vazba dvojic bunk

    2.2.2 - vzjemn vazba ntic bunk


    Diagnostika

    2.3 - dlouh doba zotaven po zpisu

    2.4 - krtk doba obnoven informace (u dynamickch

    pamt, kdy mus bt informace pravideln

    obnovovna, nebo dojde ke ztrt informace

    Poruchy 2.1.2, 2.2.1 a 2.2.2 se oznauj jako citlivost na vzorek.


    Diagnostika

    Podobn jako u ostatnch slicovch obvod se i zde rozliuj testy funkn a parametrick a navc testy statick i dynamick. Parametrick testy mohou bt statick (odbry ze zdroje, vstupn a vstupn proudy atd.) i dynamick (vybavovac doba, ka impulsu, pedstih tsetup atd.)


    Diagnostika

    Kad pouit technologie vykazuje jist j typick poruchy. Proto pro kadou technologii jsou vyvinuty strategie, kter dostaly ustlen nzvy pod ktermi je lze vyvolat z pamti zkouee. Tyto strategie se dl do 3 hlavnch skupin charakterizovanch dlkou testu. To znamen, e je-li poet bit pamti roven N, lze skupiny charakterizovat takto:


    Diagnostika

    • vzorek typu N - poet krok je linern zvisl na potu

      bit

      b)vzorek typu N2- poet krok je mrn druh mocnin

      potu bit

      c) vzorek typu N3/2- poet krok je mrn souinu N. N

      Testy zaloen na pouit strategie N2 jsou nejdokonalej, ale v mnoha ppadech pro maximln asov nroky mlokdy pouiteln.

      Pro sriovou vrobu se pouv pevn strategie N, kdejeinnost omezena a proto se v posledn dob sousteuje pozornost na strategii N3/2.


    Nej ast j strategie n

    Nejastj strategie N :

    achovnice - do sousednch bunk jsou zapsny opan

    hodnoty a provede se peten zapsanch hodnot

    dky - do sousednch dk jsou zapsny opan hodnoty a

    provede se peten zapsanch hodnot

    sloupce - do sousednch sloupc jsou zapsny opan hodnoty

    a provede se peten zapsanch hodnot

    parita - do kad buky je zapsna parita jej adresy a

    provede se peten vech hodnot


    Diagnostika

    diagonla - buky na diagonle maj jinou hodnotu

    ne ostatn st pole a provede se

    nsledn peten hodnot

    postupujc 0 i 1 - postupujc 1 ( marching 1) je vzorek,

    kter je naplnn 0 ve vech bukch,

    provede se zpis 1 do adresy N, ten

    adresy N, zpis 1 do adresy N+1 atd. Pi

    postupujc 0 je postup obdobn a na to

    e jsou 1 a 0 vzjemn vymnny.


    Nejd le it j strategie n 2

    Nejdleitj strategie N2

    putujc 1 - po vynulovn pamti se zape na prvou adresu 1 a (walking 1) pete se cel pam. Prv adresa se vynuluje, 1 se zape do adresy dv a proces se opakuje a do buky n. Tot se provede pro 0

    Galpat I - do vynulovan pamti se zape na prvou adresu 1 a (ping-pong) pak se tou adresy v poad 1,2,1,3,1,....,N-1,1,N. Pot se vynuluje adresa 1, zape se do adresy 2 a stdav te v poad 2,1,2,3,2,4,....,N-1,2,N.

    Galpat II - adresy se stdaj ve stejnm poad jako pi Galpat I , ale na mnc se adresy se stdav zapisuje 0 a 1.


    Diagnostika

    Pklady strategie N3/2:

    posouvan diagonla - do pole nul se zape 1 na hlavn diagonlu. Nsleduje ten pamti po sloupcch, take je tena posloupnost nul stdav osamocench 1. Pot se diagonla posune o 1 bit vpravo.

    Galpat- je to Galpat omezen na dek, sloupec a nejbli okol testovan buky (viz nsledujc obrzek).


