1 / 24

Metody goniometryczne w badaniach materiałów monokrystalicznych

Metody goniometryczne w badaniach materiałów monokrystalicznych. Metoda Lauego. Otrzymywanie obrazów dyfrakcji metodą Lauego - lauegramy. m. Symetria lauegramów. Metoda obracanego kryształu. Obrazy dyfrakcyjne w metodzie obracanego kryształu. Metoda kołysanego kryształu.

JasminFlorian
Download Presentation

Metody goniometryczne w badaniach materiałów monokrystalicznych

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. Metody goniometryczne w badaniach materiałów monokrystalicznych

  2. Metoda Lauego

  3. Otrzymywanie obrazów dyfrakcji metodą Lauego - lauegramy

  4. m Symetria lauegramów

  5. Metoda obracanego kryształu

  6. Obrazy dyfrakcyjne w metodzie obracanego kryształu

  7. Metoda kołysanego kryształu

  8. Goniometr czterokołowy - geometria Eulera

  9. Geometria Eulera Geometria kappa

  10. Dyfraktometr 4-kołowy

  11. Dyfraktometr wyposażony w detektor CCD

  12. Natężenie wiązki ugiętej I(h): gdzie: F(h) - czynnik struktury gdzie: fj - atomowy czynnik rozpraszania

  13. Problem fazowy w rozwiązywaniu struktury

  14. s(I) h k l I(hkl) -6 7 5 2342.12 67.36 1 -6 7 2 5716.85 102.91 1 -6 7 -1 852.69 47.97 1 -6 7 -4 3305.00 76.97 1 -6 7 -7 1369.84 62.54 1 -6 7 -10 216.07 59.88 1 -6 8 -8 599.79 64.20 1 -6 8 -5 847.04 58.49 1 x y z -6 8 -2 2995.21 79.58 1 Rb1 0 0 0 -6 8 1 580.38 49.22 1 S1 1/3 2/3 0.12 -6 8 4 2372.71 74.31 1 -6 8 7 1535.78 66.63 1 -6 8 10 -59.87 59.04 1 -6 9 6 516.55 57.91 1 -6 9 3 742.80 56.53 1 -6 9 0 2323.23 75.79 1 -6 9 -3 278.79 55.51 1 -6 9 -6 972.79 69.28 1 -6 10 -4 984.22 68.59 1 -6 10 -1 202.52 55.33 1 -6 10 2 1027.74 67.19 1 -6 10 5 534.20 61.30 1 -5 -5 6 99.75 60.81 1 -5 -5 3 609.84 63.35 1 -5 -5 0 2003.69 76.45 1 Zbiór danych: h, k, l, I(hkl), s(hkl) Metoda Pattersona Metody bezpośrednie Przybliżony model struktury Udokładnianie struktury metodą najmniejszych kwadratów Dokładny model struktury

  15. Udokładnianie struktury metodą najmniejszych kwadratów Wartości zmierzone Wartości obliczone na podstawie modelu struktury

  16. Wyniki badań strukturalnych RbHSO3 Układ krystalograficzny: heksagonalny Grupa przestrzenna: R 3m a 6.0008(4)A b 6.0008(4)A c 8.7974(8)A R 0.0164 wR2 0.0358 liczba refleksów 463 liczba parametrów 14 max/min resztkowe r +0.52/-0.71e/A3

  17. Ekstynkcja pierwotna Ekstynkcja wtórna Kryształyzbliźniaczone Efekt Renningerawielokrotnego wewnętrznego odbicia

  18. Badania materiałów polikrystalicznych

  19. Dyfrakcja na materiałach polikrystalicznych

  20. Metoda Debye'a-Scherrera-Hulla (DSH)

  21. Dyfraktometr rentgenowski do badań materiałów polikrystalicznych Schemat goniometru

  22. Dyfraktometr 2-kołowy do badań materiałów polikrystalicznych

  23. Przykładowy dyfraktogram proszkowy Al(NH4)SO4·12H2O

More Related