    P klady strategie n 3 2

    Pklady strategie N3/2

    posouvan diagonla - do pole nul se zape 1 na hlavn diagonlu. Nsleduje ten pamti po sloupcch, take je tena posloupnost nul stdav osamocench 1. Pot se diagonla posune o 1 bit vpravo.

    Galpat- je to Galpat omezen na dek, sloupec a nejbli okol testovan buky (viz obrzek).


    Parametrick testy

    Parametrick testy

    U dynamickch pamt pat mezi hlavn testy test doby obnoven (refresh). Zpsob a rozsah test zvis na rovni technickho vybaven Testy jsou nrona to hlavnpro vyhodnocen zvislosti dvou a vce parametr, kter ovlivuj funkci pamovho obvodu (napt - ka impulsu atd.).


    Testov n polovodi ov ch pam t typu rom

    Testovn polovodiovch pamt typu ROM

    Tyto pamti ROM, PROM, EPROM a EEPROM jsou vlastn kombinan obvody, kdy vstupnmu kdu odpovd kd vstupn. Testy jsou jednodu ne testy ostatnch pamt. Je to jednoduch test jeho dlka je rovna potu adres N. Posloupnost adres me bt vdy stejn, ale vstupn posloupnost je zvisl na zapsanm obsahu z eho vyplv pouit vdy jinho testu. Pro testovn pamt se pouv obvykle zkoue, jeho zkladem jsou 2 genertory a to adres a dat. Vzorek pak vznikne jejich souinnost.


    Testov n ostatn ch integrovan ch obvod

    Testovn ostatnch integrovanch obvod

    Testovn ostatnch integrovanch obvod lze rozdlit podle obvodov struktury na :

    • testovn slicovch obvod

    • testovn analogovch obvod

    • testovn analogo-slicovch a slico-analogovch obvod

      Podle velikosti souboru testovanch integrovanch obvod lze proces jejich ovovn povaovat za :

    • hromadn testovn u vrobce

    • individuln testovn u uivatele


    Diagnostika

    Vrobce pouv zpravidla speciln testovac zazen - testery s poloautomatickm nebo zcela automatickm provozem. Uivatel zakoupen integrovan obvody zpravidla samostatn netestuje a jejich test zahrnuje do testovn komplexnch obvod. Me vak pout PC se specilnm adaptrem obsahujcm vhodn objmky a k tomu pslun programov vybaven.


    Testov n ostatn ch sou stek

    Testovn ostatnch soustek

    Takovto testovn je pedevm zleitost vrobce. Ten dv na sv vrobky certifikt ve form technickch podmnek.

    Uivatel zahrnuje testovn pasivnch soustek a jednoduchch aktivnch soustek do testovn celch obvod.

    Testovn neosazench desek plonch spoj pedstavuje ovovn vech vodivch cest podle pslun vrobn dokumentace. I kdy technologie vroby vcevrstvch plonch spoj zaznamenala v posledn dob vrazn pokrok, pak pro nron aplikace je potebn uveden test provst.


    Diagnostika

    Poruchy na neosazen vyvrtan desce plonho spoje mohou bt :

    • zkraty

    • peruen

      Z uvedench skutenost vyplv, e pi testovn je nutn zkouet propojen kadho montnho bodu s kadm jinm. Vsledky mus odpovdat pedepsan tabulce. Tyto testy sloitjch desek plonch spoj nelze provdt run, neb se jedn o nesmrn mnostv kombinac montnch bod.


    Testov n st a celk

    Testovn st a celk

    Diagnostika sestavench desek (jednotek) pedstavuje testovn osazench desek plonch spoj. Osazen desky v sob zahrnuj mnoinu elektronickch obvod a tvo jist podsystm, to je uritou dosti dleitou hladinu ve struktue systmu. Metody diagnostiky osazench desek plonch spoj jsou propracovan pro rzn formy testovn a rzn typy testovanch obvod na deskch, to je testovn statickch i dynamickch parametr, run i automatick postupy, vrobn, i servisn testovn,podobn jako u diagnostiky systm.


    Diagnostika

    Testovn tchto podsystm je nkdysloita je dleit sestavit vhodn zkuebn test, to je speciln postavenou posloupnost stav vstupnch hodnot a k nim piazench hodnot vstupnch za elem diagnostickho pokryt.


    Ru n testov n osazen ch desek

    Run testovn osazench desek

    Run testovn osazench desekje vhodn ujednoduch desek, kter neobsahuj sekvenn obvody (napklad mikropotae). Jak u analogovch, tak u slicovch obvod je nutn mt kdispozici pslun nleitosti :

    • vrobn dokumentaci (schema zapojen, vkres sestaven desky, zapojen konektor)

    • pomocn pstroje ( zdroje napjen, genertory vstupnch signl, propojovac kabely, zkratovac spojky, a j.)

    • mc pstroje (sondy, osciloskopy, pamov osciloskomy, multimetry, logick analyztory)


    Diagnostika

    Run testovn desek vyaduje kvalifikovanho pracovnka s praktickmi zkuenostmi, a to zvlt u sloitjch analogovch desek s nastavovacmi prvky nebo u desek s mikropotai. Diagnostika desek s mikropotai je bez logickho analyztoru a pslun programov dokumentace prakticky nemon.


    Automatick testov n osazen ch desek

    Automatick testovn osazench desek

    Automatick testovn osazench desek pedstavuje ovovn funknch parametr takovm zazenm, kter umon automatick nastavovn hodnot vstupnch signl v poadovanm poad a automatick snmn pslunch hodnot vstupnch signl pro kadou sekvenci. Automatick testovn desek jak pi vrob, tak pi servisu (opravch) nebo pmo za provozu lze prohlsit za perspektivn. Plat to nejen pro desky s slicovmi obvody, ale i pro desky s obvody analogovmi, nebo i ty zpravidla tvo soust mikropotaovho systmu, u kterho jsou automatick metody testovn vhodn.


    Diagnostika

    Metodu automatickho testovn lze tedy vyut pro :

    • desky s analogovmi elektrickmi obvody

    • desky s slicovmi kombinanmi i sekvennmi elektrickmi obvody

      Testovnsestavenchjednotekme probhat jako :

    • vrobn na specilnch programovatelnch testerech (zkouech)

    • provozn pmo v zapojen s pouitm systmem.


    Diagnostika

    Automatickmu testovn mus bt pizpsoben i konstrukn nvrh desky plonch spoj, kde mus bt zajitno, aby sledovan body elektrickch obvod byly vyvedeny na :

    • funkn (hlavn) konektor,

    • mc (pomocn) konektor.


    Funk n konektor desky

    Funkn konektor desky

    Funkn konektor desky (hlavn) pedstavuje spojovac lnek mezi elektrickmi obvody na desce a systmem. Pi testovn desek je vyuvn pro pvod napjecho napt a systmovch vstupnch signl. Dle jsou na nm snmny i vstupn signly desky uren do systmu. Pi testovn mohou bt desky napjeny i pes kontakty konektoru ze zdroje testeru a lze tak ovit i funkce v povolenm rozsahu napjecch napt. Pro ely testu lze pak pes kontakty konektoru pivdt vhodn hodnoty a posloupnosti vstupnch signl desky. Na dalch kontaktech hlavnho konektoru lze pak snmat odezvy obvod na signly vstupn.


    M c konektor desky

    Mc konektor desky

    Mc konektor desky (pomocn)jena desce umstn vhradn pro poteby diagnostiky a nen vyuvn pro zajitn funkce desek v systmu. Na tento konektor jsou vyvedeny dleit vnitn uzlov body elektrickch obvod desky, ppadn i nkter dal systmov signly hlavnho konektoru vetn napjen. Mc konektor se na desku umsuje bu pro nedostatek volnch kontakt na hlavnm (funknm) konektoru nebo pro zajitn monosti mit hodnoty poadovanch signl i bhem zapojen desky v systmu.


    Automatick testov n analogov ch desek

    Automatick testovn analogovch desek

    Automatick testovn analogovch desekzajiuje nastaven vech potebnch hodnot vstupnch signldeskya odmen jejich odezvy na vstupech. Testovn analogovch desek lze provst :

    • pi vrob

    • za provozu

      Vrobn automatick testy analogovch desek lze uskutenit i u desek, kter jsou ureny do ist analogovch systm. Vechny potebn hodnoty vstupnch analogovch signl a odmen vstup me zajistit pslun tester. Provozn automatick testy analogovch desek jsou ji odkzny na souinnost s mikropotaovm systmem, do kterho jsou zapojeny.


    Automatick testov n slicov ch desek

    Automatick testovn slicovch desek

    Automatick testovn slicovch desek zajiuje nastaven vech potebnch kombinac vstupnch logickch signl vetn jejich sekvenc (posloupnost) a sejmut pslunch hodnot vstupnch signl pro kadou testovanou sekvenci. Testovn slicovch desek lze provst :

    • pi vrob

    • za provozu


    Diagnostika

    Vrobn automatick testy slicovch desek provd vrobce pomoc tester (zkoue). Potebn testyjsou vygenerovny za elem diagnostickho pokryt vech monch provoznch stav, kter mohou nastat. Provozn automatick testy slicovch desek jsou podmnn zapojenm desek do mikropotaovch systm, kde se tyto testy aktivuj sputnm pslunch diagnostickch program, kter tvo soust programovho vybaven mikropotaovho systmu.


    Diagnostika

    Podmnky spoutn testovacch program jsou svzny scelkovmi poadavky na systm. Obvykle se poprv aktivuj pi sputn celho systmu (systmov reset, restart), nebo na zklad jinch podmnek, napklad asov interval, zmna teploty, zmna napjen, vnj povel, atd.


    Testov n kabel e

    Testovn kabele

    Testovn kabele se uskuteuje na stejnm principu jako testovn neosazench desek plonch spoj. Menm se ovuje propojen kadho vvodu kabele se vemi ostatnmi vvody, zda zjitn stav odpovd vrobn dokumentaci (kabelov knize, normm pro zapojen sbrnice, atd). Testovn probh :

    • run

    • automaticky


    Diagnostika

    Run testovn kabele

    Run testovn kabele je nejstar metoda ovovn kabele, kter se pouv u jednoduch a uniktnch zapojen.


    Diagnostika

    Automatick testovn kabele

    Automatick testovn kabele umouje svit postupn promovn vodivosti kadho vvodu kabele se vemi zbvajcmi sekvennmu automatu, ppadn programovatelnmu mikropotai. Do ukonovacch konektor kabele se zasouvaj konektory s propojovacmi kabely vedoucmi k pslunmu adii (sekvennmu automatu). Pokud kabel vany pedstavuje fyzickou st standardn sbrnice, je kabel provedena pmo jako plon spoj a jako plon spoj je testovna.


    Vyhodnocov n test

    Vyhodnocovn test

    Vyhodnocovn test pro analogov i slicov systmy se provd:

    • srovnnm s tabulkou sprvnch hodnot,

    • srovnnm s ovenm etalonem.


    Metoda srovn n s tabulkou

    Metoda srovnn s tabulkou

    Metoda srovnn s tabulkou vychz z ovovn hodnot namench na testovan jednotce s tabulkou sprvnch hodnot pedepsanch vrobcem pro pslun test. Ppadn detekovan odchylky hodnot testovan jednotky od hodnot povolench vrobcem pro pslun test pak umon analyzovat ppadn zvady, a to

    • pomoc koment k pslunmu testu v dokumentaci

    • na zklad zkuenost servisnho technika


    Metoda srovn n s etalonem

    Metoda srovnn s etalonem

    Metoda srovnn s etalonem je blzk populrn metod "vmnk". Srovnvac metoda vychz z porovnvn vsledk testovan jednotky (desky) s takovou jednotkou, jeji funkce je zaruen sprvn (etalon). Ppadn odchylky pak umon ve spojen s potebnmi zkuenostmi technika analyzovat ppadnou zvadu.


    Prost edky diagnostiky

    Prostedky diagnostiky

    Technick prostedky diagnostiky tvo potebnou podporu pro ovovn provozuschopnosti systm a jejich jednotlivch obvodovch st. Testovn parametr systm i jejich st znamen men tchto parametr s jejich nslednm vyhodnocenm. Jak bylo ve uvedeno, pat sem testery (zkouee) :

    • integrovanch obvod(spec. CPU a pamt)

    • tranzistor

    • ostatnch (pasivnch) soust

    • desek plonch spoj.


    Diagnostika

    Pro diagnostiku systm potom :

    • logick analyztory

    • osciloskopy (pamov)

    • logick sondy

    • impulzov genertory

      Pro diagnostiku "smench" (analogo-slicovch) systm navc signln genertory :

    • sinus,

    • pila,

    • trojhelnk, a j.


    Testery integrovan ch obvod

    Testery integrovanch obvod

    Testery integrovanch obvod jsou zazen pro ovovn parametr :

    • analogovch IO

    • slicovch IO

    • analogo-slicovch IO.

      V modernm proveden jsou tyto testery konstruovny jako I/O zazen PC. Pslun drky sokl integrovanch obvod umstn na pdavnch panelech a programov podpora v PC pak umouje testery provozovat jako virtuln mc zazen, kde obrazovka monitoru PC zobrazuje namen parametry v tabulkovm nebo grafickm (charakterograf) proveden. Pomoc kurzoru pak lze vybrat a nastavovat potebn hodnoty vstupnch signl dal parametry pro testovn integrovanch obvod.


    Testery mikroprocesor

    Testery mikroprocesor

    Testery mikroprocesor lze povaovat za speciln zazen pro ovovn parametr mikroprocesor. Jedn se o sloit zazen navrhovan pro konkrtn typy mikroprocesor vyuvan pevn vrobci pi hromadnm testovn mikroprocesor. Mohou ovovat statick i dynamick parametry mikroprocesor svyuitm podrobnch znalost vnitn struktury mikroprocesor.


    Testery pam t

    Testery pamt

    Testery pamt slou vrobci pro ovovn pamovch ip ped jejich zapouzdenm. Jedn se zpravidla o speciln zazen, kter hromadn provdj nkter vybran testy pamt.

    Poznmka : Uivatel si me ovit funkci pamt vhodnm testovacm programem pro konkrtn zapojen pamt v mikropotaovm systmu.


    Testery tranzistor

    Testery tranzistor

    Testery tranzistor jsou k dispozici jako stoln pstroje s rznmi typu objmek pro rzn pouzdra a vvody mench tranzistor. Univerzln testery tranzistor m i vkonov tranzistory, nebo maj ve vbav pslun drky (holder) vkonovch tranzistor s dostatenou chladc plochou. Testery tranzistor lze t realizovat jako I/O zazen pipojen pes standardn rozhran k PC a komunikujc pes displej s kurzorem.


    Testery pasivn ch sou st

    Testery pasivnch soust

    Testery pasivnchsoust jsou pevn automatick zazen pro hromadn ovovn pasivnch soust (dvojpl)pijejich vrob.


    Testery neosazen ch desek plo n ch spoj

    Testery neosazench desek plonch spoj

    Testery neosazench desek plonch spoj vychzej z poadavk na oven vodivho spojen kadho montnho bodu s kadm dalm bodem na desce. Ke kontaktovn pslunch bod se pouv jehlov adapter, kter vyuv odpruench jehel jejich vodc drky jsou z dobrho izolantu a le v normovanm rastru (2,5x2,5 mm). Po vloen neosazen desky s plonmi spoji do ppravku s jehlovm adaptrem je na kad montn bod zkouen desky vyvjen pslunm hrotem dostaten tlak 1 a 2N ( viz obrzek), m je zabezpeeno elektrick spojen v mst kontaktu jehly s povrchem desky.


    Diagnostika

    Jehlov kontakty je mon vmatici libovoln propojovat. Tak lze splnit poadavek postupnho oven vodivosti kadho pjecho bodu na desce proti vem ostatnm vyetovanm bodm desky.


    Jehlov adapt r testeru neosazen ch desek plo n ch spoj

    Jehlov adaptr testeru neosazench desek plonch spoj


    Testery osazen ch desek jednotek

    Testery osazench desek (jednotek)

    Testery osazench desek (jednotek) pracuj tak, e po jejich sputn probhne sekvenn test vygenerovan speciln pro kadou desku osazenou slicovmi obvody tak, aby diagnostick pokryt bylo vyhovujc. Sloitost a dlka testu bude mrn sloitosti testovanch slicovch (digitlnch) obvod. Zkuebn signly se mohou dostat k vyetovanm obvodm na osazen desce nsledujcm zpsobem :

    • pstup pes konektory na desce

    • pstup pes patici (sokl) CPU

    • pstup pes jehlov adaptr.


    Diagnostika

    Prvn zpsob je vyuvn nejastji. Pedpokld pstup ke vem poadovanm vstupm a vstupm pes hlavn nebo mc konektory na desce. Technick een tohoto pstupu pedstavuj :

    • speciln testery desek

    • adaptry dcch pota (PC)


    Speci ln testery desek

    Specilntesterydesek

    Specilntesterydesek jsou sloitj zazen vyroben za tmto elem, kter jsou zena zpravidla mikropotaem. Star typy bvaly osazeny sekvennm (konenm) automatem, historicky pvodn byly telefonn krokov volie. Tato zazen pouvaj pedevm vrobci desek pi vrob (oivovn) ppadn pi servisu.


    Adapt ry d c ch po ta

    Adaptry dcch pota

    Adaptry dcch pota pedstavuj perifern zazen univerzlnch dcch pota (I/O) s pslunmi konektory pro zasunut testovanch desek. Lze tak pro diagnostiku vyut ppadn ji zakoupen pota jeho vyuit pro testovn desek me bt pouze okrajovou zleitost. Nklady na hardware pro testovn desek se tak omezuj pouze na samotn adaptr s propojovacm kabelem.

    Poznmka : ir vyuit PC a kompatibilnch pro testovn desek pedpokld nasazen operanch systmy pro zen v relnm ase (OS2).


    Emula n adapt ry po ta

    Emulan adaptry pota

    Emulan adaptry pota pedstavuj perifern zazen (I/O) univerzlnch dcch pota slouc pevn pi vvoji mikropotaovch systm, ale lze ho vyut i pro nslednou diagnostiku tchto systm. Jedn se o zazen, kter pomoc vkonnho dcho potae fyzicky simuluje (pedstr) obvykle jin typ mikroprocesoru (mikropotae), ne kterm je vybaven hostitelsk dc pota (nap. PC). Adaptr dcho potae pak zajiuje pslun rovn signl a fyzicky propojuje vyetovan systm s dcm potaem (mikropotaem).


    Diagnostika

    Aby bylo mon vodiv propojen vyetovanho mikropotaovho systmu se systmem dcho potae, mus bt mikroprocesor vyetovanho systmu bhem testu vyjmut z pslun objmky a na jeho msto zasunut konektor, kter je pes kabel a adaptr pipojen k systmu dcho potae. Tm dc pota nahrad vyetovan mikroprocesor a vyetovan mikropotaov systm se me obvyklm zpsobem spustit.

    Poznmka : Nkter CPU umouj pipojen na emulan adaptr ani by musely bt z obvodu vyjmuty. To souvis s monost uveden jejich vvod do 3. stavu.


    Jehlov adaptery

    Jehlov adaptery

    Jehlov adaptry pedstavuj konstrukn nejnronj formu testovn osazench desek plonch spoj. Technick een kontaktnch jehel odpovd testeru desek neosazench plonch spoj. Pomoc tchto jehlovch kontakt umstnch vpedepsanm rastru je mon pm pstup ke vem vstupm a vstupm libovolnch prvk (napklad integrovanm obvodm), tzv testovn prvk v obvodu (In Circuit Testing). Vhodou tto metody je snadn generovn plnch test oproti nkdy komplikovanmu zpsobu pes konektory. Protoe jsou obvodov leny na desce vzjemn vodiv spojeny, je poteba tyto vazby pro okamik men umle peruit.


    Diagnostika

    To se dje napklad u slicovch desek technikou vnucovn logickch promnnch do vstup vyetovanch len pomoc krtkch vkonovch impuls na dobu nezbytn nutnou pro oven funkce vyetovanho lenu, ale nesm pitom dojt k destrukci pipojench vstup jinch aktivnch len.


    Testery kabel e

    Testery kabele

    Testery kabele (rot) pedstavuj sady vhodnch testovacch desek, obsahujc matice pepna pro realizaci potebnch spojen jednotlivch vvod kabele s kadm dalm. U propojovacch rot vyrobench technikou plonho spoje lze pro testovn tchto plonch rot vyut testery desek neosazench plonch spoj.


    Logick analyz tory

    Logick analyztory

    Logick analyztory jsou diagnostick pstroje, uren pro neautomatick neboli vnj testovn slicovch systm. Zazen umouje sekvenn snmn logickch hodnot vybranch signl vyetovanho slicovho systmu, jejich zpis do vnitn datov pamti analyztoru a souasn jejich zobrazen na obrazovce monitoru.

    Konstrukce logickch analyztor je podzena elu pouit. Pstupy k zkladnmu een jsou dva :

    • samostatn pstroj(Stand Alone),

    • adaptr k mikropotai.


    Diagnostika

    Ob een mohou obecn zajistit poadovan funkce, nebo vychzej ze stejnch princip zen. Logick analyztory vych td jsou t mikropotaov systmy.

    Vhody samostatnch analyztor spovaj v jejich vt mobilnosti (pemstitelnosti), kompaktnosti zazen a tak pjemnj obsluze, "it na mru". Nevhodou je vy cena a poteba propojen na PC pi vyhodnocovn dat.

    Vhody analyztor jako adaptr k mikropotam spovaj v ni poizovac cen samotnho adaptru a v monosti nslednho zpracovn vsledku na PC.


    Diagnostika

    Logick analyztor je vybaven snmacmi sondami, ktermi se pipojuje k vyetovanmu potaovmu systmu. Kontaktse systmem v kadm snmanm bod zajiuj miniaturn hroty s pdrnm mechanizmem. Hrottvo soust snmac sondy a je spojen krtkm kabelem s pouzdrem sondy, ve kterm jsou umstny obvody pravy signlu tvoen logickm kompartorem a linkovm zesilovaem. Z konstruknch dvod kad pouzdro sdruuje obvody pravy signlu pro nkolik (8, 16) kontaktnch hrot, kter jsou k pouzdru pipojeny.


    Diagnostika

    Linkov zesilovae v sond zajiuj penos sejmutch signl ze systmu k dalmu zpracovn do analyztoru. Tchto sdruench sond me bt nkolik a analyztor tak me zpracovvat destky vstupnch signl.


    Diagnostika

    Vlastn signly pivdn do analyztoru se z hlediska jeho funkce dl na :

    • data uren pro zobrazen

    • kvalifiktory urujc kdy se budou data snmat

    • synchronizan impulsy uren pro zen synchronnho reimu

      Sondy mohou bt k systmu pipojeny trvale, ale vlastn snmac reim odstartuje spoutc slovo (spoutc podmnka), co je urit kombinace hodnot signlu na sledovanch vstupnch kanlech (t kvalifiktory), pi kter m dojt ke sputn snmacho reimu analyztoru.


    Diagnostika

    Spoutc slovo zape obsluha do pamti analyztoru, kter pak sleduje uren vstupn kanly. V okamiku, kdy logick kombinace na tchto kanlech odpovd spoutcmu slovu, analyztor zahj innost a zane postupn vjednotlivch krocch (sekvencch) zapisovat sledovan datov kanly do vnitn datov pamti analyztoru a zobrazovat je na obrazovce monitoru.


    Diagnostika

    Rozdlen logickch analyztor je dno zpsobem snmn dat kter zrove rozdluje logick analyztory na dv skupiny :

    • synchronn reim tzv. stavov logick analyztory

    • asynchronn reim tzv. asov logick analyztory.


    Stavov logick analyz tory

    Stavov logickanalyztory

    Stavov logick analyztory pracuj synchronn svyetovanm systmem. To znamen, e jeden kad systmov synchronizan impuls vyhodnocen analyztorem vyvol jedin sejmut (odmen) signl na vstupnch datovch kanlech analyztoru. Do pamti analyztoru se tak ukld v kadm popsanm taktu jedno slovo, jeho dlka (ka) je urena potem snmanch kanl. Snmaj se a registruj pedevm logick signly systmovch sbrnic procesor, to je Adr Bus, Data Bus, Control Bus, ppadn dal signly rozench mikropotaovch systm. Pro zven komfortu obsluhy jsou analyztory vybaveny i zptnmi pekladai operanch kd do assembler vyetovanch CPU nebo alespo do hexadecimlnho kdu.


    Asov logick analyz tory

    asov logickanalyztory

    asov logick analyztory pracuj asynchronn svyetovanm systmem. Analyztor v tomto reimu nezvisle nepetrit vzorkuje signly pivdn na jeho vstupy pes datov kanly.Vzorkovac frekvence mus bt pochopiteln vy (cca 10x)ne frekvence hodin sledovanho signlu. m vt vzorkovac frekvence bude, tm vrnj bude vyetovn a nsledn zobrazen snmanch dat v systmu. pikov asov analyztory umouj vzorkovat systmov signly frekvencemi dov 1011Hz. Nejvt pednost asovch logickch analyztor je schopnost odhalit krtkodob ruiv impulsy (tzv. glitch), kter vsystmu vznikaj jako dsledek hazard, peslech a odraz na vedench.


    Diagnostika

    Poznmka : Z uvedenho popisu obou reim je zejm, e reim asynchronn je technicky nronj, a proto asov analyztory obvykle umouj i funkci vsynchronnm reimu, t.j. jako stavov logick analyztory.


    Pam ov slicov osciloskopy

    Pamov slicov osciloskopy

    Pamov slicov osciloskopy upravuj snman signly obdobnm zpsobem jako bn osciloskopy. Rozdl spov v tom, e pamov osciloskopy pevdj upraven signl na slicov tvar a ukldaj ho do pamti osciloskopu. Namen hodnoty lze pak zobrazit na obrazovce osciloskopu a zrove uchovat vpamti osciloskopu a kdykoliv vyvolat k analze. Lze tedy ci, e pamov slicov osciloskopy registruj upraven napov signly obdobnm zpsobem jako logick analyztory s tm rozdlem e nevyhodnocuj pouze dva (logick) stavy, ale poskytuj navc informaci o velikostech napt snmanho signlu vpoadovanch asovch okamicch.


    Diagnostika

    Takovou informaci zajist dostaten rychl A/D pevodnk, kter sta pevdt s poadovanou pesnost mnc se hodnoty mench napovch signl.


    Logick sondy

    Logick sondy

    Logick sondy jsou jednoduch diagnostick pstroje, slouc pro testovn jednoduch slicovch obvod. Vnejjednodum proveden umouj pouze statick rozlien napovch logickch signl, a to pomoc optick signalizace barevnmi diodami LED, ppadn akustickou signalizac dvma rozdlnmi tny. Napjenlogickch sondjeobvykle zajitno pmo z vyetovanch obvod. Konstrukn jsou eeny tak, aby se s nimi snadno manipulovalo.


    Diagnostika

    Na jednom konci jsou opateny snmacm hrotem, kter bv u kvalitnjch sond odpruen. Na tle sondy jsou viditeln umstny svtlo emitujc diody jako optick indiktory hodnoty napt snmanho hrotem. Sloitj sondy mohou mt i dal funkce jako ta s LED signalizac, zabudovan pulzn genertor, a jin.


  • Login